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      企業(yè)商機
      數(shù)模轉(zhuǎn)換器基本參數(shù)
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      數(shù)模轉(zhuǎn)換器企業(yè)商機

      逐次逼近型ADC:逐次逼近型ADC是另一種直接ADC,它也產(chǎn)生一系列比較電壓VR,但與并聯(lián)比較型ADC不同,它是逐個產(chǎn)生比較電壓,逐次與輸入電壓分別比較,以逐漸逼近的方式進行模數(shù)轉(zhuǎn)換的。逐次逼近型ADC每次轉(zhuǎn)換都要逐位比較,需要(n+1)個節(jié)拍脈沖才能完成,所以它比并聯(lián)比較型ADC的轉(zhuǎn)換速度慢,比雙分積型ADC要快得多,屬于中速ADC器件。另外位數(shù)多時,它需用的元器件比并聯(lián)比較型少得多,所以它是集成ADC中,應用較廣的一種 [5]。雙積分型ADC:屬于間接型ADC,它先對輸入采樣電壓和基準電壓進行兩次積分,以獲得與采樣電壓平均值成正比的時間間隔,同時在這個時間間隔內(nèi),用計數(shù)器對標準時鐘脈沖(CP)計數(shù),計數(shù)器輸出的計數(shù)結(jié)果就是對應的數(shù)字量。雙積分型ADC優(yōu)點是抗干擾能力強;穩(wěn)定性好;可實現(xiàn)高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換。主要缺點是轉(zhuǎn)換速度低,因此這種轉(zhuǎn)換器大多應用于要求精度較高而轉(zhuǎn)換速度要求不高的儀器儀表中,例如用于多位高精度數(shù)字直流電壓表中 [5]。儀表促進了更快的ADC速度和更多的通道數(shù)與密度,設計者必須評估轉(zhuǎn)換器的輸出格式,以及基本的轉(zhuǎn)換性能。奉賢區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器怎么樣

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      模擬信號在時域上是連續(xù)的,因此可以將它轉(zhuǎn)換為時間上連續(xù)的一系列數(shù)字信號。這樣就要求定義一個參數(shù)來表示新的數(shù)字信號采樣自模擬信號速率。這個速率稱為轉(zhuǎn)換器的采樣率(samplingrate)或采樣頻率(samplingfrequency) [2]??梢圆杉B續(xù)變化、帶寬受限的信號(即每隔一時間測量并存儲一個信號值),然后可以通過插值將轉(zhuǎn)換后的離散信號還原為原始信號。這一過程的精確度受量化誤差的限制。然而,*當采樣率比信號頻率的兩倍還高的情況下才可能達到對原始信號的忠實還原,這一規(guī)律在采樣定理有所體現(xiàn) [2]。上海質(zhì)量數(shù)模轉(zhuǎn)換器推薦貨源使得階梯狀信號中的各個電平變?yōu)槎M制碼。

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      2.主要的輸出選項是CMOS(互補金屬氧化物半導體)、LVDS(低壓差分信令),以及CML(電流模式邏輯) [2]。3.要考慮的問題包括:功耗、瞬變、數(shù)據(jù)與時鐘的變形,以及對噪聲的抑制能力 [2]。4.對于布局的考慮也是轉(zhuǎn)換輸出選擇中的一個方面,尤其當采用LVDS技術時。 當設計者有多種ADC選擇時,他們必須考慮采用哪種類型的數(shù)字數(shù)據(jù)輸出:CMOS(互補金屬氧化物半導體)、LVDS(低壓差分信令),還是CML(電流模式邏輯)。ADC中所采用的每種數(shù)字輸出類型都各有優(yōu)缺點,設計者應結(jié)合自己的應用來考慮。這些因素取決于ADC的采樣速率與分辨率、輸出數(shù)據(jù)速率,以及系統(tǒng)設計的功率要求,等等 [2]。

