虹口區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器私人定做

轉(zhuǎn)換時間轉(zhuǎn)換時間是指A/D轉(zhuǎn)換器從轉(zhuǎn)換控制信號到來開始，到輸出端得到穩(wěn)定的數(shù)字信號所經(jīng)過的時間 [7]。不同類型的轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換速度相差甚遠。其中并行比較A/D轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換速度比較高，8位二進制輸出的單片集成A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換時間可達到50ns以內(nèi)，逐次比較型A/D轉(zhuǎn)換器次之，它們多數(shù)轉(zhuǎn)換時間在10-50μs以內(nèi)。間接A/D轉(zhuǎn)換器的速度**慢，如雙積分A/D轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換時間大都在幾十毫秒至幾百毫秒之間。在實際應(yīng)用中，應(yīng)從系統(tǒng)數(shù)據(jù)總的位數(shù)、精度要求、輸入模擬信號的范圍以及輸入信號極性等方面綜合考慮A/D轉(zhuǎn)換器的選用 [7]。由于工作溫度會對運算放大器加權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)等產(chǎn)生影響，所以只有在一定的工作范圍內(nèi)才能保證額定精度指標。虹口區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器私人定做

N比特電阻分壓型DAC需要2N個電阻，電流舵DAC則需要2N-1個電流單元。電阻分壓型數(shù)模轉(zhuǎn)換器利用電阻對基準電壓VREF分壓產(chǎn)生1LSB的電壓，I LSB=VREF/2N，電流舵DAC由單位電流IO流過電阻負載RL產(chǎn)生的壓降IO*RL產(chǎn)生1LSB的電壓，所以電流舵DAC中的IO和位數(shù)以及RL的大小決定了VouT的幅度，VouT=(2N- I ) *RL*IO 。很明顯，圖5的兩種數(shù)模轉(zhuǎn)換器的輸出電壓特性均為單調(diào)性的。兩種數(shù)模轉(zhuǎn)換器的微分非線性誤差(DNL)均由單個器件的精度所決定，所以DNL會比較小，假設(shè)單元電流IO的標準偏差(Standard Deviation)為σ(I)，則DNL大小為σ(I)/IO，而INL和流到RL上的單元電流個數(shù)n有關(guān)，INL大小為n1/2* σ(I)/IO寶山區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器性價比權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)DAC的轉(zhuǎn)換精度取決于基準電壓VREF，以及模擬電子開關(guān)、運算放大器和各權(quán)電阻值的精度。

2.主要的輸出選項是CMOS(互補金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令)，以及CML(電流模式邏輯) [2]。3.要考慮的問題包括：功耗、瞬變、數(shù)據(jù)與時鐘的變形，以及對噪聲的抑制能力 [2]。4.對于布局的考慮也是轉(zhuǎn)換輸出選擇中的一個方面，尤其當采用LVDS技術(shù)時。 當設(shè)計者有多種ADC選擇時，他們必須考慮采用哪種類型的數(shù)字數(shù)據(jù)輸出：CMOS(互補金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令)，還是CML(電流模式邏輯)。ADC中所采用的每種數(shù)字輸出類型都各有優(yōu)缺點，設(shè)計者應(yīng)結(jié)合自己的應(yīng)用來考慮。這些因素取決于ADC的采樣速率與分辨率、輸出數(shù)據(jù)速率，以及系統(tǒng)設(shè)計的功率要求，等等 [2]。

轉(zhuǎn)換精度1、分辨率A/D轉(zhuǎn)換器的分辨率以輸出二進制（或十進制）數(shù)的位數(shù)來表示。它說明A/D轉(zhuǎn)換器對輸入信號的分辨能力。從理論上講，n位輸出的A/D轉(zhuǎn)換器能區(qū)分2n個不同等級的輸入模擬電壓，能區(qū)分輸入電壓的**小值為滿量程輸入的1/2n。在比較大輸入電壓一定時，輸出位數(shù)愈多，分辨率愈高。例如A/D轉(zhuǎn)換器輸出為8位二進制數(shù)，輸入信號比較大值為5V，那么這個轉(zhuǎn)換器應(yīng)能區(qū)分出輸入信號的**小電壓為19.53mV [6]。2、轉(zhuǎn)換誤差轉(zhuǎn)換誤差通常是以輸出誤差的比較大值形式給出。它表示A/D轉(zhuǎn)換器實際輸出的數(shù)字量和理論上的輸出數(shù)字量之間的差別。常用比較低有效位的倍數(shù)表示。例如給出相對誤差不大于±LSB/2，這就表明實際輸出的數(shù)字量和理論上應(yīng)得到的輸出數(shù)字量之間的誤差小于比較低位的半個字 [6]。儀表促進了更快的ADC速度和更多的通道數(shù)與密度，設(shè)計者必須評估轉(zhuǎn)換器的輸出格式，以及基本的轉(zhuǎn)換性能。

間接ADC是先將輸入模擬電壓轉(zhuǎn)換成時間或頻率，然后再把這些中間量轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，常用的有中間量是時間的雙積分型ADC [5]。并聯(lián)比較型ADC：由于并聯(lián)比較型ADC采用各量級同時并行比較，各位輸出碼也是同時并行產(chǎn)生，所以轉(zhuǎn)換速度快是它的突出優(yōu)點，同時轉(zhuǎn)換速度與輸出碼位的多少無關(guān)。并聯(lián)比較型ADC的缺點是成本高、功耗大。因為n位輸出的ADC，需要2n個電阻，（2n－1）個比較器和D觸發(fā)器，以及復(fù)雜的編碼網(wǎng)絡(luò)，其元件數(shù)量隨位數(shù)的增加，以幾何級數(shù)上升。所以這種ADC適用于要求高速、低分辯率的場合 [5]。通常把滿量程電壓變化的百分數(shù)與電源電壓變化的百分數(shù)之比稱為電源抑制比。寶山區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器性價比

D/A轉(zhuǎn)換器由數(shù)碼寄存器、模擬電子開關(guān)電路、解碼網(wǎng)絡(luò)、求和電路及基準電壓幾部分組成。虹口區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器私人定做

工作溫度范圍一般情況下，影響D/A轉(zhuǎn)換精度的主要環(huán)境和工作條件因素是溫度和電源電壓變化。由于工作溫度會對運算放大器加權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)等產(chǎn)生影響，所以只有在一定的工作范圍內(nèi)才能保證額定精度指標。較好的D/A轉(zhuǎn)換器的工作溫度范圍在-40℃～85℃之間，較差的D/A轉(zhuǎn)換器的工作溫度范圍在0℃～70℃之間。多數(shù)器件其靜、動態(tài)指標均在25℃的工作溫度下測得的，工作溫度對各項精度指標的影響用溫度系數(shù)來描述，如失調(diào)溫度系數(shù)、增益溫度系數(shù)、微分線性誤差溫度系數(shù)等。虹口區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器私人定做

上海集震電子科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價值理念的產(chǎn)品標準，在上海市等地區(qū)的電子元器件中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進取的無限潛力，集震供應(yīng)攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！