視彩(上海)光電技術(shù)有限公司2025-12-22
需根據(jù)測試需求選擇,兩者可互補。若側(cè)重全屏亮度/色度均勻性、Mura缺陷檢測,選成像式設(shè)備,能一次性獲取全屏分布數(shù)據(jù),效率高;若需準(zhǔn)確分析光譜特性(如主波長、峰值波長)、進行色彩深度校正,或?qū)纫髽O高(如色坐標(biāo)誤差±0.002以內(nèi)),則光譜式更合適。部分設(shè)備集成兩者功能,既能測全屏分布,又能獲取光譜數(shù)據(jù),適合OLED研發(fā)階段的測試。
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