要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù),比如輸出信號(hào)的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動(dòng)、周期抖動(dòng)等,以滿足眼高、眼寬和抖動(dòng)的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會(huì)相互制約,比如調(diào)整信號(hào)的幅度時(shí)除了會(huì)影響眼高也會(huì)影響到眼寬,因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會(huì)調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對(duì)信號(hào) 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡,并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求,會(huì)在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動(dòng)和差模噪聲的大小,直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口,怎么進(jìn)行PCI-E的測(cè)試?HDMI測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查

在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘,并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘,但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好,測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出,采用類似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出,則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。北京PCI-E測(cè)試產(chǎn)品介紹走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的 特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì),上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似,典型 的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早 期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的,根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部, 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部,成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線。PCIe 總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。
如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測(cè)試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測(cè) 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測(cè)試通道,而對(duì)端接收芯片封裝對(duì)信號(hào)的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測(cè)試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測(cè)試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測(cè)波形上。
PCIe4.0信號(hào)質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動(dòng)分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。 為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測(cè)試?

PCIe4.0的接收端容限測(cè)試在PCIel.0和2.0的時(shí)代,接收端測(cè)試不是必需的,通常只要保證發(fā)送端的信號(hào)質(zhì)量基本就能保證系統(tǒng)的正常工作。但是從PCle3.0開始,由于速率更高,所以接收端使用了均衡技術(shù)。由于接收端更加復(fù)雜而且其均衡的有效性會(huì)影響鏈路傳輸?shù)目煽啃?,所以接收端的容限測(cè)試變成了必測(cè)的項(xiàng)目。所謂接收容限測(cè)試,就是要驗(yàn)證接收端對(duì)于惡劣信號(hào)的容忍能力。這就涉及兩個(gè)問題,一個(gè)是惡劣信號(hào)是怎么定義的,另一個(gè)是怎么判斷被測(cè)系統(tǒng)能夠容忍這樣的惡劣信號(hào)。PCI-E4.0的標(biāo)準(zhǔn)什么時(shí)候推出?有什么變化?廣東信息化PCI-E測(cè)試
所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態(tài)硬盤用么?假如能的話插上可以改成引導(dǎo)系統(tǒng)的盤么?HDMI測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查
P5 、8Gbps P6 、8Gbps P7 、8Gbps P8 、8GbpsP9 、8Gbps P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps P2 、16Gbps P3 、16Gbps P4 、16Gbps P5 、16Gbps P6 、16GbpsP7 、16Gbps P8 、16Gbps P9、 16Gbps P10的一致性測(cè)試碼型。需要注意的一點(diǎn)是,由于在8Gbps和16Gbps下都有11種 Preset值,測(cè)試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測(cè)試的是哪一個(gè)Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動(dòng)通過夾具的Toggle按鍵進(jìn)行切換操作非常煩瑣,特別是一些Preset相關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目中需要頻繁切換,為了提高效率,也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號(hào)設(shè)置成使用外部信號(hào),這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號(hào)來自動(dòng)控制被測(cè)件切換。HDMI測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查
首先來看一下惡劣信號(hào)的定義,不是隨便一個(gè)信號(hào)就可以,且惡劣程度要有精確定義才 能保證測(cè)量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測(cè)試的這個(gè)惡劣信號(hào)叫作Stress Eye,即壓 力眼圖,實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法。這個(gè)信號(hào)是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號(hào),然后在這個(gè)信號(hào)上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、周期抖動(dòng)(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求,測(cè)試之前需要先用示波器對(duì)誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)。其中,ISI抖動(dòng)是由PCIe協(xié)會(huì)提供的測(cè)試 夾具產(chǎn)生,其夾具上會(huì)模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對(duì)信號(hào)的影響。在PCIe3.0的 CB...
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