貴州傳感器線圈芯

仿真金屬目標(biāo)1024的渦電流，并且確定從那些渦電流產(chǎn)生的電磁場。在一些實施例中，金屬目標(biāo)1024中的感應(yīng)渦電流是通過原始邊界積分公式來計算的。金屬目標(biāo)1024通?？梢员唤楸〗饘倨?。通常，金屬目標(biāo)1024很薄，為35μm至70μm，而橫向尺寸通常以毫米進(jìn)行測量。如上文關(guān)于導(dǎo)線跡線所討論的，當(dāng)導(dǎo)體具有小于在特定工作頻率下磁場的穿透深度的大約兩倍的厚度時，感應(yīng)電流密度在整個層厚度上基本上是均勻的。因此，可以將金屬目標(biāo)1024的細(xì)導(dǎo)體建模為感應(yīng)渦電流與該表面相切的表面。傳感器線圈的線材選擇對其長期穩(wěn)定性至關(guān)重要。貴州傳感器線圈芯

    元啟發(fā)式優(yōu)化求解器往往很慢。因此，在一些實施例中，可以使用元啟發(fā)式全局搜索技術(shù)，例如遺傳算法或粒子群算法。在一些實施例中，可以在步驟1104和步驟1106中使用確定性算法，例如內(nèi)部點方法，或信任區(qū)域算法。具體地，由于用于接收線圈804和接收線圈806的初始設(shè)計可以是標(biāo)準(zhǔn)的正弦和余弦輪廓，并且所得到的優(yōu)化設(shè)計可能導(dǎo)致對初始設(shè)計的小的擾動，因此期望可以使用局部搜索方法來充分地查找導(dǎo)致佳設(shè)計的全局小值。優(yōu)化理論的基礎(chǔ)可以在例如以下中找到：，engineeringoptimization：theoryandpractice(工程優(yōu)化：理論與實踐)，johnwiley&sons，2009年。圖12示出算法712的另一個實施例。在步驟1202中提供的輸入與針對圖11的步驟1102所討論的輸入相同。在步驟1204中，自動生成提供大的對稱性并減小所需的空間的發(fā)射線圈(tx)。在圖13中示出可以得到的示例發(fā)射線圈，其中根據(jù)在跡線到跡線的距離和通孔尺寸(焊盤半徑)方面的pcb規(guī)范來計算跡線偏離1304。此外，通過交替的通孔定位1302可以減小空間。在圖12所示的算法712的實施例中，該算法調(diào)整正弦接收線圈，并且相對于經(jīng)修改的正弦接收線圈來定義余弦接收線圈。本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，代替修改正弦接收線圈。云南傳感器線圈直銷其它傳感器線圈，無錫東英電子有限公司。

    cad)系統(tǒng)例如以gerber格式提取現(xiàn)有的線圈設(shè)計。在一些實施例中，可以以gerber格式執(zhí)行算法700的步驟702或算法720的步驟722中的初始線圈設(shè)計的輸入。步驟710中的輸出設(shè)計也可以是gerber格式。gerber格式通常用在cad/cam系統(tǒng)中，以及用于表示印刷電路板設(shè)計的系統(tǒng)，并且可以從加利福尼亞州舊金山的ucamcousa獲得。這樣，可以從現(xiàn)有印刷電路板上提取現(xiàn)有設(shè)計，并在步驟722中將其提供給算法720以進(jìn)行驗證，或者在步驟702中將其提供給算法700。這樣，如上所述，可以在步驟724中執(zhí)行對現(xiàn)有設(shè)計的執(zhí)行，并且在步驟728中測量實際性能?？梢栽诓襟E730中比較仿真的響應(yīng)和測量到的響應(yīng)，并且在步驟732中驗證系統(tǒng)。如上所述，在步驟728中測量響應(yīng)可以包括從起點到終點以恒定的氣隙掃描金屬目標(biāo)?？梢允褂孟嗤膒cb設(shè)計、相同的氣隙和相同的目標(biāo)運行仿真。被稱為驗證過程的這個過程，對于理解仿真是否正確執(zhí)行以及仿真是否反映設(shè)計中存在的所有非理想性是非常重要的。一旦驗證了正確仿真pcb上發(fā)線圈的能力，便可以將現(xiàn)有設(shè)計輸入到算法700的步驟702，并以提高得到的位置定位系統(tǒng)的準(zhǔn)確性(例如，偏差和非線性)的方式進(jìn)行修改。

