機(jī)械USB測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

USB信號(hào)完整性測(cè)試

USB3.0和USB2.0相比有著非常本質(zhì)的區(qū)別，USB3.0有兩對(duì)高速差分線分別進(jìn)行信號(hào)的發(fā)送和接收，為全雙工工作模式，且使用了多種高速處理技術(shù)，如均衡、預(yù)加重等，對(duì)此進(jìn)行的物理層一致性測(cè)試是非常重要的，USB3.0規(guī)范要求進(jìn)行多個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試，如發(fā)送端測(cè)試、接收端測(cè)試、線纜測(cè)試等，因此需要多種儀器進(jìn)行測(cè)試。

接著就是設(shè)置DUT類型、速率、夾具和測(cè)試分析模式，由于DUT是Host，所以在Host一欄選擇Host；USB3.2的速率為10G；測(cè)試的夾具分為了兩類，一類是USB-IF協(xié)會(huì)的，另一類就是Tektronix的，在這里選擇的是USB-IF的測(cè)試夾具；另外一個(gè)非常關(guān)鍵的點(diǎn)就是Test Method，是否選用USB-IF SigTest的分析方法，通常，我們會(huì)選擇使用；選擇參考時(shí)鐘，一般高速串行信號(hào)都會(huì)選用SSC模式；還要根據(jù)產(chǎn)品使用。 USB2.0來說，一致性測(cè)試分為host，hub，device三種模式。機(jī)械USB測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

USB4.0的發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試

在 發(fā) 送 端 測(cè) 試 中 ， 需 要 用 U S B 4 . 0 的 測(cè) 試 夾 具 在 T P 2 點(diǎn) ( 即 T y p e - C 的 輸 出 接 口 ) 把 被 測(cè) 信 號(hào) 引 出 ， 并 接 入 示 波 器 測(cè) 試 ， 測(cè) 試 中 示 波 器 會(huì) 通 過 軟 件 嵌 入 傳 輸 通 道 ( 對(duì) G e n 2 速 率 是 嵌 入 2 m 電 纜 ， 對(duì) G e n 3 速 率 是 嵌 入 0 . 8 m 電 纜 ) 的 影 響 ， 并 用 模 仿 接 收 端 的 均 衡 器 對(duì) 信 號(hào) 均 衡 后 再 進(jìn) 行 眼 圖 相 關(guān) 參 數(shù) 的 測(cè) 試 。 U S B 4 . 0 的 數(shù) 據(jù) 速 率 很 高 ， 對(duì) 于 G e n 2 速 率 的 主 機(jī) 和 外 設(shè) 測(cè) 試 來 說 ， 測(cè) 試 規(guī) 范 建 議 使 用 至 少 1 6 G H z 帶 寬 的 示 波 器 ； 對(duì) 于 G e n 3 速 率 的 主 機(jī) 和 外 設(shè) 測(cè) 試 來 說 ， 測(cè) 試 規(guī) 范 建 議 使 用 至 少 2 1 G H z 帶 寬 的 示 波 器 。 圖 3 . 3 2 是 典 型 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 信 號(hào) 質(zhì) 量 測(cè) 試 環(huán) 境 ， 測(cè) 試 中 通 過 測(cè) 試 夾 具 連 接 被 測(cè) 件 和 示 波 器 ， 并 通 過 U S B 4 的 控 制 器 控 制 被測(cè)件發(fā)出不同的預(yù)加重的測(cè)試碼型 。 數(shù)字信號(hào)USB測(cè)試推薦貨源USB3.0電纜眼圖仿真和均衡仿真；

測(cè)試過程Tektronix示波器對(duì)于USB2.0這類接口的測(cè)試都有非常完善的測(cè)試解決方案，這些方案都是標(biāo)準(zhǔn)流程化的，只要進(jìn)入到軟件測(cè)試界面即可按照流程圖一步一步的往下進(jìn)行測(cè)試。下面是測(cè)試時(shí)的相關(guān)設(shè)置和注意事項(xiàng)：在測(cè)試前，首先要預(yù)熱、校準(zhǔn)示波器（大約20分鐘）、線纜需要做de-skew。這一步非常的關(guān)鍵，特別是線纜做de-skew，因?yàn)楹芏鄷r(shí)候線纜與線纜之間有一些偏差，如果不做de-skew就會(huì)導(dǎo)致在差分信號(hào)的正端和負(fù)端引入系統(tǒng)誤差。然后就開啟測(cè)試USB2.0軟件TDSUSB2TestApp，

USB測(cè)試

USB3. 1的Type-C的外設(shè)接收容限的典型測(cè)試環(huán)境，測(cè)試系統(tǒng)中心是 一 臺(tái)高性能的誤碼儀。誤碼儀可以產(chǎn)生5～10Gbps的高速數(shù)據(jù)流，同時(shí)其內(nèi)部集成時(shí)鐘恢 復(fù)電路、預(yù)加重模塊、噪聲注入、參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等。接收端的測(cè)試中用到了 USB協(xié)會(huì)提供的測(cè)試夾具和1m長(zhǎng)的USB電纜，用于模擬實(shí)際鏈路上電纜以及Host/ Device上PCB走線造成的ISI 的影響。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址：深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) USB2.0一致性測(cè)試環(huán)境；示波器、測(cè)試軟件、夾具；

為了模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響，USB協(xié)會(huì)提供了相應(yīng)的測(cè)試夾具。每套測(cè)試夾具由 很多塊組成，可以模擬相應(yīng)的PCB走線并在中間插入測(cè)試電纜。這些測(cè)試夾具通過組合可 以進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，也可以進(jìn)行接收容限的測(cè)試，或者進(jìn)行接收容限測(cè)試前的校 準(zhǔn)。圖3 .4是USB協(xié)會(huì)提供的針對(duì)10Gbps的A型接口主機(jī)及Micro-B型接口外設(shè)的測(cè) 試夾具。

除了使用真實(shí)的測(cè)試夾具和電纜來模擬傳輸通道對(duì)信號(hào)的影響外，實(shí)際測(cè)試中還可以 用示波器的S參數(shù)嵌入功能來模擬加入傳輸通道影響，這樣可以簡(jiǎn)化測(cè)試連接，也避免了 夾具反復(fù)插拔造成的特性變化。圖3.5是使用夾具直接引出信號(hào)，并通過示波器中的S參 數(shù)嵌入功能進(jìn)行通道嵌入的典型的USB3.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境。 克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室USB標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方案；信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試代理品牌

USB3.0一致性測(cè)試環(huán)境；機(jī)械USB測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

（1）速度快：接口的傳輸速度高達(dá)480 Mbit／s，完全能滿足高速數(shù)據(jù)交換的要求；  （2）連接簡(jiǎn)單快捷：所有的 USB設(shè)備利用通用的連接器，無需打開主機(jī)機(jī)箱就可簡(jiǎn)單方便地連人計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)熱拔插；  （3）無需外接電源：USB電源向低壓設(shè)備提供 5V電源；  （4）有不同的帶寬和連接距離：USB 2．0提供全速與高速 2種傳輸數(shù)率規(guī)格，使用戶有足夠的帶寬供新的外設(shè)使用；  （5）良好的兼容性：系統(tǒng)檢測(cè)到 1．1版本的接口類型時(shí)，會(huì)自動(dòng)按照 12 Mbit／s的速度傳輸 ，而其他采用2．0版本的外設(shè)還是能以2．0所規(guī)定的速率傳輸。機(jī)械USB測(cè)試多端口矩陣測(cè)試