X射線衍射儀（XRD）是一種基于X射線與晶體材料相互作用原理的分析儀器，通過測量衍射角與衍射強度，獲得材料的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶粒尺寸、應(yīng)力狀態(tài)等信息。
制藥行業(yè)：藥物多晶型研究與質(zhì)量控制在制藥領(lǐng)域，藥物的晶型直接影響其溶解度、穩(wěn)定性和生物利用度。XRD可精確區(qū)分同一藥物的不同晶型（如阿司匹林的多晶型），確保藥物研發(fā)符合法規(guī)要求。此外，XRD用于原料藥和制劑的質(zhì)量控制，檢測晶型純度，防止無效或有害晶型的混入。近年來，原位XRD技術(shù)還被用于研究藥物在溫度、濕度變化下的晶型轉(zhuǎn)變，優(yōu)化制劑工藝。 評估固廢資源化可行性。桌面型X射線衍射儀應(yīng)用于石油勘探沉積巖中的礦物相分析
小型臺式多晶XRD衍射儀在殘余應(yīng)力測量方面的行業(yè)應(yīng)用雖受限于其精度和穿透深度，但在多個領(lǐng)域仍能發(fā)揮重要作用，尤其適合快速篩查、質(zhì)量控制和小型樣品分析。
制造業(yè)（金屬加工與機械部件）應(yīng)用場景：焊接殘余應(yīng)力
增材制造（3D打?。?yīng)用場景：金屬/陶瓷打印件的層間應(yīng)力分析，優(yōu)化打印參數(shù)（如激光功率、掃描速度）。檢測支撐結(jié)構(gòu)去除后的殘余應(yīng)力集中區(qū)域。挑戰(zhàn)：多孔或粗糙表面需拋光，可能引入額外應(yīng)力。各向異性材料需多方向測量。案例：鈦合金（Ti-6Al-4V）打印件的應(yīng)力分布與后熱處理工藝關(guān)聯(lián)性研究。 桌面型X射線衍射儀應(yīng)用于石油勘探沉積巖中的礦物相分析燃料電池電解質(zhì)相變追蹤。
小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在環(huán)境科學(xué)領(lǐng)域的污染物結(jié)晶相分析中發(fā)揮著關(guān)鍵作用，能夠準(zhǔn)確鑒定復(fù)雜環(huán)境介質(zhì)中的晶體污染物，為污染溯源、風(fēng)險評估和治理技術(shù)開發(fā)提供科學(xué)依據(jù)。
電子垃圾拆解區(qū)污染檢測發(fā)現(xiàn)：土壤中同時存在：SnO?（33.9°，來自焊料）Cu?O（36.4°，線路板腐蝕產(chǎn)物）BaSO?（25.2°，陰極射線管玻璃）溯源結(jié)論：三種特征相組合指向電子垃圾非法拆解。
酸礦排水治理治理前：黃鐵礦（FeS?，33.1°）+褐鐵礦（FeO(OH)，21.2°）治理后：新生相施氏礦物（Fe?O?(OH)?SO?，26.5°）效果評估：施氏礦物占比>70%表明治理成功。
小型臺式多晶XRD衍射儀在燃料電池電解質(zhì)材料晶體穩(wěn)定性分析中具有重要應(yīng)用價值，尤其適用于材料開發(fā)、工藝優(yōu)化和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。
相變行為分析氧化鋯基電解質(zhì)（YSZ）：監(jiān)測立方相（c）-四方相（t）轉(zhuǎn)變特征衍射峰對比：立方相：單峰（111）~30°四方相：分裂峰（111）~30°和（11-1）~30.2°（Cu靶）案例：3YSZ在800℃老化后的t相含量定量（Rietveld精修）（2）摻雜效應(yīng)研究GDC（Gd摻雜CeO?）：通過晶格參數(shù)變化評估固溶度計算公式：Δa/a? = k·r3（摻雜離子半徑效應(yīng)）典型數(shù)據(jù)：Gd2?Ce?.?O?-δ的a=5.419 ? vs CeO?的5.411 ?（3）熱循環(huán)測試原位變溫XRD分析：溫度范圍：RT-1000℃（需配備高溫附件）監(jiān)測指標(biāo)：熱膨脹系數(shù)（CTE）計算：α=(Δa/a?)/ΔT相變溫度確定（如LSGM在600℃的菱方-立方轉(zhuǎn)變）（4）界面反應(yīng)檢測電解質(zhì)/電極擴散層分析：特征雜質(zhì)相識別（如NiO-YSZ界面生成La?Zr?O?）半定量分析（檢出限~1wt%） 鑒別大氣顆粒物來源。
小型臺式多晶XRD衍射儀在殘余應(yīng)力測量方面的行業(yè)應(yīng)用雖受限于其精度和穿透深度，但在多個領(lǐng)域仍能發(fā)揮重要作用，尤其適合快速篩查、質(zhì)量控制和小型樣品分析。
地質(zhì)與礦業(yè)應(yīng)用場景：構(gòu)造應(yīng)力分析：巖石（如石英、方解石）的晶格應(yīng)變，推斷地質(zhì)歷史應(yīng)力場。礦物加工：破碎/研磨后礦物顆粒的微觀應(yīng)變，優(yōu)化選礦工藝。局限性：多相混合樣品需配合能譜（EDS）區(qū)分礦物相。低應(yīng)力（<50 MPa）可能被地質(zhì)背景噪聲掩蓋。案例：斷層泥中黏土礦物的應(yīng)力定向性分析，輔助地震機制研究。 監(jiān)測污水處理沉淀物。桌面型X射線衍射儀應(yīng)用于石油勘探沉積巖中的礦物相分析
分析封裝材料熱膨脹系數(shù)。桌面型X射線衍射儀應(yīng)用于石油勘探沉積巖中的礦物相分析
小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在復(fù)雜材料精細(xì)結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用雖然受限于其分辨率和光源強度，但通過優(yōu)化實驗設(shè)計和數(shù)據(jù)處理，仍可在多個行業(yè)發(fā)揮重要作用。
半導(dǎo)體與電子材料分析目標(biāo)：高k介電薄膜（如HfO?）的晶相（單斜/四方）與漏電流關(guān)系。外延層與襯底的晶格失配（應(yīng)變/弛豫）。挑戰(zhàn)：超薄膜（<100 nm）信號弱，襯底干擾強。解決方案：掠入射XRD（GI-XRD）：增強薄膜信號（需配備**光學(xué)系統(tǒng)）。倒易空間映射（RSM）：分析外延層缺陷（部分臺式設(shè)備支持）。案例：SiGe/Si異質(zhì)結(jié)的應(yīng)變弛豫度計算。 桌面型X射線衍射儀應(yīng)用于石油勘探沉積巖中的礦物相分析