    該方法可以在圖7a的步驟704、步驟706、步驟708和步驟712所示的迭代算法中自動完成，并且在步驟704中使用仿真代碼和在步驟712中使用線圈設(shè)計代碼以收斂于優(yōu)設(shè)計。然后可以在eda工具的幫助下，將在步驟710中輸出的經(jīng)改進(jìn)的設(shè)計線圈印刷在pcb上?？梢砸耘c實現(xiàn)現(xiàn)有設(shè)計非常相同的方式來實現(xiàn)全新的設(shè)計。具體地，可以將新設(shè)計輸入到算法700的步驟702，并且可以執(zhí)行算法700以優(yōu)化線圈設(shè)計。然后可以將在算法700的步驟710中輸出的經(jīng)優(yōu)化的線圈設(shè)計輸入到算法720，并且可以實際產(chǎn)生該設(shè)計以進(jìn)行測試。如上所述，算法720然后可以驗證經(jīng)優(yōu)化的線圈設(shè)計的操作。算法700的步驟712中執(zhí)行的線圈設(shè)計工具可用于根據(jù)在步驟704中由仿真工具執(zhí)行的仿真，使用步驟712的線圈設(shè)計工具來設(shè)計pcb上的正弦和余弦的幾何形狀。如算法700所示的用于優(yōu)化線圈設(shè)計的迭代算法包括步驟704中的仿真工具和步驟712中的線圈設(shè)計工具。具體地，算法700在步驟706中計算小位置誤差，并且在步驟706、步驟708和步驟712中小化rx線圈的非理想性。利用在此優(yōu)化之后獲得的坐標(biāo)，可以使用商業(yè)eda工具印刷pcb，如步驟710所示。本發(fā)明的實施例可用于產(chǎn)生用于位置定位系統(tǒng)的線圈設(shè)計。換向傳感器線圈，無錫東英電子有限公司。

    利用在步驟1002中提供的其他參數(shù)來接收發(fā)射線圈的驅(qū)動電壓和操作頻率。一旦確定了來自發(fā)射線圈的電磁場，在步驟1008中就可以確定由于這些場而在金屬目標(biāo)中生成的渦電流。根據(jù)渦電流，可以仿真由目標(biāo)生成的磁場。在步驟1010中，確定由于由發(fā)射線圈生成的場和由金屬目標(biāo)中的感應(yīng)渦電流生成的場的組合而在接收器線圈中生成的電壓。在步驟1011中，針對目標(biāo)的現(xiàn)行位置再次執(zhí)行電感l(wèi)的計算，以評估l相對于步驟1003的結(jié)果的變化。在步驟1012中，存儲響應(yīng)數(shù)據(jù)以供將來參考。在步驟1014中，算法704進(jìn)行檢查以查看掃描是否已經(jīng)完成。如果未完成，則算法704進(jìn)行到步驟1018，在步驟1018處，金屬目標(biāo)的當(dāng)前位置遞增，然后進(jìn)行到步驟1004，在步驟1004處開始對該位置的仿真。如果掃描完成，則算法704進(jìn)行到步驟1016，在步驟1016處，仿真結(jié)束，并且算法返回到圖7a所示的算法700的步驟706。仿真和根據(jù)仿真對線圈的重新配置(在圖7a中，仿真步驟704、比較步驟706、決策步驟708和設(shè)計調(diào)整步驟712)應(yīng)足夠快，以在短時間段內(nèi)測試大量的線圈設(shè)計配置。在通過算法700獲得經(jīng)優(yōu)化的線圈設(shè)計之前，可以使用數(shù)百甚至數(shù)千次仿真。因此，存在一些模型簡化，這盡管基本上不影響仿真的準(zhǔn)確性。傳感器線圈報價，無錫東英電子有限公司?？照{(diào)傳感器線圈優(yōu)勢

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    對于16比特寄存器，fs為2e16-1＝65535。圖6示出通過上式確定的用fnl％fs表示的誤差。目標(biāo)是以盡可能佳的準(zhǔn)確性(例如，％fs或更小)產(chǎn)生位置感測。如果使用試錯法設(shè)計pcb上的線圈設(shè)計，則可獲得的佳準(zhǔn)確性為％fs-3％fs。在pcb上形成的傳感器中，有兩個接收器線圈和一個發(fā)射器線圈。測量位置的準(zhǔn)確性與線圈設(shè)計極為相關(guān)。pcb上的試錯線圈設(shè)計已經(jīng)經(jīng)驗性地嘗試解決這些問題。然而，這種簡化但不準(zhǔn)確的方法只能考慮有限的問題。所有這些過程都無法得到成功的設(shè)計，這是因為整個系統(tǒng)(線圈-目標(biāo)-跡線)要比容易解決的更復(fù)雜，并且，如果所得到的線圈設(shè)計將滿足期望的準(zhǔn)確性規(guī)范，則佳解決方案必須考慮更大量的參數(shù)。圖7a示出根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的用于提供準(zhǔn)確的位置定位系統(tǒng)的印刷電路板上的線圈設(shè)計的算法700?？梢栽诰哂凶銐虻挠嬎隳芰韴?zhí)行適當(dāng)?shù)姆抡娴挠嬎阆到y(tǒng)上執(zhí)行算法700。這樣的系統(tǒng)通常包括被耦合到存儲器的處理器。存儲器可以包括用于存儲數(shù)據(jù)和編程的易失性存儲器或非易失性存儲器二者。在一些情況下，可以使用固定存儲，例如硬盤驅(qū)動器。該系統(tǒng)將包括用戶接口，例如鍵盤、觸摸屏、視頻顯示器、指示設(shè)備或其他常見組件。該系統(tǒng)將能夠執(zhí)行這里描述的算法。貴州傳感器線圈芯