相城區(qū)質(zhì)量電子測(cè)量?jī)x器供應(yīng)商

光學(xué)經(jīng)緯儀和電子經(jīng)緯儀測(cè)量的原理和結(jié)構(gòu)上有所不同。如圖《光學(xué)經(jīng)緯儀和電子經(jīng)緯儀》所示，光學(xué)經(jīng)緯儀有以下部件組成：1、望遠(yuǎn)鏡，2、照準(zhǔn)部，3、度盤(pán),4、測(cè)微器系統(tǒng)，5、軸系,6、水準(zhǔn)器，7、基座及腳螺旋，8、光學(xué)對(duì)點(diǎn)器幾大部分組成； 電子經(jīng)緯儀有以下部件組成：1、望遠(yuǎn)鏡，2、照準(zhǔn)部，3、光柵盤(pán)或光學(xué)碼盤(pán),4、測(cè)微器系統(tǒng)，5、軸系,6、水準(zhǔn)器，7、基座及腳螺旋，8、光學(xué)對(duì)點(diǎn)器，9、讀數(shù)面板幾大部分組成。電子經(jīng)緯儀型號(hào)眾多，有相同的特點(diǎn)如下：1、儀器橫軸和豎軸采用相同的合金鋼制造的密珠式軸系，軸與軸套之間是螺旋形排列的滾珠，采用輕壓過(guò)盈配合。其間隙為零，它的誤差**是加工形狀誤差，因此這樣軸系具有精度高，溫度影響小，低溫轉(zhuǎn)動(dòng)靈活，抗震性能好，不易卡死，壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)，從而保證儀器的可靠性和穩(wěn)定性。例如：大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)、GPIB系統(tǒng)等。相城區(qū)質(zhì)量電子測(cè)量?jī)x器供應(yīng)商

3．鍵盤(pán)鍵盤(pán)是全站儀在測(cè)量時(shí)輸入操作指令或數(shù)據(jù)的硬件，全站型儀器的鍵盤(pán)和顯示屏均為雙面式，便于正、倒鏡作業(yè)時(shí)操作。4．存儲(chǔ)器全站儀存儲(chǔ)器的作用是將實(shí)時(shí)采集的測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)起來(lái)，再根據(jù)需要傳送到其它設(shè)備如計(jì)算機(jī)等中，供進(jìn)一步的處理或利用，全站儀的存儲(chǔ)器有內(nèi)存儲(chǔ)器和存儲(chǔ)卡兩種。全站儀內(nèi)存儲(chǔ)器相當(dāng)于計(jì)算機(jī)的內(nèi)存(RAM)，存儲(chǔ)卡是一種外存儲(chǔ)媒體，又稱(chēng)PC卡，作用相當(dāng)于計(jì)算機(jī)的磁盤(pán)。5．通訊接口全站儀可以通過(guò)BS—232C通訊接口和通訊電纜將內(nèi)存中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī)，或?qū)⒂?jì)算機(jī)中的數(shù)據(jù)和信息經(jīng)通訊電纜傳輸給全站儀，實(shí)現(xiàn)雙向信息傳輸。吳江區(qū)本地電子測(cè)量?jī)x器現(xiàn)貨電子測(cè)量通常使用的一種分類(lèi)方法，是將測(cè)量方法分為直接測(cè)量法、間接測(cè)量法和組合測(cè)量法三類(lèi)。

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)式馬達(dá)驅(qū)動(dòng)式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x一般可由游戲桿控制。它具有高測(cè)量精度、容易操作、且提供教導(dǎo)式測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。CNC式CNC式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x除了具有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)式的功能之外，還可自動(dòng)依照計(jì)算機(jī)所預(yù)先設(shè)定的程序執(zhí)行測(cè)量，甚至有些廠(chǎng)商出品的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x，也提供了自動(dòng)裝拆工件。CNC式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x除提供尺寸測(cè)量（點(diǎn)到點(diǎn)的測(cè)量）外，也可作曲面的輪廓測(cè)量（點(diǎn)到點(diǎn)的測(cè)量及掃瞄測(cè)量）。光學(xué)試測(cè)量：可避免接觸試測(cè)量中產(chǎn)品的變形和一些接觸試測(cè)量無(wú)法完成的工作， 產(chǎn)品有：二次元，三維激光抄數(shù)機(jī)等。 [1-2]

