DDR測試
制定DDR內(nèi)存規(guī)范的標準按照JEDEC組織的定義,DDR4的比較高數(shù)據(jù)速率已經(jīng)達到了3200MT/s以上,DDR5的比較高數(shù)據(jù)速率則達到了6400MT/s以上。在2016年之前,LPDDR的速率發(fā)展一直比同一代的DDR要慢一點。但是從LPDDR4開始,由于高性能移動終端的發(fā)展,LPDDR4的速率開始趕超DDR4。LPDDR5更是比DDR5搶先一步在2019年完成標準制定,并于2020年在的移動終端上開始使用。DDR5的規(guī)范(JESD79-5)于2020年發(fā)布,并在2021年開始配合Intel等公司的新一代服務(wù)器平臺走向商 DDR3信號質(zhì)量自動測試軟件報告;DDR測試DDR測試檢查

1.目前,比較普遍使用中的DDR2的速度已經(jīng)高達800Mbps,甚至更高的速度,如1066Mbps,而DDR3的速度已經(jīng)高達1600Mbps。對于如此高的速度,從PCB的設(shè)計角度來幫大家分析,要做到嚴格的時序匹配,以滿足信號的完整性,這里有很多的因素需要考慮,所有的這些因素都有可能相互影響。它們可以被分類為PCB疊層、阻抗、互聯(lián)拓撲、時延匹配、串?dāng)_、信號及電源完整性和時序,目前,有很多EDA工具可以對它們進行很好的計算和仿真,其中CadenceALLEGROSI-230和Ansoft’sHFSS使用的比較多。顯示了DDR2和DDR3所具有的共有技術(shù)要求和專有的技術(shù)要求遼寧測量DDR測試DDR總線利用率和讀寫吞吐率的統(tǒng)計;

14.在本發(fā)明的一個實施例中,所述相關(guān)信號包括dqs信號、clk信號和dq信號,所述標志信號為dqs信號。15.在本發(fā)明的一個實施例中,所述根據(jù)標志信號對示波器進行相關(guān)參數(shù)配置,具體包括:16.利用示波器分別采集標志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值;17.對標志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值進行比較,確定標志信號的電平閾值;18.在示波器中配置標志信號的電平閾值。19.在本發(fā)明的一個實施例中,所述利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的讀寫信號進行信號分離,具體包括:20.將標志信號的實時電平幅值與標志信號的電平閾值進行比較;21.將大于電平閾值的標志信號和小于電平閾值的標志信號分別進行信號的分離,得到數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的標志信號。
8.PCBLayout在實際的PCB設(shè)計時,考慮到SI的要求,往往有很多的折中方案。通常,需要優(yōu)先考慮對于那些對信號的完整性要求比較高的。畫PCB時,當(dāng)考慮以下的一些相關(guān)因素,那么對于設(shè)計PCB來說可靠性就會更高。1)首先,要在相關(guān)的EDA工具里設(shè)置好拓撲結(jié)構(gòu)和相關(guān)約束。2)將BGA引腳突圍,將ADDR/CMD/CNTRL引腳布置在DQ/DQS/DM字節(jié)組的中間,由于所有這些分組操作,為了盡可能少的信號交叉,一些的管腳也許會被交換到其它區(qū)域布線。3)由串?dāng)_仿真的結(jié)果可知,盡量減少短線(stubs)長度。通常,短線(stubs)是可以被削減的,但不是所有的管腳都做得到的。在BGA焊盤和存儲器焊盤之間也許只需要兩段的走線就可以實現(xiàn)了,但是此走線必須要很細,那么就提高了PCB的制作成本,而且,不是所有的走線都只需要兩段的,除非使用微小的過孔和盤中孔的技術(shù)。終,考慮到信號完整性的容差和成本,可能選擇折中的方案。DDR在信號測試中解決的問題有那些;

DDR測試
DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的,但是通常DDR芯片采用BGA封裝,引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉(zhuǎn)接板的方式,其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳處的信號質(zhì)量,一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數(shù)模型文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據(jù)實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數(shù),來計算期望位置處的信號波形,再對這個信號做進一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計。圖5.15展示了典型的DDR4和DDR5信號質(zhì)量測試環(huán)境,以及在示波器中進行去嵌入操作的界面。 DDR的信號探測技術(shù)方法;山西DDR測試多端口矩陣測試
借助協(xié)議解碼軟件看DDR的會出現(xiàn)數(shù)據(jù)有那些;DDR測試DDR測試檢查
DDR測試DDR/LPDDR簡介目前在計算機主板和各種嵌入式的應(yīng)用中,存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩種:一種是非易失性的,即掉電不會丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-OnlyMemory),這種存儲器速度較慢,主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等;另一種是易失性的,即掉電會丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(RandomAccessMemory,隨機存儲器),這種存儲器運行速度較快,主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市面上一些主流存儲器類型的劃分DDR測試DDR測試檢查
一種ddr4內(nèi)存信號測試方法、裝置及存儲介質(zhì)技術(shù)領(lǐng)域1.本發(fā)明涉及計算機測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其是指一種ddr4內(nèi)存信號測試方法、裝置及存儲介質(zhì)。背景技術(shù):2.為保證服務(wù)器的平穩(wěn)運行以及服務(wù)器ddr4內(nèi)存的完好使用,測量服務(wù)器內(nèi)存的信號完整性是否符合標準已經(jīng)成了服務(wù)器研發(fā)過程中必不可少的重要流程。目前服務(wù)器主流都是適用ddr4內(nèi)存,為了保證數(shù)據(jù)的安全性和可靠性,ddr4鏈路的測試對服務(wù)器存儲性能評估有著至關(guān)重要的影響。3.目前服務(wù)器ddr4信號的測試無法進行正常工作狀態(tài)的讀寫分離,只能利用主控芯片進行讀寫命令來進行相應(yīng)讀或?qū)懙臏y試,效率較低且不能完全反映正常工作狀態(tài)下的波形,在信號完整性測試上有比較...