殘余應(yīng)力不同測(cè)試的方法優(yōu)缺點(diǎn)分別是什么？

1. X射線衍射法 優(yōu)點(diǎn)： 無損與高精度：它是測(cè)量第I類應(yīng)力（微觀應(yīng)力）? 的**方法，直接測(cè)量晶格應(yīng)變，結(jié)果非?？煽?。 空間分辨率高：光斑可以很小，能測(cè)量微小區(qū)域（如焊點(diǎn)、單個(gè)晶粒）的應(yīng)力。 缺點(diǎn)： 測(cè)量深度淺是比較大局限：X射線穿透能力弱，只能反映表面信息。對(duì)于有梯度的情況，需要結(jié)合電解拋光逐層剝離，但這會(huì)破壞樣品。 表面要求苛刻：粗糙度、油污、輕微氧化層都會(huì)嚴(yán)重影響結(jié)果，通常需要電解拋光以獲得干凈表面，這本身會(huì)輕微改變表面應(yīng)力。 2. 中子衍射法 優(yōu)點(diǎn)： ***的內(nèi)部探測(cè)能力：中子強(qiáng)大的穿透力使其成為***能無損測(cè)量厘米級(jí)金屬部件內(nèi)部三維殘余應(yīng)力的方法，無可替代。 缺點(diǎn)： 成本與可及性是致命傷：中子源如同**大科學(xué)裝置，測(cè)試費(fèi)用高昂，需要排隊(duì)申請(qǐng)，通常只用于前沿科學(xué)研究，無法用于工業(yè)質(zhì)量控制。 3. 盲孔法 優(yōu)點(diǎn)： 工業(yè)實(shí)用性極強(qiáng)：設(shè)備可以帶到現(xiàn)場(chǎng)對(duì)大型結(jié)構(gòu)（如橋梁、船舶、壓力容器）進(jìn)行測(cè)量，這是它比較大的價(jià)值。 成本效益高：相對(duì)于XRD和中子衍射，設(shè)備投入和測(cè)試成本低很多。 缺點(diǎn)： 微損傷性：鉆孔畢竟造成了物理損傷，在某些對(duì)完整性要求極高的領(lǐng)域（如航空航天關(guān)鍵部件）可能不被接受。 理論假設(shè)引入不確定性：計(jì)算基于均勻、連續(xù)、各向同性的線彈性理論，而實(shí)際材料可能存在塑性變形，導(dǎo)致誤差。 4. 超聲法 優(yōu)點(diǎn)： 快速和深穿透：適合對(duì)板材、棒材的整體應(yīng)力水平進(jìn)行快速評(píng)估。 缺點(diǎn)： 精度低，干擾多：晶粒尺寸、取向、缺陷等對(duì)聲速的影響往往比應(yīng)力更大，導(dǎo)致信噪比低，難以進(jìn)行精確的定量分析。 5. 磁巴克豪森噪聲法 優(yōu)點(diǎn)： 快速靈敏：幾分鐘內(nèi)即可對(duì)表面應(yīng)力狀態(tài)（如磨削燒傷）做出判斷，非常適合生產(chǎn)線上100%的快速篩查。 缺點(diǎn)： 特異性強(qiáng)是雙刃劍：只能用于鋼鐵等鐵磁材料，且測(cè)量結(jié)果受材料硬度、組織狀態(tài)影響極大，必須用與待測(cè)樣品完全相同的材料進(jìn)行校準(zhǔn)，否則結(jié)果不可信。 6. 切割/剝層法 優(yōu)點(diǎn)： 直接可靠：方法直接，能清晰地展示出應(yīng)力沿層深的分布情況。 缺點(diǎn)： 徹底破壞樣品：這意味著它只能用于工藝驗(yàn)證或失效分析，無法用于成品檢驗(yàn)。