多端口矩陣測試USB測試信號完整性測試

需要 指出的是在 TP3(Case 2) 遠(yuǎn)端 校準(zhǔn)時，   除了 Type-C cable 外， 還 需要 ISI boards，   利用 網(wǎng) 絡(luò) 分 析 實(shí)測，   保 證 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整個測試鏈路的插入損耗滿足 18-19 dB at 5GHz for Gen 2 (10Gbps) 和 16-17 dB at 10GHz for Gen 3 (20Gbps) 的要求。

同時，  是德科技提供 N5991U40A USB4.0 全自動化接收端軟件，  幫 助客戶非常方便的控制示波器對誤碼儀輸出的加壓信號進(jìn)行校 準(zhǔn)，  通過 USB4.0 Microcontroller 和 USB4ETT 軟件讀取誤碼測試時誤 碼儀和被測芯片 Preset 和鏈路協(xié)商過程、以及的誤碼測試結(jié) 果，  生成完整的測試報告。 USB2.0外設(shè)的高速信號質(zhì)量測試項(xiàng)目的連接；多端口矩陣測試USB測試信號完整性測試

根據(jù)應(yīng)用場景的不同，這個“Long Channel”的定義也不同。比如對于 A型接口5Gbps速率的主機(jī)的測試，它模擬的是3m長電纜+5英寸PCB走線的影響；對 于B型接口外設(shè)的測試，它模擬的是3m長電纜+11英寸PCB走線的影響。因此，USB3.x 的信號質(zhì)量測試中，5Gbps速率下不同設(shè)備類型或者接口類型下嵌入的參考通道模型可能 不一樣，測試結(jié)果也就可能不一樣。但對于10Gbps信號來說，由于USB協(xié)會定義的主機(jī) 和外設(shè)端允許的通道損耗是對稱的(都是8.5dB),所以對于主機(jī)和外設(shè)的測試來說，其嵌入 的通道模型就是一樣的。測量USB測試代理品牌USB4.0一致性測試環(huán)境；示波器、測試軟件、夾具；

USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”；測 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因?yàn)?USB4.0 需要支持有源電纜和無源電纜兩種應(yīng)用場景，  針對 的測試點(diǎn)分別是 TP2 和TP3，  即通俗講的近端測試和遠(yuǎn)端測試。 在進(jìn)行遠(yuǎn)端測試時，需要考慮無源電纜的影響。因?yàn)橐桓鶎?shí)體的 無源電纜很難完整的表征所有惡劣的場景，  包括插入損耗、回 波損耗、串?dāng)_等，為了保證測試的一致性和可重復(fù)性，發(fā)動端測 試都是用軟件的算法，  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式， 實(shí)現(xiàn)參考鏈路的模擬。同時，  為了保證測試精度，  USB4.0 要求示 波器在進(jìn)行信號捕獲前，需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測試電纜的影響。

USB3.0、USB3.1、USB3.2、USB4.0每一代的數(shù)據(jù)速率都有非 常大的提升。需要注意的是，在USB3.1規(guī)范推出后，之前USB3.0中定義的5Gbps速被稱為Genl速率，新定義的10Gbps被稱為Gen2速率。而在2019年發(fā)布的USB4.0規(guī)范中，新增的20Gbps速率被稱為Gen3速率。

USB3.0和之后的標(biāo)準(zhǔn)都采用了雙總線架構(gòu)(圖3.1),即在USB2.0的基礎(chǔ)上增加了超高速總線部分。超高速總線的信號速率達(dá)到5Gbps、10Gbps甚至20Gbps,采用全雙工方式工作。以PC上普遍使用的Type-A連接器為例，為了支持更高速率的信號傳輸，就在原有USB2.0的4根線(Vbus、Gnd、D+、D-)基礎(chǔ)上新增加了5根信號線，包括2對差分線和1根屏蔽地線(如果是Type-C連接器則增加更多)。原來的4根線完全兼容原來的USB2.0設(shè)備；新增的這兩對差分線采用全雙工作模式，一對線負(fù)責(zé)發(fā)送，另一對線負(fù)責(zé)接收，發(fā)送和接收都可實(shí)現(xiàn)5Gbps或以上速率的數(shù)據(jù)傳輸。

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USB4.0的發(fā)送端信號質(zhì)量測試

在 發(fā) 送 端 測 試 中 ， 需 要 用 U S B 4 . 0 的 測 試 夾 具 在 T P 2 點(diǎn) ( 即 T y p e - C 的 輸 出 接 口 ) 把 被 測 信 號 引 出 ， 并 接 入 示 波 器 測 試 ， 測 試 中 示 波 器 會 通 過 軟 件 嵌 入 傳 輸 通 道 ( 對 G e n 2 速 率 是 嵌 入 2 m 電 纜 ， 對 G e n 3 速 率 是 嵌 入 0 . 8 m 電 纜 ) 的 影 響 ， 并 用 模 仿 接 收 端 的 均 衡 器 對 信 號 均 衡 后 再 進(jìn) 行 眼 圖 相 關(guān) 參 數(shù) 的 測 試 。 U S B 4 . 0 的 數(shù) 據(jù) 速 率 很 高 ， 對 于 G e n 2 速 率 的 主 機(jī) 和 外 設(shè) 測 試 來 說 ， 測 試 規(guī) 范 建 議 使 用 至 少 1 6 G H z 帶 寬 的 示 波 器 ； 對 于 G e n 3 速 率 的 主 機(jī) 和 外 設(shè) 測 試 來 說 ， 測 試 規(guī) 范 建 議 使 用 至 少 2 1 G H z 帶 寬 的 示 波 器 。 圖 3 . 3 2 是 典 型 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 信 號 質(zhì) 量 測 試 環(huán) 境 ， 測 試 中 通 過 測 試 夾 具 連 接 被 測 件 和 示 波 器 ， 并 通 過 U S B 4 的 控 制 器 控 制 被測件發(fā)出不同的預(yù)加重的測試碼型 。 USB2.0一致性測試環(huán)和報告解讀；數(shù)字信號USB測試參考價格

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室USB 3.2 & 2.0測試；多端口矩陣測試USB測試信號完整性測試

針對某特定訊號速度(低速、全速或高速)先選擇需進(jìn)行的量測項(xiàng)目，然后根據(jù)層(即DUT的連接層)、測試點(diǎn)(DUT的測試點(diǎn)-近端或遠(yuǎn)程)以及傳輸方向(上傳或下傳測試)設(shè)定應(yīng)用程序，如圖所示。在完成了這兩步之后，使用者即可執(zhí)行自動量測了。接著就是設(shè)置DUT類型、速率、夾具和測試分析模式，由于DUT是device，所以在Device一欄選擇Device；USB2.0的速率為7G；測試的夾具分為了兩類，一類是USB-IF協(xié)會的，另一類就是Tektronix的，在這里選擇的是Tektronix的測試夾具；另外一個非常關(guān)鍵的點(diǎn)就是TestMethod，是否選用USB-IFSigTest的分析方法，通常，我們會選擇使用；選擇參考時鐘，一般高速串行信號都會選用SSC模式；還要根據(jù)產(chǎn)品使用。多端口矩陣測試USB測試信號完整性測試