北京智能化多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試

另外，由于5Gbps或10Gbps的信號(hào)經(jīng)過長(zhǎng)電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無法張開了，所以在芯片接收端內(nèi)部會(huì)提供CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡)功能以補(bǔ)償高頻損耗，因此測(cè)試時(shí)示波器的測(cè)試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對(duì)信號(hào)均衡以后的真實(shí)的結(jié)果。圖3.6是在USB3.2的規(guī)范中，分別對(duì)于Genl的5Gbps信號(hào)和Gen2的10Gbps信號(hào)CTLE的均衡器的定義。

以下是USB3.x的信號(hào)測(cè)試方法相對(duì)于USB2.0的區(qū)別：

(1)示波器的測(cè)試點(diǎn)在一致性電纜(compliancecable)和一致性電路板(complianceboard)之后。而以前的測(cè)試是在發(fā)送端的連接器處(如USB2.0)。

(2)后處理需要使用CTLE均衡器，在均衡器后觀察和分析眼圖及其參數(shù)。

(3)需要連續(xù)測(cè)量1M個(gè)UI(比特間隔)。

(4)需要計(jì)算基于1.0×10-12誤碼率的DJ、RJ和TJ。 USB3.0連接器的阻抗測(cè)試；北京智能化多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試

測(cè)試系統(tǒng)搭建和介紹任何測(cè)試系統(tǒng)的搭建都是以測(cè)試目的為導(dǎo)向的，在測(cè)試之前一定要明確測(cè)試目的。對(duì)于完整的USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試，需要對(duì)TX端和RX端都進(jìn)行完整的測(cè)試，但是對(duì)于大多數(shù)廠商來講，可能只能完成基本的TX端測(cè)試。我們這個(gè)測(cè)試也只對(duì)TX端進(jìn)行測(cè)試，所以測(cè)試的系統(tǒng)就是一臺(tái)示波器、DUT、測(cè)試夾具和測(cè)試線纜。

示波器：TektronixTDS7704B，帶寬為7GHz，采樣率為20GS/s；測(cè)試探針：TektronixP7330/P7240USB2.0testfixture；測(cè)試夾具：TDSUSBFUSB2.0ComplianceTestFixtureWithPowerAdapter；測(cè)試軟件：?USBHighSpeedElectricalTestToolRev:1.10；?TDSUSB2TestPackageApplicationV3.0.2；Tektronix的USB2.0發(fā)送端一致性測(cè)試軟件TDSUSB2可以支持嵌入（Embed)、去嵌入（De-embed）的功能，這對(duì)研發(fā)工程師的作用非常大。在軟件中還直接內(nèi)置提供Host和Device的一致性通道傳遞函數(shù)，可以嵌入一致性通道模型，完成對(duì)一致性測(cè)試的要求，這主要體現(xiàn)在包含了測(cè)試過程中加入了長(zhǎng)通道和短通道的S參數(shù)在其中，這時(shí)不管你是做的Host端的產(chǎn)品還是Device端的產(chǎn)品，只要在測(cè)試時(shí)選擇對(duì)應(yīng)參數(shù)即可真實(shí)的使用情況。這樣也符合一致性測(cè)試規(guī)范。 江西數(shù)字信號(hào)USB測(cè)試USB協(xié)輝提供的信號(hào)質(zhì)量分析軟件；

Type - C的接口是雙面的，也就是同 一 時(shí)刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引腳上會(huì)有USB3 . 1信號(hào)輸出，至于哪 一面有信號(hào)輸出，取決于插入的方向。如圖3 . 18所 示，默認(rèn)情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻 Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同，只有CCl或者CC2會(huì)有連接，通過檢測(cè)CCl或者CC2上的 電壓變化，DFP和UFP設(shè)備就能感知到對(duì)端的插入從而啟動(dòng)協(xié)商過程。

信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試過程中，由于被測(cè)件連接的是測(cè)試夾具，并沒有真實(shí)地對(duì)端設(shè)備插入，這就需要人為在測(cè)試夾具上模擬電阻的上下拉來欺騙被測(cè)件輸出信號(hào)

自1995年USB1 .0 的規(guī)范發(fā)布以來， USB(Universal Serial Bus)接口標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)過了20多  年的持續(xù)發(fā)展和更新，已經(jīng)成為PC和外設(shè)連接使用的接口。USB歷經(jīng)了多年的發(fā) 展，從代的USB1 .0低速(Low Speed) 、USB1 . 1全速(Full Speed)標(biāo)準(zhǔn)，逐漸演進(jìn)到第 2代的USB2 .0高速(High Speed)標(biāo)準(zhǔn)和第3代的USB3 .0超高速(Super Speed)標(biāo)準(zhǔn)。這   些標(biāo)準(zhǔn)目前都已經(jīng)得到的應(yīng)用。

