杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-11-20
反射模式:通過(guò)檢測(cè)樣品內(nèi)部界面反射的超聲波,定位分層、裂紋等缺陷。適用于半導(dǎo)體封裝檢測(cè),可識(shí)別微米級(jí)空洞,檢測(cè)深度達(dá)10mm。
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