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      企業(yè)商機(jī)
      DDR測(cè)試基本參數(shù)
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      • DDR測(cè)試
      DDR測(cè)試企業(yè)商機(jī)

      一種ddr4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)技術(shù)領(lǐng)域1.本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其是指一種ddr4內(nèi)存信號(hào)測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù):2.為保證服務(wù)器的平穩(wěn)運(yùn)行以及服務(wù)器ddr4內(nèi)存的完好使用,測(cè)量服務(wù)器內(nèi)存的信號(hào)完整性是否符合標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)成了服務(wù)器研發(fā)過(guò)程中必不可少的重要流程。目前服務(wù)器主流都是適用ddr4內(nèi)存,為了保證數(shù)據(jù)的安全性和可靠性,ddr4鏈路的測(cè)試對(duì)服務(wù)器存儲(chǔ)性能評(píng)估有著至關(guān)重要的影響。3.目前服務(wù)器ddr4信號(hào)的測(cè)試無(wú)法進(jìn)行正常工作狀態(tài)的讀寫(xiě)分離,只能利用主控芯片進(jìn)行讀寫(xiě)命令來(lái)進(jìn)行相應(yīng)讀或?qū)懙臏y(cè)試,效率較低且不能完全反映正常工作狀態(tài)下的波形,在信號(hào)完整性測(cè)試上有比較大的風(fēng)險(xiǎn)。DDR在信號(hào)測(cè)試中解決的問(wèn)題有那些;黑龍江DDR測(cè)試銷售

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      DDR測(cè)試

      大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫(xiě),即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同,又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣,而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)的跳變速率是一樣的,因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對(duì)于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)是一樣的。 黑龍江DDR測(cè)試銷售DDR3規(guī)范里關(guān)于信號(hào)建立;

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      14.在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述相關(guān)信號(hào)包括dqs信號(hào)、clk信號(hào)和dq信號(hào),所述標(biāo)志信號(hào)為dqs信號(hào)。15.在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述根據(jù)標(biāo)志信號(hào)對(duì)示波器進(jìn)行相關(guān)參數(shù)配置,具體包括:16.利用示波器分別采集標(biāo)志信號(hào)在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫(xiě)入過(guò)程中的電平幅值;17.對(duì)標(biāo)志信號(hào)在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫(xiě)入過(guò)程中的電平幅值進(jìn)行比較,確定標(biāo)志信號(hào)的電平閾值;18.在示波器中配置標(biāo)志信號(hào)的電平閾值。19.在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的讀寫(xiě)信號(hào)進(jìn)行信號(hào)分離,具體包括:20.將標(biāo)志信號(hào)的實(shí)時(shí)電平幅值與標(biāo)志信號(hào)的電平閾值進(jìn)行比較;21.將大于電平閾值的標(biāo)志信號(hào)和小于電平閾值的標(biāo)志信號(hào)分別進(jìn)行信號(hào)的分離,得到數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫(xiě)入過(guò)程中的標(biāo)志信號(hào)。

      DDR測(cè)試DDR/LPDDR簡(jiǎn)介目前在計(jì)算機(jī)主板和各種嵌入式的應(yīng)用中,存儲(chǔ)器是必不可少的。常用的存儲(chǔ)器有兩種:一種是非易失性的,即掉電不會(huì)丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-OnlyMemory),這種存儲(chǔ)器速度較慢,主要用于存儲(chǔ)程序代碼、文件以及長(zhǎng)久的數(shù)據(jù)信息等;另一種是易失性的,即掉電會(huì)丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(RandomAccessMemory,隨機(jī)存儲(chǔ)器),這種存儲(chǔ)器運(yùn)行速度較快,主要用于程序運(yùn)行時(shí)的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市面上一些主流存儲(chǔ)器類型的劃分DDR存儲(chǔ)器信號(hào)和協(xié)議測(cè)試;

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      DDR測(cè)試按照存儲(chǔ)信息方式的不同,隨機(jī)存儲(chǔ)器又分為靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器SRAM(StaticRAM)和動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器DRAM(DynamicRAM)。SRAM運(yùn)行速度較快、時(shí)延小、控制簡(jiǎn)單,但是SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需要多個(gè)晶體管,不容易實(shí)現(xiàn)大的存儲(chǔ)容量,主要用于一些對(duì)時(shí)延和速度有要求但又不需要太大容量的場(chǎng)合,如一些CPU芯片內(nèi)置的緩存等。DRAM的時(shí)延比SRAM大,而且需要定期的刷新,控制電路相對(duì)復(fù)雜。但是由于DRAM每比特?cái)?shù)據(jù)存儲(chǔ)只需要一個(gè)晶體管,因此具有集成度高、功耗低、容量大、成本低等特點(diǎn),目前已經(jīng)成為大容量RAM的主流,典型的如現(xiàn)在的PC、服務(wù)器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量?jī)?nèi)存都是DRAM。DDR有那些測(cè)試解決方案;智能化多端口矩陣測(cè)試DDR測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

      DDR的規(guī)范要求進(jìn)行需求;黑龍江DDR測(cè)試銷售

      DDR測(cè)試

      測(cè)試頭設(shè)計(jì)模擬針對(duì)測(cè)試的設(shè)計(jì)(DFT)當(dāng)然收人歡迎,但卻不現(xiàn)實(shí)。因?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試儀的所需的測(cè)試時(shí)間與花費(fèi)正比于內(nèi)存芯片的存儲(chǔ)容量。顯然測(cè)試大容量的DDR芯片花費(fèi)是相當(dāng)可觀的。新型DDR芯片的通用DFT功能一直倍受重視,所以人們不斷試圖集結(jié)能有效控制和觀察的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)。DFT技術(shù),如JEDEC提出的采用并行測(cè)試模式進(jìn)行多陣列同時(shí)測(cè)試。不幸的是由于過(guò)于要求芯片電路尺寸,該方案沒(méi)有被采納。DDR作為一種商品,必須比較大限度減小芯片尺寸來(lái)保持具有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)位。 黑龍江DDR測(cè)試銷售

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