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為什么有些芯片需要多次測(cè)試？

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杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-04

芯片需要多次測(cè)試。不同階段（晶圓、封裝、成品）的測(cè)試目標(biāo)不同，需逐層篩選。

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簡介：高性能半導(dǎo)體/電子測(cè)試系統(tǒng)提供商，為芯片/新能源/LED/醫(yī)療等領(lǐng)域提供測(cè)試解決方案與產(chǎn)品

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