晶圓缺陷檢測設(shè)備的原理是什么？

岱美儀器技術(shù)服務(wù)2023-05-29

晶圓缺陷檢測設(shè)備主要采用光學(xué)或激光技術(shù)進行檢測。通過對晶圓表面進行掃描或照射，利用反射或散射的光線進行檢測，從而檢測出晶圓表面的各種缺陷。如有采購晶圓缺陷檢測設(shè)備需求，請聯(lián)系我們，了解我們?nèi)绾伍_始與您之間的合作，實現(xiàn)您的企業(yè)或者組織機構(gòu)長期發(fā)展的目標(biāo)！

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