克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
MIPID-PHY信號(hào)質(zhì)量測(cè)試
MIPID-PHY的信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法主要參考MIPI協(xié)會(huì)發(fā)布的CTS(D-PHYPhysicalLayerConformanceTestSuite)。要進(jìn)行MIPI信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試,首先要選擇合適帶寬的示波器。按照MIPI協(xié)會(huì)的要求,測(cè)試MIPID-PHY的信號(hào)質(zhì)量需要至少4GHz帶寬的示波器。為了提高更好測(cè)試的效率,測(cè)試中推薦采用4支探頭分別連接clk+/clk-和data+data一信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,對(duì)于有多條Lane的情況可以每條數(shù)據(jù)Lane分別測(cè)試。 支持機(jī)器視覺(jué)的MIPI規(guī)范包括MIPIC C-PHY,D-PHY或A-PHY上的MIPI CSI-2;北京MIPI測(cè)試眼圖測(cè)試


MIPI-DS
IMIPI-DSI是一種應(yīng)用于顯示技術(shù)的串行接口,兼容DPI(顯示像素接口,Display Pixel Interface)、DBI(顯示總線接口,Display Bus Interface)和DCS(顯示命令集,Display Command Set),以串行的方式發(fā)送像素信息或指令給外設(shè),而且從外設(shè)中讀取狀態(tài)信息或像素信息,而且在傳輸?shù)倪^(guò)程中享有自己的通信協(xié)議,包括數(shù)據(jù)包格式和糾錯(cuò)檢錯(cuò)機(jī)制。下圖所示的是MIPI-DSI接口的簡(jiǎn)單示意圖。MIPI-DSI具備高速模式和低速模式兩種工作模式,全部數(shù)據(jù)通道都可以用于單向的高速傳輸,但只有個(gè)數(shù)據(jù)通道才可用于低速雙向傳輸,從屬端的狀態(tài)信息、像素等格式通過(guò)該數(shù)據(jù)通道返回。時(shí)鐘通道于在高速傳輸數(shù)據(jù)的過(guò)程中傳輸同步時(shí)鐘信號(hào)。此外,一個(gè)主機(jī)端可允許同時(shí)與多個(gè)從屬端進(jìn)行通信。
在四條通路之間,在以2.5 Gbps/路運(yùn)行時(shí),D-PHY 1.2信號(hào)的最大吞吐量約為10 Gbps。物理層信號(hào)有兩種模式:高速(HS)模式和低功率(LP)模式。高速[HS]模式用于快速傳送數(shù)據(jù)。在系統(tǒng)處于空閑時(shí),低功率[LP]模式用來(lái)傳送控制信息,以延長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間。HS和LP模式有不同的端接方式,系統(tǒng)應(yīng)能夠動(dòng)態(tài)改變端接方式,以支持這兩種模式
HS數(shù)據(jù)的速度越高,顯示器能夠支持的分辨率越高,影像的清晰度也就越好。數(shù)據(jù)速率與分辨率之間的關(guān)系,還要看一下其他幾個(gè)參數(shù)。
●像素時(shí)鐘:決定著像素傳送的速率
●刷新速率:屏幕每秒刷新次數(shù)
●色彩深度:用來(lái)表示一個(gè)像素的顏色的位數(shù)像素時(shí)鐘的推導(dǎo)公式如下:像素時(shí)鐘=水平樣點(diǎn)數(shù)x垂直行數(shù)x刷新速率。其中水平樣點(diǎn)數(shù)和垂直行數(shù)包括水平和垂直消隱間隔。 MIPI規(guī)定D-PHY信號(hào)的大走線長(zhǎng)度了嗎?

MIPI如何滿足工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)需求
預(yù)計(jì)在未來(lái)十年中,工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)(IIoT)應(yīng)用將大量增長(zhǎng),從而推動(dòng)石油和天然氣,食品和飲料,制藥,化學(xué),能源和采礦,半導(dǎo)體和制造業(yè)等流程行業(yè)以及航空航天等離散行業(yè)的生產(chǎn)率和效率提升。支持這種增長(zhǎng)的新的物理網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的開發(fā),將包括使用高分辨率相機(jī)來(lái)增強(qiáng)機(jī)器視覺(jué),使用高分辨率顯示器來(lái)實(shí)現(xiàn)豐富的用戶界面以及用于連接傳感器、執(zhí)行器和其他設(shè)備的優(yōu)化命令和控制界面。本文將介紹數(shù)十億移動(dòng)設(shè)備中實(shí)施的MIPI規(guī)范,如何為開發(fā)人員創(chuàng)建成功的設(shè)計(jì),減少開發(fā)工作并降低許多IIoT應(yīng)用成本。 MIPI接口傳視頻速率;智能化多端口矩陣測(cè)試MIPI測(cè)試配件
MIPI應(yīng)用的物理層標(biāo)準(zhǔn)是D-PHY;北京MIPI測(cè)試眼圖測(cè)試
終端電阻的校準(zhǔn),需要通過(guò)如圖3所示的RTUN模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。它的原理是利用片外精細(xì)電阻對(duì)片內(nèi)電阻進(jìn)行校準(zhǔn)。基準(zhǔn)電路產(chǎn)生的基準(zhǔn)電壓vba(1.2V)經(jīng)過(guò)buffer在片外6.04K電阻上產(chǎn)生電流,用同樣大小的電流ires流經(jīng)片內(nèi)電阻產(chǎn)生電壓與rex-tv(1.2V)進(jìn)行比較,觀察比較器的輸出。通過(guò)setrd來(lái)控制W這三個(gè)開關(guān),從000到111掃描,再?gòu)?11到000掃描,改變片內(nèi)電阻大小,觀察比較器輸出cmpout信號(hào)的變化,從而得到使得片內(nèi)電阻接近6.04K的控制字。圖2中的比較器終端電阻采用與該模塊相同類型的電阻,以及成比例的電阻關(guān)系。當(dāng)RTUN模塊完成校準(zhǔn)后,得到的控制字setrd同時(shí)控制比較器的終端電阻,從而使得比較器終端電阻接近100歐姆。北京MIPI測(cè)試眼圖測(cè)試
MIPI物理層一致性測(cè)試 MIPI物理層一致性測(cè)試是一種用于檢測(cè)MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測(cè)試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議,這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設(shè)備之間的互通性和穩(wěn)定性。在MIPI物理層一致性測(cè)試中,測(cè)試設(shè)備會(huì)模擬各種情景和條件下的MIPI信號(hào)傳輸,并使用示波器等工具進(jìn)行測(cè)量和分析,以確定MIPI接口是否符合MIPI聯(lián)盟制定的物理層標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。這些測(cè)試通常包括以下方面:1.電氣測(cè)試:檢驗(yàn)MIPI信號(hào)的電氣參數(shù)是否符合規(guī)范,包括差分阻抗、峰峰電壓等;2.時(shí)序測(cè)試:測(cè)試MIPI接口的信號(hào)時(shí)序是否符合規(guī)范,包括時(shí)鐘頻率、數(shù)據(jù)延遲、數(shù)據(jù)速率等;3.信號(hào)完整...