杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-25
現(xiàn)代設(shè)備配備一鍵校準(zhǔn)、自動(dòng)掃描(A/B/C模式)、批量掃描及報(bào)告導(dǎo)出功能,例如某型號(hào)設(shè)備可在40秒內(nèi)完成10mm×10mm區(qū)域的掃描并生成缺陷分布圖,大幅提升檢測(cè)效率。
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