上海校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類似眼圖的分布圖，這個(gè)分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實(shí)現(xiàn)原理類似。雖然和示波器實(shí) 際測(cè)試到的眼圖從實(shí)現(xiàn)原理和精度上都有一定差異，但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部，在實(shí)際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對(duì)于Lane Margin掃描的水平步長分辨率、 垂直步長分辨率、樣點(diǎn)和誤碼數(shù)統(tǒng)計(jì)等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號(hào)Lane Margin掃描的示例?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室PCI-e的軟件編程接口;上海校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

在測(cè)試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測(cè)試采用了雙口(Dual-Port)測(cè)試方法，即需要 把被測(cè)的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測(cè)試。由于測(cè)試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測(cè)試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接，但是由于會(huì)引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對(duì)于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中，對(duì)于 主板的測(cè)試也采用了類似于插卡測(cè)試的單口(Single-Port)方法，即只把被測(cè)數(shù)據(jù)通道接入 示波器測(cè)試，這樣信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號(hào)質(zhì)量測(cè)試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG黑龍江PCI-E測(cè)試規(guī)格尺寸PCIE與負(fù)載只有時(shí)鐘線和數(shù)據(jù)線，搜索的時(shí)候沒有控制管理線，怎么找到的寄存器呢？

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會(huì)先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式，還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過各種信號(hào)處理技術(shù)的結(jié)合，PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎(chǔ)上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時(shí)收/發(fā)芯片會(huì)變  得更加復(fù)雜，系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設(shè)計(jì)和測(cè)試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。為什么沒有PCIE轉(zhuǎn)DP或hdmi？

PCIe4.0的測(cè)試項(xiàng)目PCIe相關(guān)設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測(cè)試指南)。在PCIe3.0的測(cè)試指南中，規(guī)定需要進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測(cè)試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能?！onfigurationTesting(配置測(cè)試):用于檢查PCIe設(shè)備的配置空間?！inkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備的鏈路層協(xié)議行為。PCI-E 3.0及信號(hào)完整性測(cè)試方法;中國澳門PCI-E測(cè)試檢查

PCIE物理層鏈路一致性測(cè)試狀態(tài)設(shè)計(jì)；上海校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

另外，在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項(xiàng)目測(cè)試中，都還需要用到能 與被測(cè)件進(jìn)行動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信  號(hào)、能夠支持外部100MHz參考時(shí)鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測(cè)試需要的不同Preset的預(yù)加  重組合，同時(shí)還要能夠?qū)敵龅男盘?hào)進(jìn)行抖動(dòng)和噪聲的調(diào)制，并對(duì)接收回來的信號(hào)進(jìn)行均 衡、時(shí)鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決，在進(jìn)行測(cè)試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個(gè)典型的發(fā)射機(jī)LinkEQ測(cè)試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目  與下面要介紹的接收容限測(cè)試的連接和組網(wǎng)方式比較類似，所以細(xì)節(jié)也可以參考下面章節(jié)  內(nèi)容，其相關(guān)的測(cè)試軟件通常也和接收容限的測(cè)試軟件集成在一起。上海校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

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