河北三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT檢測(cè)

特點(diǎn)超高速度、質(zhì)量圖像SKYSCAN1275專為快速掃描多種樣品而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)采用一個(gè)功能強(qiáng)大的廣角X射線源(100kV)和高效的大型平板探測(cè)器,可以輕松實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品掃描。由于X射線源到探測(cè)器的距離較短以及快速的探測(cè)器讀出能力,SKYSCAN1275可以明顯提高工作效率——從幾小時(shí)縮短至幾分鐘,并保證不降低圖像質(zhì)量。SKYSCAN1275如此迅速,甚至可以實(shí)現(xiàn)四維動(dòng)態(tài)成像。Push-Button-CT?讓操作變得極為簡(jiǎn)單您只需選擇手動(dòng)或自動(dòng)插入一個(gè)樣品,就可以自動(dòng)獲得完整的三維容積,無(wú)需其他操作。Push-Button-CT包含了所有工作流程:自動(dòng)樣品尺寸檢測(cè)、樣品掃描、三維重建以及三維可視化。選配自動(dòng)進(jìn)樣器,SKYSCAN1275可以全天候工作。靈活易用、功能各方面除了Push-Button-CT模式,SKYSCAN1275還可以提供有經(jīng)驗(yàn)用戶所期待的μCT系統(tǒng)功能。通過(guò)使用加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)，可在非環(huán)境條件下檢測(cè)樣品，從而評(píng)估溫度對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。河北三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT檢測(cè)

在納米CT圖像定量分析的過(guò)程中，相信大家都遇到過(guò)這樣的情況：很難找到一個(gè)合適的閾值來(lái)分割我們要分析的對(duì)象。尤其是對(duì)于顯微ct掃描樣品中的細(xì)微結(jié)構(gòu)而言，由于沒(méi)有足夠高的分辨率來(lái)表征，高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值，局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對(duì)我們的閾值選取、個(gè)體分割造成了非常大的困難，尤其是動(dòng)輒幾百兆，幾個(gè)G的三維CT數(shù)據(jù)。所以在進(jìn)行閾值分割之前，各種濾波工具就被我們拿來(lái)強(qiáng)化對(duì)象，弱化背景噪音，以期能夠得到一個(gè)更準(zhǔn)確的結(jié)果。吉林包含什么顯微CT推薦咨詢XRM根據(jù)密度不同來(lái)進(jìn)行區(qū)域劃分，包括孔隙網(wǎng)絡(luò)。

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動(dòng)選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動(dòng)優(yōu)化放大率、能量、過(guò)濾、曝光時(shí)間和背景校正。而且，由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測(cè)器盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實(shí)測(cè)的信號(hào)強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個(gè)原因，SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測(cè)器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)較為多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS纖維和復(fù)合材料FFP2口罩的三維渲染，根據(jù)局部取向?qū)w維進(jìn)行彩色編碼通過(guò)將材料組合成復(fù)合材料，獲得的組件可以擁有更高的強(qiáng)度，同時(shí)大為減輕重量。而要想進(jìn)一步優(yōu)化組件性能，就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。較為常用的組分之一是纖維，有混凝土中的鋼筋，電子元件中的玻璃纖維，還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測(cè)纖維和復(fù)合材料，而無(wú)需進(jìn)行橫切，從而確保樣品狀態(tài)不會(huì)在制備樣品的過(guò)程中受到影響。1.嵌入對(duì)象的方向2.層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析3.采用原位樣品臺(tái)檢測(cè)溫度和物理性質(zhì)。

各向異性擴(kuò)散濾波新版中增加的一些特性，其中之一就是強(qiáng)大高效的濾波工具“AnisotropicDiffusion，各向異性擴(kuò)散”?！备黜?xiàng)異性”，顧名思義，就是在進(jìn)行平滑處理時(shí)各個(gè)方向并不相同，只就垂直于邊界的區(qū)域進(jìn)行平滑處理，保持邊界不會(huì)變的模糊。“擴(kuò)散”意味著強(qiáng)度沒(méi)有整體增加或減少，即沒(méi)有強(qiáng)度信號(hào)的產(chǎn)生或破壞：對(duì)密度測(cè)量有利。各向異性擴(kuò)散濾波器在降噪和邊緣保持之間提供了較好的平衡。分水嶺算法在CTAn的形態(tài)學(xué)操作插件中，用戶現(xiàn)在可以為分水嶺算法定義容差，并采用H-minima變換以≤該容差值的動(dòng)態(tài)強(qiáng)度抑制區(qū)域最小值，將“黏連”在一起的對(duì)象區(qū)分開(kāi)。接下來(lái)利用Individualobjectanalysis插件，可以將采用不同顏色編碼的圖像保存到剪貼板，根據(jù)所選的特征，每個(gè)個(gè)體會(huì)被賦予一個(gè)灰度值。歐拉數(shù)和連通性參數(shù)以前只在3D綜合分析中可用，現(xiàn)在它們也可用于單獨(dú)個(gè)體的3D對(duì)象分析。此外，軟件調(diào)整了歐拉數(shù)的算法，解決負(fù)連接的問(wèn)題。由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測(cè)器盡可能地靠近光源，SKYSCAN1272的掃描速度比探測(cè)器位置固定的系統(tǒng)可快5倍。

先進(jìn)的無(wú)損三維顯微鏡顯微CT即Micro-CT，為三維X射線成像，與醫(yī)用CT（或“CAT”）原理相同，可進(jìn)行小尺寸、高精度掃描。通過(guò)對(duì)樣品內(nèi)部非常細(xì)微的結(jié)構(gòu)進(jìn)行無(wú)損成像，真正實(shí)現(xiàn)三維顯微成像。無(wú)需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品對(duì)象的完整內(nèi)部三維結(jié)構(gòu)的完整成像，并且可以完好取回樣本品！Skyscan高分辨率、多量程、顯微CT滿足常規(guī)和非常規(guī)儲(chǔ)層全尺寸巖心或感興趣區(qū)的高分辨率三維無(wú)損成像檢測(cè)，從微觀到宏觀不同分辨率的掃描、分析需求。專業(yè)的應(yīng)用分析團(tuán)隊(duì)，為地質(zhì)、石油和天然氣勘探等領(lǐng)域提供解決方案。1)測(cè)量孔隙尺寸和滲透率，顆粒尺寸和形狀2)測(cè)量礦物相在3D空間的分析3)原位動(dòng)態(tài)過(guò)程分析等~SKYSCAN 1272 CMOS只需單擊一下，即可自動(dòng)優(yōu)化放大率、能量、過(guò)濾、曝光時(shí)間和背景校正。鋰電池?zé)o損檢測(cè)

和其它的試驗(yàn)臺(tái)一樣，加熱和冷卻臺(tái)也不需要任何額外的連接，系統(tǒng)可以自動(dòng)地識(shí)別不同的試驗(yàn)臺(tái)。河北三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT檢測(cè)

Mμm):5mm–limitedbygeometryLargestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat130kVGeomaterials:1inch–4cm(thiscorrespondsto‘fullcore’formanyoilandgasapplications).Metals:1–2cm?primarilyAl,Ti,(Fe)Electronics:severalcmifsamplesare‘plate-like’:–250mminoffsetmodus.Voxelsizeinthiscaseis54μm河北三維結(jié)構(gòu)查看顯微CT檢測(cè)