在測試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法,即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接,但是由于會引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中,對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試,這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖,芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG多個cpu socket的系統(tǒng)時,如何枚舉的?江蘇PCI-E測試聯(lián)系方式

這個軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測試過程,除了可以自動進(jìn)行示波器測量參數(shù)設(shè)置以及生成報告外,還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目,提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法,從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設(shè)置界面。
主板和插卡的測試項目針對的是系統(tǒng)設(shè)備廠商,需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試,遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設(shè)計PCIe芯片的廠商來說,其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范,并且需要自己設(shè)計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板,測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸,對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進(jìn)行評估或者去嵌入,測試板上還應(yīng) 設(shè)計和扇出通道疊層設(shè)計、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計成同軸連接方式,這樣可以通過對復(fù)制通道直接進(jìn)行測試 推測扇出通道的特性。 江蘇PCI-E測試聯(lián)系方式如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?

為了克服大的通道損耗,PCle5.0接收端的均衡能力也會更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個極點和2個零點,其直流增益可以在-5~ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整,以精確補(bǔ)償通道損耗的 影響。同時,為了更好地補(bǔ)償信號反射、串?dāng)_的影響,其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對于發(fā)射端來說,PCle5.0相對于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大, 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。
PCIe4.0的接收端容限測試在PCIel.0和2.0的時代,接收端測試不是必需的,通常只要保證發(fā)送端的信號質(zhì)量基本就能保證系統(tǒng)的正常工作。但是從PCle3.0開始,由于速率更高,所以接收端使用了均衡技術(shù)。由于接收端更加復(fù)雜而且其均衡的有效性會影響鏈路傳輸?shù)目煽啃?,所以接收端的容限測試變成了必測的項目。所謂接收容限測試,就是要驗證接收端對于惡劣信號的容忍能力。這就涉及兩個問題,一個是惡劣信號是怎么定義的,另一個是怎么判斷被測系統(tǒng)能夠容忍這樣的惡劣信號。PCI-E測試和協(xié)議調(diào)試;

當(dāng)被測件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后,被測件應(yīng)該會把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀,誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被 正確接收,測試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn) 行PCIe4.0的插卡接收的實際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等,非常適合速率高、要求復(fù)雜的場合。在接收端容限測試中, 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適,可能需要非常長的時 間進(jìn)行Stress Eye的計算和鏈路調(diào)整,甚至無法完成校準(zhǔn)和測試。 一般建議事先用VNA 標(biāo)定和選擇好鏈路,這樣校準(zhǔn)過程會快很多,測試結(jié)果也會更加準(zhǔn)確。所以,在PCIe4.0的 測試中,無論是發(fā)送端測試還是接收端測試,都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道 選擇。一種PCIE通道帶寬的測試方法;廣西PCI-E測試代理商
PCIE與負(fù)載只有時鐘線和數(shù)據(jù)線,搜索的時候沒有控制管理線,怎么找到的寄存器呢?江蘇PCI-E測試聯(lián)系方式
PCIe4.0的物理層技術(shù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)自從推出以來,1代和2代標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)在PC和Server上使用10多年時間,正在逐漸退出市場。出于支持更高總線數(shù)據(jù)吞吐率的目的,PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規(guī)范,數(shù)據(jù)速率分別達(dá)到8Gbps和16Gbps。目前,PCIe3.0和PCle4.0已經(jīng)在Server及PC上使用,PCIe5.0也在商用過程中。每一代PCIe規(guī)范更新的目的,都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎(chǔ)上提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率,同時保持和原有速率的兼容。別看這是一個簡單的目的,但實現(xiàn)起來并不容易。江蘇PCI-E測試聯(lián)系方式
在測試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法,即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接,但是由于會引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中,對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試,這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23...