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      企業(yè)商機
      DDR測試基本參數(shù)
      • 品牌
      • 克勞德
      • 型號
      • DDR測試
      DDR測試企業(yè)商機

      14.在本發(fā)明的一個實施例中,所述相關信號包括dqs信號、clk信號和dq信號,所述標志信號為dqs信號。15.在本發(fā)明的一個實施例中,所述根據(jù)標志信號對示波器進行相關參數(shù)配置,具體包括:16.利用示波器分別采集標志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值;17.對標志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值進行比較,確定標志信號的電平閾值;18.在示波器中配置標志信號的電平閾值。19.在本發(fā)明的一個實施例中,所述利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的讀寫信號進行信號分離,具體包括:20.將標志信號的實時電平幅值與標志信號的電平閾值進行比較;21.將大于電平閾值的標志信號和小于電平閾值的標志信號分別進行信號的分離,得到數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的標志信號。借助協(xié)議解碼軟件看DDR的會出現(xiàn)數(shù)據(jù)有那些;DDR測試聯(lián)系方式

      DDR測試聯(lián)系方式,DDR測試

      對于DDR2和DDR3,時鐘信號是以差分的形式傳輸?shù)?,而在DDR2里,DQS信號是以單端或差分方式通訊取決于其工作的速率,當以高度速率工作時則采用差分的方式。顯然,在同樣的長度下,差分線的切換時延是小于單端線的。根據(jù)時序仿真的結果,時鐘信號和DQS也許需要比相應的ADDR/CMD/CNTRL和DATA線長一點。另外,必須確保時鐘線和DQS布在其相關的ADDR/CMD/CNTRL和DQ線的當中。由于DQ和DM在很高的速度下傳輸,所以,需要在每一個字節(jié)里,它們要有嚴格的長度匹配,而且不能有過孔。差分信號對阻抗不連續(xù)的敏感度比較低,所以換層走線是沒多大問題的,在布線時優(yōu)先考慮布時鐘線和DQS。智能化多端口矩陣測試DDR測試推薦貨源DDR4信號完整性測試案例;

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      DDR測試

      除了DDR以外,近些年隨著智能移動終端的發(fā)展,由DDR技術演變過來的LPDDR(Low-PowerDDR,低功耗DDR)也發(fā)展很快。LPDDR主要針對功耗敏感的應用場景,相對于同一代技術的DDR來說會采用更低的工作電壓,而更低的工作電壓可以直接減少器件的功耗。比如LPDDR4的工作電壓為1.1V,比標準的DDR4的1.2V工作電壓要低一些,有些廠商還提出了更低功耗的內(nèi)存技術,比如三星公司推出的LPDDR4x技術,更是把外部I/O的電壓降到了0.6V。但是要注意的是,更低的工作電壓對于電源紋波和串擾噪聲會更敏感,其電路設計的挑戰(zhàn)性更大。除了降低工作電壓以外,LPDDR還會采用一些額外的技術來節(jié)省功耗,比如根據(jù)外界溫度自動調(diào)整刷新頻率(DRAM在低溫下需要較少刷新)、部分陣列可以自刷新,以及一些對低功耗的支持。同時,LPDDR的芯片一般體積更小,因此占用的PCB空間更小。

      這里有三種方案進行對比考慮:一種是,通過過孔互聯(lián)的這個過孔附近沒有任何地過孔,那么,其返回路徑只能通過離此過孔250mils的PCB邊緣來提供;第二種是,一根長達362mils的微帶線;第三種是,在一個信號線的四周有四個地過孔環(huán)繞著。圖6顯示了帶有60Ohm的常規(guī)線的S-Parameters,從圖中可以看出,帶有四個地過孔環(huán)繞的信號過孔的S-Parameters就像一根連續(xù)的微帶線,從而提高了S21特性。

      由此可知,在信號過孔附近缺少返回路徑的情況下,則此信號過孔會增高其阻抗。當今的高速系統(tǒng)里,在時延方面顯得尤為重要。 DDR的信號探測技術方法;

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          對于DDR源同步操作,必然要求DQS選通信號與DQ數(shù)據(jù)信號有一定建立時間tDS和保持時間tDH要求,否則會導致接收鎖存信號錯誤,DDR4信號速率達到了,單一比特位寬為,時序裕度也變得越來越小,傳統(tǒng)的測量時序的方式在短時間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值,無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動帶來的對時序惡化的貢獻,也很難準確反映隨機抖動Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動因素,基于雙狄拉克模型分解抖動和噪聲的隨機性和確定性成分,外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會在規(guī)范中明確了在DDR4中測試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓,確保滿足在Vcent周圍Tdivw時間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 主流DDR內(nèi)存標準的比較;智能化多端口矩陣測試DDR測試推薦貨源

      DDR規(guī)范里關于信號建立保持是的定義;DDR測試聯(lián)系方式

      DDR5具備如下幾個特點:·更高的數(shù)據(jù)速率·DDR5比較大數(shù)據(jù)速率為6400MT/s(百萬次/秒),而DDR4為3200MT/s,DDR5的有效帶寬約為DDR4的2倍?!じ偷哪芎摹DR5的工作電壓為1.1V,低于DDR4的1.2V,能降低單位頻寬的功耗達20%以上·更高的密度·DDR5將突發(fā)長度增加到BL16,約為DDR4的兩倍,提高了命令/地址和數(shù)據(jù)總線效率。相同的讀取或?qū)懭胧聞宅F(xiàn)在提供數(shù)據(jù)總線上兩倍的數(shù)據(jù),同時限制同一存儲庫內(nèi)輸入輸出/陣列計時約束的風險。此外,DDR5使存儲組數(shù)量翻倍,這是通過在任意給定時間打開更多頁面來提高整體系統(tǒng)效率的關鍵因素。所有這些因素都意味著更快、更高效的內(nèi)存以滿足下一代計算的需求。DDR測試聯(lián)系方式

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