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杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2026-01-15
增加AI輔助缺陷分類(lèi)模塊，通過(guò)深度學(xué)習(xí)模型自動(dòng)識(shí)別裂紋、空洞等缺陷類(lèi)型。例如，某軟件升級(jí)后，系統(tǒng)對(duì)半導(dǎo)體封裝缺陷的識(shí)別準(zhǔn)確率從85%提升至95%。
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