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      首頁 >  儀器儀表 >  梅州SD協(xié)議分析儀那家好「深圳市歐奧電子科技供應(yīng)」

      協(xié)議分析儀基本參數(shù)
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      • 歐奧電子
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      • 定制
      協(xié)議分析儀企業(yè)商機

      以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。除非已在觸發(fā)序列中使用了它們。一般情況下,如果可能的話,應(yīng)使用發(fā)生計數(shù)器代替全局計數(shù)器,原因是發(fā)生計數(shù)器的用法比較簡單,而且全局計數(shù)器的數(shù)量有限。定時器:定時器用于檢查事件之間消耗的時間。例如,如果想在出現(xiàn)一個時鐘沿后的500ns內(nèi)出現(xiàn)另一個時鐘沿的情況下引發(fā)觸發(fā),請使用定時器。使用定時器時要記住的關(guān)鍵一點是:先啟動定時器,然后再對其進(jìn)行測試。換句話說,定時器無法自動啟動。設(shè)置定時器的關(guān)鍵是確定在何種情況下進(jìn)行啟動和測試。存儲限定:存儲限定用于確定應(yīng)該存儲(即,存入內(nèi)存)還是丟棄已獲得的樣本。這可以避免不需要的樣本占用邏輯分析儀內(nèi)存。設(shè)置存儲限定簡單的方法是設(shè)置“默認(rèn)存儲”。默認(rèn)存儲表示“如果未經(jīng)序列步驟指定,則進(jìn)行存儲”。例如,可能只想在ADDR的范圍為1000到2000時存儲樣本,那么就應(yīng)將“默認(rèn)存儲”設(shè)置為:ADDRInRange1000to2000默認(rèn)情況下,“默認(rèn)存儲”設(shè)置為存儲所有已獲得的樣本。也可以將“默認(rèn)存儲”設(shè)置為不存儲任何樣本,這意味著除非某序列步驟覆蓋該默認(rèn)存儲,否則將不存儲任何樣本。SDIO邏輯分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!梅州SD協(xié)議分析儀那家好

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      終比較結(jié)果將對“差分信號高于Vref還是低于Vref?”的問題作出解答:對眼隙的eyescan測量是通過使用不同Vref設(shè)置進(jìn)行一系列eyefinder測量完成的。差分信號的默認(rèn)eyefinder測量使用Vref=0V。通過將Vref增至零以上。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時,歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號。如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。我們會找到信號與上升的Vref值交叉的位置。如果Vref升至足夠高,信號的頂部軌跡將通過Vref,我們便會看到眼的頂端。再將Vref升高一點會導(dǎo)致Vcomp保持在Vlo,表示信號不會升至該電之,將Vref移至零以下會看到眼的下半部。eyescan/eyefinder顯示窗口會在每個信號的eyescan圖下方顯示eyefinder交疊部分,以此顯示eyefinder與eyescan之間的這一關(guān)系。長沙SD協(xié)議分析儀分析儀廠家哪家好?歐奧電子好!

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      邏輯分析儀基礎(chǔ)邏輯分析儀是一種類似于示波器的波形測試設(shè)備,它可以監(jiān)測硬件電路工作時的邏輯電平(高或低),并加以存儲,用圖形的方式直觀地表達(dá)出來,便于用戶檢測和分析電路設(shè)計(硬件設(shè)計和軟件設(shè)計)中的錯誤。邏輯分析儀是設(shè)計中不可缺少的電子測試設(shè)備,通過它可以迅速地定位錯誤、解決問題、達(dá)到事半功倍的效果。一、邏輯分析儀的產(chǎn)生和發(fā)展20世紀(jì)70年代初研制出微處理器,出現(xiàn)4位和8位總線,傳統(tǒng)示波器的雙通道輸入無法滿足8bit的觀察。微處理器和存儲器的測試需要不同于時域和頻域儀器,所以數(shù)域測試儀器應(yīng)運而生。當(dāng)時的HP公司推出狀態(tài)分析儀和Biomation公司推出定時分析儀(兩者初很不相同)之后不久,用戶開始接受這種數(shù)域測試儀器作為終解決數(shù)字電路測試的手段,不久狀態(tài)分析儀與定時分析儀合并成邏輯分析儀。20世紀(jì)80年代后期,邏輯分析儀變得更加復(fù)雜,使用起來也更加困難。例如,引入多電平樹形觸發(fā),以應(yīng)付條件語句如IF、THEN、ELSE等復(fù)雜事件。這類組合觸發(fā)必然更加靈活,同時對大多數(shù)用戶來說就不是那樣容易掌握了。邏輯分析儀的基本發(fā)展趨勢是計算機與儀器的不斷融合。在PC機平臺上使用Windows,只要給定正確的軟件和相關(guān)工具。