后來，為了應(yīng)對(duì)eSATA 、ThunderBolt等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)USB標(biāo)準(zhǔn)的威脅， USB協(xié)會(huì)又分別在  2013年和2017年發(fā)布了USB3. 1及USB3.2的標(biāo)準(zhǔn)。在USB3. 1標(biāo)準(zhǔn)中新定義了10Gbps 速率以及對(duì)Type-C接口的支持；在USB3.2標(biāo)準(zhǔn)中，又基于Type-C接口提供了對(duì)X2模 式的支持，可以通過收發(fā)方向各捆綁2條10Gbps的鏈路實(shí)現(xiàn)20Gbps的數(shù)據(jù)傳輸。而新 的USB4.0標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)于2019年發(fā)布，可以通過捆綁2條20Gbps的鏈路實(shí)現(xiàn)40Gbps的接 口速率。表3. 1是USB各代總線的技術(shù)對(duì)比。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地    址： 深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) USB3.0信號(hào)和協(xié)議測(cè)試？

USB2.0技術(shù)已被的市場(chǎng)接受，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開新天地，包括全動(dòng)態(tài)視訊至輔助性的、只有錢包大小的硬盤機(jī)。但是，隨著資料速率的急速升高，也出現(xiàn)了新的測(cè)試和量測(cè)方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來了許多好處，但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來了各種新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。特別是在訊號(hào)品質(zhì)問題方面，如電路板的布局、抖動(dòng)、上升和下降時(shí)間、電磁場(chǎng)干擾、噪聲，和接地噪聲等，都已成為需待解決的設(shè)計(jì)問題。保持訊號(hào)質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格，并獲得USB2.0「認(rèn)證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一。訊號(hào)質(zhì)量測(cè)試包括:?眼圖測(cè)試?信號(hào)速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動(dòng)?KJ抖動(dòng)?連續(xù)抖動(dòng)?單調(diào)測(cè)試（適用于高速）?漲落時(shí)間 克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室USB標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方案；江蘇USB測(cè)試故障

usb2.0協(xié)議層調(diào)試方法？北京智能化多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試

第二項(xiàng)測(cè)試是發(fā)射機(jī)均衡測(cè)試，這項(xiàng)測(cè)試也與USB4預(yù)置值有關(guān)。這項(xiàng)測(cè)試的目標(biāo)，是確保發(fā)射機(jī)均衡落在規(guī)范的極限范圍內(nèi)。新USB4方法要求每個(gè)預(yù)置值3個(gè)波形，而PCIe Gen 3/4則要求一個(gè)波形?，F(xiàn)在一共需要48個(gè)波形，因此耗時(shí)很長(zhǎng)！

USB4中接收機(jī)測(cè)試和校準(zhǔn)變化現(xiàn)在我們討論一下USB4中接收機(jī)測(cè)試和校準(zhǔn)有哪些變化。首先，USB4必需對(duì)全部5個(gè)SJ頻率執(zhí)行接收機(jī)校準(zhǔn)。這較USB3.2接收機(jī)校準(zhǔn)變化很大，在USB3.2中我們只在100MHzSJ頻率執(zhí)行校準(zhǔn)，然后使用相同的壓力眼圖校準(zhǔn)進(jìn)行接收機(jī)測(cè)試。USB4還有兩種測(cè)試情況，我們需要進(jìn)行自動(dòng)調(diào)諧或精調(diào)，來滿足壓力眼圖或總抖動(dòng)目標(biāo)。情況1是低插損(短通道)，情況2是比較大插損(長(zhǎng)通道)，這也要耗費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間。下一步是USB4接收機(jī)測(cè)試，或者我們?cè)鯓舆\(yùn)行傳統(tǒng)抖動(dòng)容差測(cè)試。抖動(dòng)容差測(cè)試的目標(biāo)之一，是掃描SJ或幅度，找到邊界，或者找到哪里開始出現(xiàn)誤碼。為了執(zhí)行這項(xiàng)測(cè)試，我們需要先使用邊帶通道初始化鏈路，然后開始BER測(cè)試。然后我們要一直監(jiān)測(cè)誤碼，因?yàn)閁SB4現(xiàn)在采用機(jī)載誤碼計(jì)數(shù)器，而不是BERT上的傳統(tǒng)誤碼檢測(cè)器。這個(gè)過程涉及到多個(gè)步驟。 北京智能化多端口矩陣測(cè)試USB測(cè)試