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  • 企業(yè)商機(jī)
    XRD衍射儀基本參數(shù)
    • 品牌
    • 布魯克
    • 型號
    • D8
    XRD衍射儀企業(yè)商機(jī)

    D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知。得益于出色的分辨率、低角度和低背景,該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),保證實現(xiàn)儀器對準(zhǔn)(精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ)。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗證協(xié)議,它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。在DIFFRAC.EVA中,進(jìn)行半定量分析,以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度。物相定量分析XRD衍射儀配件

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    X射線反射率測定引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)是一種表面表征技術(shù),是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)。XRR的特點:1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求,不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測試3XRR適用于納米薄膜,要求厚度小于500nm4晶面膜,表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差廣東BRUKERXRD衍射儀配件該X射線源有6kW的功率,其強(qiáng)度是標(biāo)準(zhǔn)陶瓷射線管5倍,在線焦點和點焦點應(yīng)用中均具有出色的性能。

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    材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,主要用于研究和質(zhì)控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu)、研究快速可靠的SAXS測量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)(微晶尺寸)。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)(PDF)陽極焦炭(LC值)分析(PDF)DIFFRAC.DQUANT:對殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化(PDF)布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案,旨在以可靠的方式,支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作。

    由于具有出色的適應(yīng)能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。D8D在金屬樣品檢測中,殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測是其中小部分,目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求。

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    材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,因此擴(kuò)展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進(jìn)行電動移動:X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品;緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,Psi傾斜度在-5°到95°之間,可用于應(yīng)力、織構(gòu)和外延薄膜分析。另外,它還具有真空多用途通孔,可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,將樣品固定在適當(dāng)位置。二者均可用于溫控樣品臺,進(jìn)行非環(huán)境分析。另外,它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),輕松更換樣品臺??装搴统练e樣品在反射和透射中的高通量篩選。合肥應(yīng)力檢測分析

    利用布魯克樣品臺,能精確地操縱樣品。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺。物相定量分析XRD衍射儀配件

    蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石。根據(jù)中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應(yīng)用場合,它都是值得您選擇的探測器:高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)物相定量分析XRD衍射儀配件

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    納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)...

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