自動化PCI-E測試系列

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關時，正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?自動化PCI-E測試系列

雖然在編碼方式和芯片內部做了很多工作，但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn)，特 別是當采用比較便宜的PCB板材時，就不得不適當減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下，還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個連接器實現(xiàn)可靠信號傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下，整個16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內，其中主板上芯片封裝、PCB/過孔走線、連接器的損耗總 預算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預算為-8dB@8GHz。

整個鏈路的長度需要控制在12英寸以內，并且鏈路上只能有一個連接器。如果需要支持更 長的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器，則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對信號進行 重新整形和中繼。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預算，圖中各 個部分的鏈路預算對于設計和測試都非常重要，對于測試部分的影響后面會具體介紹。 測量PCI-E測試保養(yǎng)在PCI-E的信號質量測試中需要捕獲多少的數(shù)據(jù)進行分析？

CTLE均衡器可以比較好地補償傳輸通道的線性損耗，但是對于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號反射)的補償還需要借助于DFE的均衡器，而且隨著信號速率的提升，接收端的眼圖裕量越來越小，采用的DFE技術也相應要更加復雜。在PCle3.0的 規(guī)范中，針對8Gbps的信號，定義了1階的DFE配合CTLE完成信號的均衡；而在PCle4.0 的規(guī)范中，針對16Gbps的信號，定義了更復雜的2階DFE配合CTLE進行信號的均衡。 圖 4 .5 分別是規(guī)范中針對8Gbps和16Gbps信號接收端定義的DFE均衡器(參考資料： PCI   Express@   Base   Specification   4.0)。

校準完成后，在進行正式測試前，很重要的一點就是要能夠設置被測件進入環(huán)回模式。 雖然調試時也可能會借助芯片廠商提供的工具設置環(huán)回，但標準的測試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進行被測件環(huán)回模式的設置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對于PCle協(xié)議理解的功  能，只能盲發(fā)訓練序列，這樣的缺點是由于沒有經過正常的鏈路協(xié)商，可能會無法把被測件  設置成正確的狀態(tài)?，F(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺已經集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能，能夠  真正和被測件進行訓練序列的溝通，除了可以有效地把被測件設置成正確的環(huán)回狀態(tài)，還可  以和對端被測設備進行預加重和均衡的鏈路溝通。PCI-E4.0的發(fā)射機質量測試？

為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會更強一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個極點和2個零點，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進行調整，以精確補償通道損耗的  影響。同時，為了更好地補償信號反射、串擾的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復 雜的3-Tap均衡器。對于發(fā)射端來說，PCle5.0相對于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大， 仍然是3階的FIR預加重以及11種預設好的Preset組合。PCI-E測試信號完整性測試解決方案；吉林多端口矩陣測試PCI-E測試

一種PCIE通道帶寬的測試方法;自動化PCI-E測試系列

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