      轉(zhuǎn)換精度是指D/A轉(zhuǎn)換器的實際輸出與理論值之間的誤差。轉(zhuǎn)換精度可分為***精度和相對精度。(1)***精度指對應于給定的數(shù)字量,D/A轉(zhuǎn)換器的輸出端實際測得的模擬輸出值(電流或電壓)與理論值之差。***精度由D/A轉(zhuǎn)換的增益誤差、線性誤差和噪聲等綜合因素決定。(2)相對精度指在零點和滿量程值校準后,各種數(shù)字輸入的模擬量輸出與理論值之差,可把各種輸入的誤差畫成曲線。對線性D/A轉(zhuǎn)換而言,相對精度就是非線性度。 [1]精度一般采用數(shù)字量的比較低有效位作為衡量單位,一般取為± 1/2 LSB。例如,若是8位D/A轉(zhuǎn)換器,則轉(zhuǎn)換精度為±(1/2)*(1/256) = ± 1/512。要考慮的問題包括:功耗、瞬變、數(shù)據(jù)與時鐘的變形,以及對噪聲的抑制能力 [2]。

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      由于實際使用的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器不能進行完全實時的轉(zhuǎn)換,所以對輸入信號進行一次轉(zhuǎn)換的過程中必須通過一些外加方法使之保持恒定。常用的有采樣-保持電路,在大多數(shù)的情況里,通過使用一個電容器可以存儲輸入的模擬電壓,并通過開關或門電路來閉合、斷開這個電容和輸入信號的連接。許多模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換集成電路在內(nèi)部就已經(jīng)包含了這樣的采樣-保持子系統(tǒng) [2]。1.**儀表促進了更快的ADC速度和更多的通道數(shù)與密度,設計者必須評估轉(zhuǎn)換器的輸出格式,以及基本的轉(zhuǎn)換性能 [2]。由采樣定理,采樣信號的頻譜經(jīng)理想低通濾波便得到原來模擬信號的頻譜。松江區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器量大從優(yōu)

      CMOS(互補金屬氧化物半導體)、LVDS(低壓差分信令),還是CML(電流模式邏輯)。奉賢區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器怎么樣

      一些早期的轉(zhuǎn)換器的響應類型呈對數(shù)關系,由此來執(zhí)行A-law算法或μ-law算法編碼。誤差模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的誤差有若干種來源。量化錯誤和非線性誤差(假設這個模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器標稱具有線性特征)是任何模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換中都存在的內(nèi)在誤差。也有一種被稱作孔徑錯誤(aperture error),它是由于時鐘的不良振蕩,且常常在對時域信號數(shù)字化的過程中出現(xiàn)。這種誤差用一個稱為“比較低有效位”的參數(shù)來衡量。采樣率模擬信號在時域上是連續(xù)的,因此可以將它轉(zhuǎn)換為時間上連續(xù)的一系列數(shù)字信號。這樣就要求定義一個參數(shù)來表示新的數(shù)字信號采樣自模擬信號速率。這個速率稱為轉(zhuǎn)換器的采樣率或采樣頻率。奉賢區(qū)本地數(shù)模轉(zhuǎn)換器怎么樣

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      DAC主要由數(shù)字寄存器、模擬電子開關、位權(quán)網(wǎng)絡、求和運算放大器和基準電壓源(或恒流源)組成。用存于數(shù)字寄存器的數(shù)字量的各位數(shù)碼,分別控制對應位的模擬電子開關,使數(shù)碼為1的位在位權(quán)網(wǎng)絡上產(chǎn)生與其位權(quán)成正比的電流值,再由運算放大器對各電流值求和,并轉(zhuǎn)換成電壓值 [1]。根據(jù)位權(quán)網(wǎng)絡的不同,可以構(gòu)成不同類型的DAC,如權(quán)電阻網(wǎng)絡DAC、R–2R倒T形電阻網(wǎng)絡DAC和單值電流型網(wǎng)絡DAC等。權(quán)電阻網(wǎng)絡DAC的轉(zhuǎn)換精度取決于基準電壓VREF,以及模擬電子開關、運算放大器和各權(quán)電阻值的精度。它的缺點是各權(quán)電阻的阻值都不相同,位數(shù)多時,其阻值相差甚遠,這給保證精度帶來很大困難,特別是對于集成電路的制作很不利...

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