DDR測試DDR測試項目

實際的電源完整性是相當(dāng)復(fù)雜的，其中要考慮到IC的封裝、仿真信號的切換頻率和PCB耗電網(wǎng)絡(luò)。對于PCB設(shè)計來說，目標(biāo)阻抗的去耦設(shè)計是相對來說比較簡單的，也是比較實際的解決方案。在DDR的設(shè)計上有三類電源，它們是VDD、VTT和Vref。VDD的容差要求是5%，而其瞬間電流從Idd2到Idd7大小不同，詳細(xì)在JEDEC里有敘述。通過電源層的平面電容和用的一定數(shù)量的去耦電容，可以做到電源完整性，其中去耦電容從10nF到10uF大小不同，共有10個左右。另外，表貼電容合適，它具有更小的焊接阻抗。Vref要求更加嚴(yán)格的容差性，但是它承載著比較小的電流。顯然，它只需要很窄的走線，且通過一兩個去耦電容就可以達(dá)到目標(biāo)阻抗的要求。由于Vref相當(dāng)重要，所以去耦電容的擺放盡量靠近器件的管腳。然而，對VTT的布線是具有相當(dāng)大的挑戰(zhàn)性，因為它不只要有嚴(yán)格的容差性，而且還有很大的瞬間電流，不過此電流的大小可以很容易的就計算出來。終，可以通過增加去耦電容來實現(xiàn)它的目標(biāo)阻抗匹配。在4層板的PCB里，層之間的間距比較大，從而失去其電源層間的電容優(yōu)勢，所以，去耦電容的數(shù)量將增加，尤其是小于10nF的高頻電容。詳細(xì)的計算和仿真可以通過EDA工具來實現(xiàn)。DDR協(xié)議檢查后生成的測試報告；DDR測試DDR測試項目

DDR測試

DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種：一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒，另一種是做成DIMM條(DualIn-lineMemoryModule,雙列直插內(nèi)存模塊，主要用于服務(wù)器和PC)或SO-DIMM(SmallOutlineDIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存，主要用于筆記本)的形式插在主板上使用。在服務(wù)器領(lǐng)域，使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路，延時較小，但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個內(nèi)存顆粒時，UDIMM需要保證CPU到每個內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等，設(shè)計難度較大，因此UDIMM在容量和頻率上都較低，通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場合。 DDR測試DDR測試項目DDR工作原理與時序問題；

DDR5發(fā)送端測試隨著信號速率的提升，SerDes技術(shù)開始在DDR5中采用，如會采用DFE均衡器改善接收誤碼率，另外DDR總線在發(fā)展過程中引入訓(xùn)練機(jī)制，不再是簡單的要求信號間的建立保持時間，在DDR4的時始使用眼圖的概念，在DDR5時代，引入抖動成分概念，從成因上區(qū)分解Rj，Dj等，對芯片或系統(tǒng)設(shè)計提供更具體的依據(jù)；在抖動的參數(shù)分析上，也增加了一些新的抖動定義參數(shù)，并有嚴(yán)苛的測量指標(biāo)。針對這些要求，提供了完整的解決方案。UXR示波器，配合D9050DDRC發(fā)射機(jī)一致性軟件，及高阻RC探頭MX0023A，及Interposer，可以實現(xiàn)對DDR信號的精確表征。

14.在本發(fā)明的一個實施例中，所述相關(guān)信號包括dqs信號、clk信號和dq信號，所述標(biāo)志信號為dqs信號。15.在本發(fā)明的一個實施例中，所述根據(jù)標(biāo)志信號對示波器進(jìn)行相關(guān)參數(shù)配置，具體包括：16.利用示波器分別采集標(biāo)志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值；17.對標(biāo)志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值進(jìn)行比較，確定標(biāo)志信號的電平閾值；18.在示波器中配置標(biāo)志信號的電平閾值。19.在本發(fā)明的一個實施例中，所述利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的讀寫信號進(jìn)行信號分離，具體包括：20.將標(biāo)志信號的實時電平幅值與標(biāo)志信號的電平閾值進(jìn)行比較；21.將大于電平閾值的標(biāo)志信號和小于電平閾值的標(biāo)志信號分別進(jìn)行信號的分離，得到數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的標(biāo)志信號。DDR測試USB眼圖測試設(shè)備？

4.為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種ddr4內(nèi)存信號測試方法、裝置及存儲介質(zhì)，可以反映正常工作狀態(tài)下的波形，可以提高測試效率。5.為實現(xiàn)上述目的，本技術(shù)提出技術(shù)方案：6.一種ddr4內(nèi)存信號測試方法，所述方法包括以下步驟：7.s1，將服務(wù)器、ddr4內(nèi)存和示波器置于正常工作狀態(tài)，然后利用示波器采集ddr4內(nèi)存中的相關(guān)信號并確定標(biāo)志信號；8.s2，根據(jù)標(biāo)志信號對示波器進(jìn)行相關(guān)參數(shù)配置，利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的信號進(jìn)行讀寫信號分離；9.s3，利用示波器對分離后的讀寫信號進(jìn)行測試。10.在本發(fā)明的一個實施例中，所述將服務(wù)器、ddr4內(nèi)存和示波器置于正常工作狀態(tài)，然后利用示波器采集ddr4內(nèi)存中的相關(guān)信號并確定標(biāo)志信號，具體包括：11.將示波器與ddr4內(nèi)存的相關(guān)信號引腳進(jìn)行信號連接；12.將服務(wù)器、ddr4內(nèi)存和示波器置于正常工作狀態(tài)；13.利用示波器對ddr4內(nèi)存的相關(guān)信號進(jìn)行采集并根據(jù)相關(guān)信號的波形確定標(biāo)志信號。DDR3信號質(zhì)量自動測試軟件報告；解決方案DDR測試HDMI測試

DDR測試技術(shù)介紹與工具分析；DDR測試DDR測試項目

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DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3.0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器，因此需要進(jìn)行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣信號下的表現(xiàn)。對于DDR來說，DDR4及之前的總線接收端還相對比較簡單，只是做一些匹配、時延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時代(圖5.19),由于信號速率更高，因此接收端也開始采用很多高速串行總線中使用的可變增益調(diào)整以及均衡器技術(shù)，這也使得DDR5測試中必須關(guān)注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR測試DDR測試項目