邏輯分析儀也是必不可少的。邏輯分析儀是利用時(shí)鐘從測試設(shè)備上采集和顯示數(shù)字信號的儀器,主要的作用在于時(shí)序判定。邏輯分析儀與示波器不同,它不能顯示連續(xù)的模擬量波形,而只顯示高低兩種電平狀態(tài)(邏輯1和0)。在設(shè)置了參考電壓后,邏輯分析儀將采集到的信號與電壓比較器比較,高于參考電壓的為邏輯1,低于參考電壓的為邏輯0。這樣就可以將被測信號以時(shí)間順序顯示為連續(xù)的高低電平波形,便于使用者進(jìn)行分析和調(diào)試。使用邏輯分析儀,可以方便地設(shè)置信號觸發(fā)條件開始采樣,分析多路信號的時(shí)序,捕獲信號的干擾毛刺,也可以按照規(guī)則對電平序列進(jìn)行解碼,完成通信協(xié)議分析。圖1邏輯分析儀根據(jù)其硬件設(shè)備的功能和復(fù)雜程度,主要分為式(單機(jī)型)邏輯分析儀和基于電腦(PC-Base)的虛擬邏輯分析儀兩大類。式邏輯分析儀是將所有的軟件,硬件整合在一臺(tái)儀器中,使用方便。虛擬邏輯分析儀則需要結(jié)合電腦使用,利用PC強(qiáng)大的計(jì)算和顯示功能,完成數(shù)據(jù)處理和顯示等工作。專業(yè)邏輯分析儀,通常具有數(shù)量眾多的采樣通道,超快的采樣速度和大容量的存儲(chǔ)深度,但昂貴的價(jià)格也不是個(gè)人所能承受的。作為工程師手頭常備的開發(fā)工具,目前有許多入門級的邏輯分析儀設(shè)計(jì)。SMI(MDIO)協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!上海UFS分析儀報(bào)價(jià)

同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。即使度個(gè)樣本符合觸發(fā)條件,邏輯分析儀也只觸發(fā)一次。例如,使用的問題是“如果不符合序列步驟中的條件會(huì)怎樣?”例如,有一個(gè)條件是“IfADDR=1000ThenTrigger”,那么如果當(dāng)前樣本是ADDR=2000,結(jié)果會(huì)怎樣?邏輯分析儀只采集下一樣本并試圖再次執(zhí)行此序列步驟。實(shí)際上,如果觸發(fā)條件是“ADDR=1000”,這相當(dāng)于“持續(xù)采集樣本直到找到條件為ADDR=1000的樣本”。因此,如果設(shè)置一個(gè)從不符合的觸發(fā)條件,邏輯分析器將不會(huì)觸發(fā)。當(dāng)符合序列步驟中的條件時(shí),使用“轉(zhuǎn)到”操作時(shí)下一步將執(zhí)行哪個(gè)序列步驟將會(huì)非常清楚,但是如果沒有使用“轉(zhuǎn)到”操作。則不可能知道執(zhí)行哪個(gè)序列步驟。在一些邏輯分析儀上,如果沒有“轉(zhuǎn)到”,這意味著應(yīng)當(dāng)執(zhí)行下一序列步驟。在其他邏輯分析儀上,意味著將再次執(zhí)行同一序列步驟。由于比較混亂,好使用“轉(zhuǎn)到”操作而不依靠默認(rèn)。狀態(tài)和定時(shí)模塊通過在每個(gè)序列步驟中自動(dòng)包含一個(gè)“轉(zhuǎn)到”或“觸發(fā)”操作來解決這一問題。例如:IfADDR=1000andDATA=2000thenGoto1布爾邏輯表達(dá)式:當(dāng)多個(gè)序列步驟表示“后跟”時(shí)。湖州I3C分析儀品牌USB PD,3.1, 3.0,2.0協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

系統(tǒng)的電流負(fù)載能力一般在幾個(gè)KΩ以上,分流效應(yīng)對系統(tǒng)的影響一般可以忽略,現(xiàn)在流行的幾種長邏輯分析儀探頭的阻抗一般在20~200KΩ之間。b、探頭的容性負(fù)載:容性負(fù)載就是探頭接入系統(tǒng)時(shí),探頭的等效電容,這個(gè)值一般在1~30PF之間,在高速系統(tǒng)中,容性負(fù)載對電路的影響遠(yuǎn)遠(yuǎn)于阻性負(fù)載,如果這個(gè)值太,將會(huì)直接影響整個(gè)系統(tǒng)中的信號"沿"的形狀改變整個(gè)電路的性質(zhì),改變邏輯分析儀對系統(tǒng)觀測的實(shí)時(shí)性,導(dǎo)致我們看到的并不是系統(tǒng)原有的特性。c、探頭的易用性:是指探頭接入系統(tǒng)時(shí)的難易程度,隨著芯片封裝的密度越來越高,出現(xiàn)了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各種各樣的封裝形式,IC的腳間距小的已達(dá)到,要很好的將信號引出,特別是BGA封裝,確實(shí)有困難,并且分立器件的尺寸也越來越小,典型的已達(dá)到×。d、與現(xiàn)有電路板上的調(diào)試部分的兼容性。6、系統(tǒng)的開放性:隨著數(shù)據(jù)共享的呼聲越來越高,我們所使用的系統(tǒng)的開放性就越來越重要,邏輯分析儀的操作系統(tǒng)也由過去的系統(tǒng)發(fā)展到使用Windows介面,這樣我們在使用時(shí)很方便。小結(jié)如果在你的工作中有數(shù)字邏輯信號,你就有機(jī)會(huì)使用邏輯分析儀。因此應(yīng)選好一種邏輯分析儀,既符合所用的功能,又不太超越所需的功能。
