杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-12-24
無(wú)損檢測(cè)是其主要優(yōu)勢(shì)。傳統(tǒng)顯微鏡需破壞樣品表面,而超聲技術(shù)通過(guò)高頻聲波穿透材料,實(shí)現(xiàn)內(nèi)部缺陷檢測(cè),避免對(duì)樣品的物理?yè)p傷,適用于高價(jià)值或敏感材料(如半導(dǎo)體晶圓)。
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