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      企業(yè)商機(jī)
      PCI-E測試基本參數(shù)
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      • PCI-E測試
      PCI-E測試企業(yè)商機(jī)

      其中,電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為,這些要求合在一起稱為Base規(guī)范,用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì);基于Base規(guī)范,PCI-SIG還會(huì) 再定義對于板卡設(shè)計(jì)的要求,比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求,這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范,用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡,針對一些新型的連接方式,如M.2、U.2等,也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。PCI-E3.0設(shè)計(jì)還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎?廣東信號(hào)完整性測試PCI-E測試

      廣東信號(hào)完整性測試PCI-E測試,PCI-E測試

      PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似,都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號(hào)引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試,并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別,下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。

      PCIe5.0發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號(hào)邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號(hào)測試,協(xié)會(huì)建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對于主板和插卡來說,由于測試點(diǎn)是在連接器的金手指處,信號(hào)經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些,所以信號(hào)質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是,在接收端容限測試中,由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號(hào)做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn),所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。 江蘇信號(hào)完整性測試PCI-E測試PCI-E 3.0測試發(fā)送端變化;

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      首先來看一下惡劣信號(hào)的定義,不是隨便一個(gè)信號(hào)就可以,且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測試的這個(gè)惡劣信號(hào)叫作Stress Eye,即壓 力眼圖,實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法。這個(gè)信號(hào)是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號(hào),然后在這個(gè)信號(hào)上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、周期抖動(dòng)(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求,測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)。其中,ISI抖動(dòng)是由PCIe協(xié)會(huì)提供的測試 夾具產(chǎn)生,其夾具上會(huì)模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號(hào)的影響。在PCIe3.0的 CBB夾具上,增加了專門的Riser板以模擬服務(wù)器等應(yīng)用場合的走線對信號(hào)的影響;而在 PCIe4.0和PCIe5.0的夾具上,更是增加了專門的可變ISI的測試板用于模擬和調(diào)整ISI的 影響。

      測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬:41.25ps+0/—2ps眼寬:18.75ps+0.5/-0.5ps眼高:46mV+0/-5mV眼高:15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬:45ps+0/-2ps眼寬:18.75ps+0.5/-0.5ps眼高:50mV+0/-5mV眼高:15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時(shí),信號(hào)的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進(jìn)行,人工操作非常耗時(shí)耗力。為了解決這個(gè) 問題,接收端容限測試時(shí)也會(huì)使用自動(dòng)測試軟件,這個(gè)軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)?、控?誤碼儀和示波器完成自動(dòng)校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài),并自動(dòng)進(jìn)行環(huán)回?cái)?shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計(jì)。圖4 . 18是典型自動(dòng)校準(zhǔn)和接收容限測試軟件的界面,以及相應(yīng)的測試PCI-e的軟件編程接口;

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      ·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?!latformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對于PCIe4.0來說,針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性,替換或增加了以下測試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)?!aneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中,針對電氣特性測試,又有專門的物理層測試規(guī)范,用于規(guī)定具體的測試項(xiàng)目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測試項(xiàng)目,其中灰色背景的測試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態(tài)硬盤用么?假如能的話插上可以改成引導(dǎo)系統(tǒng)的盤么?江蘇信號(hào)完整性測試PCI-E測試

      PCI-E4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試?廣東信號(hào)完整性測試PCI-E測試

      PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設(shè)計(jì)的Base規(guī)范,針對板卡設(shè)計(jì)的CEM規(guī)范也在2021年制定完成,同時(shí)支持PCIe5.0的服務(wù)器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說,其鏈路的拓?fù)淠P团cPCIe4.0類似,但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大,整個(gè)鏈路的損耗達(dá)到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預(yù)算的模型。廣東信號(hào)完整性測試PCI-E測試

      深圳市力恩科技有限公司致力于儀器儀表,是一家貿(mào)易型的公司。公司業(yè)務(wù)分為實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等,目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn),為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競爭力,努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí),遵守行業(yè)規(guī)范,植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展。力恩科技秉承“客戶為尊、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營理念,全力打造公司的重點(diǎn)競爭力。

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