請勿混淆時(shí)鐘通道C2與SlotC中的Pod2,后者記作PodC2。對于時(shí)鐘通道,C是Clock的縮寫,不是SlotC的縮寫。為什么有時(shí)Pod會(huì)丟失?導(dǎo)致所有Pod對邏輯分析儀模塊均不可用的原因有多種:在狀態(tài)采樣模式中,在選擇了一般狀態(tài)模式采樣選項(xiàng)的情況下,選擇采集內(nèi)存深度需要將一個(gè)Pod對保留用于時(shí)間標(biāo)簽存儲(chǔ)。在這種情況下。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器。I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。將內(nèi)存深度設(shè)置為值的一半(或更小)將返回Pod。在狀態(tài)采樣模式中,在選擇了高速狀態(tài)模式采樣選項(xiàng)的情況下,會(huì)將一個(gè)Pod對保留用于時(shí)間標(biāo)簽存儲(chǔ)。在定時(shí)采樣模式中,在選擇了跳變/存儲(chǔ)限定定時(shí)模式采樣選項(xiàng)的情況下:選擇了小采樣周期時(shí)。LLI協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。通過在整個(gè)信號活動(dòng)信封內(nèi)執(zhí)行全時(shí)掃描,眼定位可以顯示在時(shí)間和電壓的小窗口中檢測到的轉(zhuǎn)變。這些掃描稱為眼圖掃描(eyescan)。像示波器一樣,眼圖掃描用于顯示測量數(shù)據(jù)。每個(gè)窗口中的轉(zhuǎn)變數(shù)量都會(huì)突出顯示。這可以使概覽眼型圖案,并確定是否需要使用示波器來進(jìn)一步詳細(xì)地查看信號。圖19眼圖掃描可以運(yùn)行導(dǎo)致自動(dòng)設(shè)置閾電壓和采樣位置的eyescan,或運(yùn)行只導(dǎo)致自動(dòng)設(shè)置采樣位置的eyescan。眼定位測量收集數(shù)據(jù)所基于的通道數(shù)量會(huì)影響測量時(shí)間。當(dāng)一個(gè)模塊中存在多個(gè)邏輯分析儀卡時(shí)將出現(xiàn)異常;在這種情況下,測量將同時(shí)并行運(yùn)行。支持差分信號的邏輯分析儀中的眼圖掃描EyeScan:支持差分信號的邏輯分析儀(如16962A邏輯分析儀模塊)針對輸入使用真值差分接收器:可編程參考電壓將計(jì)入負(fù)輸入。這是分析儀采用單端探頭時(shí)的閾電壓。對于差分探測的相關(guān)操作,通常將參考電壓編寫為0V:隨后將接收器的輸出與0V進(jìn)行比較,從差分輸入信號產(chǎn)生內(nèi)部邏輯信號。請注意。eMMC協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!北京SD分析儀收費(fèi)
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如果在時(shí)鐘沿檢測器重置之前出現(xiàn)第二個(gè)時(shí)鐘沿(在個(gè)時(shí)鐘沿后),為避免數(shù)據(jù)丟失需要兩個(gè)樣本。在跳變定時(shí)中,每個(gè)序列步驟只有2個(gè)分支。在跳變時(shí)序中,只有一個(gè)全局計(jì)數(shù)器可用。跳變時(shí)序需要有時(shí)間標(biāo)簽才能重建數(shù)據(jù)。通過將時(shí)間標(biāo)簽與內(nèi)存中的測量數(shù)據(jù)交叉可存儲(chǔ)時(shí)間標(biāo)簽。默認(rèn)情況下,分析儀將查找為邏輯分析儀模塊定義的所有總線/信號上的轉(zhuǎn)變。但是,為增加可用內(nèi)存深度和采集時(shí)間,可以在高級觸發(fā)中選擇不存儲(chǔ)某些總線/信號轉(zhuǎn)變(如將無用信息添加到測量中的時(shí)鐘或選沖信號)。運(yùn)行測量時(shí),無論總線/信號是否定義或是否分配給邏輯分析儀通道,都將在所有這些通道上采集數(shù)據(jù)。在跳變時(shí)序模式中,如果定義的總線/信號(未排除的)上存在轉(zhuǎn)變,將保存采集的樣本。運(yùn)行跳變時(shí)序測量后,如果為以前未分配的邏輯分析儀通道定義新的總線/信號,那么將顯示在這些通道上采集的數(shù)據(jù),但是不可能存儲(chǔ)這些總線/信號上的所有轉(zhuǎn)變;顯示的數(shù)據(jù)好似新的總線/信號在運(yùn)行測量前就已經(jīng)被排除了。在跳變時(shí)序中,不需要預(yù)先存儲(chǔ)數(shù)據(jù)(觸發(fā)前獲得的樣本)。因此,與狀態(tài)模式非常相似的是,觸發(fā)位置(起始/中心/結(jié)束)表明觸發(fā)后樣本占用內(nèi)存的百分比。上海UFS分析儀報(bào)價(jià)
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