企業(yè)知道
搜索
深圳市力恩科技有限公司2024-04-02
在MIPI眼圖測試中，常見的問題包括串?dāng)_、時(shí)鐘偏移、信號(hào)抖動(dòng)等，這些問題可能影響移動(dòng)設(shè)備和嵌入式系統(tǒng)中的高速串行數(shù)據(jù)傳輸。
本回答由 深圳市力恩科技有限公司 提供
數(shù)據(jù)中心設(shè)備的SI適配測試，重點(diǎn)關(guān)注哪些接口？
已有 1 條回答車載電子的SI適配測試，與消費(fèi)電子有哪些重點(diǎn)差異？
已有 1 條回答DDR4 測試中常用的仿真工具是什么？仿真與實(shí)測的關(guān)系是什么
已有 1 條回答DDR4 測試需要哪些重點(diǎn)設(shè)備？各設(shè)備的選型要點(diǎn)是什么？
已有 1 條回答S 參數(shù)的測試數(shù)據(jù)如何導(dǎo)出和分析？常用的數(shù)據(jù)分析軟件有哪些？
已有 1 條回答測試時(shí)只關(guān)注眼高和眼寬，忽略抖動(dòng)，可能會(huì)導(dǎo)致什么問題？
已有 1 條回答深圳市力恩科技有限公司
聯(lián)系人： 劉生
手 機(jī)： 13590223720
網(wǎng) 址： https://www.claudelab.com/
