整體功能雖然不能和專業(yè)儀器相比,但是用較低的成本來實現(xiàn)特定的功能,也是非常成功的設計。本文以下討論的邏輯分析儀,主要是指這類入門級設計。基于電腦并口的邏輯分析儀曾是主流,但是近年來電腦系統(tǒng)逐步不再配置并口,這類設計已經(jīng)成為明日黃花,還具有原理學習的價值。另一類的邏輯分析儀,是以低速單片機為基礎的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機設計了自己的作品。但這類單片機邏輯分析儀的共同弱點就是采樣速度太慢,通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎的入門級邏輯分析儀現(xiàn)在為流行。比如Saleaelogic,還有類似的USBee等。這類產(chǎn)品主要采用一個USBIO芯片,例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC,所有的信號觸發(fā)和處理工作都是電腦上的軟件完成的,硬件部分就只是一個數(shù)據(jù)記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數(shù)量”地采樣,因為所有的數(shù)據(jù)都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個通道,更多的通道數(shù)量會成比例地降低高采樣速度。這類產(chǎn)品構造簡單,方便易用,價格便宜,是調(diào)試單片機開發(fā)工作的好工具。它的缺點主要是采樣速度只有24MHz、8個通道,對于分析高速并行總線就不能勝任了。更進一步的設計,需要增加FPGA、SRAM等器件。RFFE協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧!汕尾SDIO協(xié)議分析儀價格

同時還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓練器,I3C協(xié)議分析儀及訓練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時,歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務。觸發(fā)前獲得/顯示的樣本數(shù)量在不同的測量中會有所變化。狀態(tài)分析狀態(tài)分析儀需要來自被測設備的采樣時鐘信號。這種類型的時鐘計時可使邏輯分析儀中的數(shù)據(jù)采樣與被測設備中的計時事件同步。具體來講:狀態(tài)分析儀適用于顯示“有效時鐘或控制信號”期間的信號活動是“什么”。狀態(tài)分析儀側重于查看指定執(zhí)行時間內(nèi)的信號活動,而不是與時序無關的信號活動。這就是為什么狀態(tài)分析儀需要對與被測設備時鐘信號“同步化”或同步的數(shù)據(jù)進行采樣。對于微處理器,數(shù)據(jù)和地址可以出現(xiàn)在相同的信號線上。要采集正確的數(shù)據(jù),邏輯分析儀必須對數(shù)據(jù)采樣加以限制,使之只在所需的數(shù)據(jù)有效并出現(xiàn)在信號線上時進行。為此,它會從相同的信號線上采集數(shù)據(jù)樣本,但使用來自被測設備的不同采樣時鐘。示例:以下時序圖表明。寧波I2C/SPI協(xié)議分析儀廠家USB PD,3.1, 3.0,2.0協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧!

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才能符合此表達式。換句話說,在ADDR等于1000的同時DATA等于2000。因此,如果要在同時發(fā)生兩個事件時觸發(fā),則應使用布爾邏輯表達式。常見錯誤是應使用布爾邏輯表達式時嘗試使用兩個序列步驟,或者應使用兩個序列步驟時嘗試使用布爾邏輯表達式。當多個事件同時發(fā)生時使用布爾邏輯表達式,而在一個事件接著一個事件發(fā)生時使用多個序列步驟。分支:分支類似于C編程語言中的Switch語句和Basic中的SelectCase語句。分支可提供測試多個sADDR”。多數(shù)邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式,因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR標志:標志是用于從一個模塊向另一個模塊發(fā)送信號的布爾變量。當某種情況在某一模塊中發(fā)生而稍后被另一模塊測試時可以設置標志。在下面的示例中,標志1用于跟蹤在模塊1的觸發(fā)序列中發(fā)生的情況,如,如果想在ADDR=1000第5次出現(xiàn)時觸發(fā),可以將觸發(fā)設置為:IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計數(shù)器類似于整數(shù)變量。全局計數(shù)器比發(fā)生計數(shù)器更靈活,因為它們可用于為復雜事件(例如一個時鐘沿后跟另一時鐘沿的事件)計數(shù)。可以增加、測試和重新設置全局計數(shù)器。默認情況下,全局計數(shù)器以零開頭并且不需要重新設置。LLI協(xié)議分析儀/訓練器找歐奧!

因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型:直流負載和交流負載。直流負載:探頭看起來象一個對地的直流負載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定,這個電阻阻值越,直流負載越小,阻值越小,直流負載越。交流負載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面:探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面:探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓撲結構;探頭和目標間連線的長度。對于交流負載,我們需要考慮:探測點在傳輸線的位置,總線的拓撲結構和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。UFS邏輯分析儀/訓練器找歐奧!寧波I2C/SPI協(xié)議分析儀廠家
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