國(guó)內(nèi)電子計(jì)測(cè)技術(shù)及電子測(cè)量?jī)x器的發(fā)展迅速，遍及各行各業(yè)，***、電子計(jì)測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)理論研究：新的測(cè)試?yán)碚摵头椒ㄑ芯?、人工智能理論研究、頻率基溯源與標(biāo)準(zhǔn)器獲得方法研究、新型測(cè)控總線(xiàn)及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)研究、測(cè)量與儀器標(biāo)準(zhǔn)的研究與制定等都是今后在理論研究方面的重點(diǎn)。第二、電子計(jì)測(cè)技術(shù)的發(fā)展：發(fā)展較快的技術(shù)有先進(jìn)測(cè)控總線(xiàn)技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)、綜合測(cè)試與故障診斷新技術(shù)、光頻標(biāo)和精密時(shí)頻測(cè)試新技術(shù)等。第三、二類(lèi)重要電子測(cè)量?jī)x器：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個(gè)重要發(fā)展方向是構(gòu)建以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為**的自動(dòng)測(cè)量技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)；這類(lèi)儀器主要用來(lái)觀(guān)察和分析各種電信號(hào)的波形。

1、將指標(biāo)水準(zhǔn)器改為豎盤(pán)指標(biāo)自動(dòng)補(bǔ)償器，提高了豎直角的觀(guān)測(cè)速度與準(zhǔn)確性；2、軸系也有很大的改進(jìn)，使軸系變得輕便靈活，同時(shí)穩(wěn)定可靠；3、望遠(yuǎn)鏡也由倒像望遠(yuǎn)鏡改成了正像望遠(yuǎn)鏡；4、使用光柵盤(pán)或光學(xué)碼盤(pán)，用光電轉(zhuǎn)換元件接收信號(hào)，經(jīng)數(shù)據(jù)處理后實(shí)現(xiàn)水平角和豎直角讀數(shù)自動(dòng)顯示和記錄。 [1]決定電子經(jīng)緯儀精度的因素由于加工工藝等方面的原因，電子經(jīng)緯儀精度主要由下面的因素決定:1、成像誤差：望遠(yuǎn)鏡成像質(zhì)量包括望遠(yuǎn)鏡鑒別率和像差，望遠(yuǎn)鏡調(diào)焦時(shí)視軸變動(dòng)誤差；廣義上說(shuō)，凡利用電子技術(shù)為測(cè)量手段的電的或非電的各種測(cè)量，統(tǒng)稱(chēng)為電子測(cè)量。吳江區(qū)本地電子測(cè)量?jī)x器現(xiàn)貨

在深海、地下、高溫爐、核反應(yīng)堆、宇宙空間等處，可以利用無(wú)線(xiàn)信號(hào)、光、輻射等傳感方式進(jìn)行測(cè)量。相城區(qū)質(zhì)量電子測(cè)量?jī)x器供應(yīng)商

（2）設(shè)置大氣改正值或氣溫、氣壓值光在大氣中的傳播速度會(huì)隨大氣的溫度和氣壓而變化，15℃和760mmHg是儀器設(shè)置的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)值，此時(shí)的大氣改正為0ppm。實(shí)測(cè)時(shí)，可輸入溫度和氣壓值，全站儀會(huì)自動(dòng)計(jì)算大氣改正值（也可直接輸入大氣改正值），并對(duì)測(cè)距結(jié)果進(jìn)行改正。（3）量?jī)x器高、棱鏡高并輸入全站儀。（4）距離測(cè)量照準(zhǔn)目標(biāo)棱鏡中心，按測(cè)距鍵，距離測(cè)量開(kāi)始，測(cè)距完成時(shí)顯示斜距、平距、高差。全站儀的測(cè)距模式有精測(cè)模式、跟蹤模式、粗測(cè)模式三種。精測(cè)模式是**常用的測(cè)距模式，測(cè)量時(shí)間約2.5S，**小顯示單位1mm；跟蹤模式，常用于跟蹤移動(dòng)目標(biāo)或放樣時(shí)連續(xù)測(cè)距，**小顯示一般為1cm，每次測(cè)距時(shí)間約0.3S；粗測(cè)模式，測(cè)量時(shí)間約0.7S，**小顯示單位1cm或1mm。在距離測(cè)量或坐標(biāo)測(cè)量時(shí)，可按測(cè)距模式（MODE）鍵選擇不同的測(cè)距模式。相城區(qū)質(zhì)量電子測(cè)量?jī)x器供應(yīng)商

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