多端口矩陣測試PCI-E測試聯(lián)系人

相應(yīng)地，在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中，也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時鐘，可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時)提供便利，但由于收發(fā)端參考時鐘不同源，所 以對于收發(fā)端的設(shè)計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調(diào)整機制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機 抖動指標即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構(gòu)，以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCIE 3.0的發(fā)射機物理層測試；多端口矩陣測試PCI-E測試聯(lián)系人

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，在發(fā)送端對信號高頻進行補償還是不夠，于是PCIe3.0及 之后的標準中又規(guī)定在接收端(RX端)還要對信號做均衡(Equalization),從而對線路的損 耗進行進一步的補償。均衡電路的實現(xiàn)難度較大，以前主要用在通信設(shè)備的背板或長電纜 傳輸?shù)膱龊?，近些年也逐漸開始在計算機、消費類電子等領(lǐng)域應(yīng)用，比如USB3.0、SATA 6G、DDR5中也均采用了均衡技術(shù)。圖4 .4分別是PCIe3 .0和4 .0標準中對CTLE均衡器 的頻響特性的要求。可以看到，均衡器的強弱也有很多擋可選，在Link Training階段TX 和RX端會協(xié)商出一個比較好的組合(參考資料： PCI ExpressR Base Specification 4 .0)。多端口矩陣測試PCI-E測試聯(lián)系人PCI-E4.0的標準什么時候推出？有什么變化？

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應(yīng)明確當前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關(guān)的測試項目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設(shè)置成使用外部信號，這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。

這個軟件以圖形化的界面指導用戶完 成設(shè)置、連接和測試過程，除了可以自動進行示波器測量參數(shù)設(shè)置以及生成報告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目，提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測試項目針對的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設(shè)計PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板，測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸，對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進行評估或者去嵌入，測試板上還應(yīng) 設(shè)計和扇出通道疊層設(shè)計、布線方式盡量一致的復制通道(Replica Channel),復制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計成同軸連接方式，這樣可以通過對復制通道直接進行測試 推測扇出通道的特性。 PCI-E3.0的接收端測試中的Repeater起作用？

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時，正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCI-E硬件測試方法有那些辦法；多端口矩陣測試PCI-E測試聯(lián)系人

多個cpu socket的系統(tǒng)時，如何枚舉的？多端口矩陣測試PCI-E測試聯(lián)系人

首先來看一下惡劣信號的定義，不是隨便一個信號就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復性。通常把用于接收端容限測試的這個惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實際上是借鑒了光通信的叫法。這個信號是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個純凈的 帶特定預加重的信號，然后在這個信號上疊加精確控制的隨機抖動(RJ)、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個成分的大小都符合規(guī)范的要求，測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準。其中，ISI抖動是由PCIe協(xié)會提供的測試 夾具產(chǎn)生，其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響。在PCIe3.0的 CBB夾具上，增加了專門的Riser板以模擬服務(wù)器等應(yīng)用場合的走線對信號的影響；而在 PCIe4.0和PCIe5.0的夾具上，更是增加了專門的可變ISI的測試板用于模擬和調(diào)整ISI的 影響。多端口矩陣測試PCI-E測試聯(lián)系人