由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。在DIFFRAC.TEXTURE中,使用球諧函數(shù)和分量方法,生成極圖、取向分布函數(shù)(ODF)和體積定量分析。廣州進口XRD衍射儀哪里好

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設計。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析3.殘余應力分析、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(shù)(PDF)、小角X射線散射(SAXS)浙江點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀推薦咨詢D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,可通過使用的是標準D8測角儀還是ATLAS測角儀進行區(qū)分。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量、殘余應力、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。
XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,K=0.89;其他K=1)ADVANCE采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內(nèi)。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應變和微晶尺寸分析 應力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析。第三方檢測機構(gòu)XRD衍射儀推薦咨詢
D8 DISCOVER 特點:UMC樣品臺可對重達5 kg的樣品進行掃描、大區(qū)域映射300mm的樣品、高通量篩選支持三個孔板。廣州進口XRD衍射儀哪里好
粉煤灰中晶態(tài)礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當前排量較大的工業(yè)廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,就會產(chǎn)生揚塵,污染大氣;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學物質(zhì)還會對人體和生物造成危害。所以,粉煤灰的再利用一直都是關注的熱點。比如,已用于制水泥及制各種輕質(zhì)建材等。要合理高效的利用粉煤灰,則需要對其元素和礦相組成有詳細的了解。粉煤灰的礦相主要莫來石、石英以及大量的非晶態(tài)。利用XRD測定非晶態(tài)通常采用加入特定含量的標準物質(zhì)以精確的計算非晶相物質(zhì)的含量。在實驗室中這個方法是可行的,但在實際生產(chǎn)和快速檢測過程中,這個方法就現(xiàn)實。目前一種全新的PONKS(PartialOrNoKnowCrystalStructure)方法*,解決了這一難題,實現(xiàn)了粉煤灰樣品的無標樣定量分析。廣州進口XRD衍射儀哪里好
藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結(jié)構(gòu)測定、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質(zhì)學:D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選。借助μXRD,哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下。金屬:在常見的金屬樣品檢測技術中。殘余奧氏體、殘余應力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分,檢測目的在于確保終產(chǎn)品復合終用戶的需求。薄膜計量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度、成分外延排列和應變松弛的一系列技術。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。江西進口XRD衍射儀配件EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-...