江陰市希瑞電子有限公司2025-12-20
可以!希瑞膜厚儀采用接觸式測試原理,能有效檢測硅片上每個點的厚度值,測量精度達(dá)±0.5μm,分辨率0.1μm,適配半導(dǎo)體硅片制造中的厚度檢測需求,數(shù)據(jù)精確可靠。
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