      整體功能雖然不能和專業(yè)儀器相比,但是用較低的成本來實現(xiàn)特定的功能,也是非常成功的設(shè)計。本文以下討論的邏輯分析儀,主要是指這類入門級設(shè)計。基于電腦并口的邏輯分析儀曾是主流,但是近年來電腦系統(tǒng)逐步不再配置并口,這類設(shè)計已經(jīng)成為明日黃花,還具有原理學(xué)習(xí)的價值。另一類的邏輯分析儀,是以低速單片機為基礎(chǔ)的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機設(shè)計了自己的作品。但這類單片機邏輯分析儀的共同弱點就是采樣速度太慢,通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎(chǔ)的入門級邏輯分析儀現(xiàn)在為流行。比如Saleaelogic,還有類似的USBee等。這類產(chǎn)品主要采用一個USBIO芯片,例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC,所有的信號觸發(fā)和處理工作都是電腦上的軟件完成的,硬件部分就只是一個數(shù)據(jù)記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數(shù)量”地采樣,因為所有的數(shù)據(jù)都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個通道,更多的通道數(shù)量會成比例地降低高采樣速度。這類產(chǎn)品構(gòu)造簡單,方便易用,價格便宜,是調(diào)試單片機開發(fā)工作的好工具。它的缺點主要是采樣速度只有24MHz、8個通道,對于分析高速并行總線就不能勝任了。更進(jìn)一步的設(shè)計,需要增加FPGA、SRAM等器件。SDIO邏輯分析儀/訓(xùn)練器廠家只找歐奧,服務(wù)好!

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      UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時,歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。比較幀類型:可自行選擇;5、數(shù)據(jù):可輸入對應(yīng)幀類型數(shù)據(jù)的十進(jìn)制,十六進(jìn)制,八進(jìn)制。設(shè)置效果如圖6所示:圖6幀查找屬性設(shè)置七、解碼數(shù)據(jù)準(zhǔn)確定位完成設(shè)置,則可以通過查找具體的查找類型進(jìn)行顯示,效果如圖7所示:圖7查找結(jié)果顯示此次查找共有68個查找結(jié)果,可通過如下操作觀測每一個查找結(jié)果,效果如圖8所示:圖8查找結(jié)果數(shù)據(jù)分析ZLG致遠(yuǎn)電子邏輯分析儀具有超大容量存儲、智能過濾存儲、高保真不間斷實時記錄、高效的協(xié)議分析平臺、觸發(fā)搜索多樣化、靈活的參數(shù)測量,能夠定位系統(tǒng)運行出錯時的特定波形數(shù)據(jù)。針對數(shù)字電路的開發(fā)和測試人員可以用邏輯分析儀對電路進(jìn)行精確的狀態(tài)或時序分析,以檢測分析電路設(shè)計中的錯誤,從而迅速定位。歐奧訓(xùn)練器是眾多客戶明智的選擇!上海UFS協(xié)議分析儀品牌

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      因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型:直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載:探頭看起來象一個對地的直流負(fù)載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個負(fù)載可能會導(dǎo)致邏輯錯誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定,這個電阻阻值越,直流負(fù)載越小,阻值越小,直流負(fù)載越。交流負(fù)載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面:探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號反射的原因是4個方面:探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);探頭和目標(biāo)間連線的長度。對于交流負(fù)載,我們需要考慮:探測點在傳輸線的位置,總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。梅州SD協(xié)議分析儀那家好

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