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      企業(yè)商機(jī)
      PCI-E測試基本參數(shù)
      • 品牌
      • 克勞德
      • 型號
      • PCI-E測試
      PCI-E測試企業(yè)商機(jī)

      并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類似眼圖的分布圖,這個分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實(shí)現(xiàn)原理類似。雖然和示波器實(shí) 際測試到的眼圖從實(shí)現(xiàn)原理和精度上都有一定差異,但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部,在實(shí)際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對于Lane Margin掃描的水平步長分辨率、 垂直步長分辨率、樣點(diǎn)和誤碼數(shù)統(tǒng)計(jì)等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號Lane Margin掃描的示例??藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室PCI-E 3.0及信號完整性測試方法;上海PCI-E測試規(guī)格尺寸

      上海PCI-E測試規(guī)格尺寸,PCI-E測試

      綜上所述,PCIe4.0的信號測試需要25GHz帶寬的示波器,根據(jù)被測件的不同可能會 同時用到2個或4個測試通道。對于芯片的測試需要用戶自己設(shè)計(jì)測試板;對于主板或者  插卡的測試來說,測試夾具的Trace選擇、測試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了;

      在數(shù)據(jù)分析時除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外,還要把均衡器對信號的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動測試軟件都可以為PCle4. 0的測試提供很好的幫助。 青海PCI-E測試DDR測試PCI-E3.0的接收端測試中的Repeater起作用?

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      隨著數(shù)據(jù)速率的提高,芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術(shù),即信號的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發(fā)送,這樣可以部分補(bǔ)償傳輸線路對高 頻成分的衰減,從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重,2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對于3代和4代技術(shù)來說,由于信號速率更高,需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù),因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外,在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發(fā)送,這個增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應(yīng)對復(fù)雜的鏈路環(huán)境,

      需要注意的是,每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣,特別是CBB的 變化比較大,所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件,主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中,CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn); CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn);可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的,無論是哪種測試,ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中,要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響,用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。PCI-E測試信號完整性測試解決方案;

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      對于PCIe來說,由于長鏈路時的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號質(zhì)量,在PCIe3.0時代,有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量,但這個功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求,正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描,即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時刻以及垂直方向的信號判決閾值,如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?中國香港PCI-E測試價格優(yōu)惠

      PCI-E硬件測試方法有那些辦法;上海PCI-E測試規(guī)格尺寸

      PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下,主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差,同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些上海PCI-E測試規(guī)格尺寸

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