甘肅DDR一致性測(cè)試USB測(cè)試

我們看到，在用通用方法進(jìn)行的眼圖測(cè)試中，由于信號(hào)的讀寫和三態(tài)都混在一起，因此很難對(duì)信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估。要進(jìn)行信號(hào)的評(píng)估，第1步是要把讀寫信號(hào)分離出來(lái)。傳統(tǒng)上有幾種方法用來(lái)進(jìn)行讀寫信號(hào)的分離，但都存在一定的缺陷?？梢岳米x寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā)，但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限，因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的，而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣，則不能進(jìn)行分離。也可以利用讀寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離，如圖7-138中間 的圖片所示，但是如果讀寫信號(hào)幅度差別不大，則也不適用6還可以根據(jù)RAS、CAS、CS、 WE等控制信號(hào)來(lái)分離讀寫，但這種方法要求通道數(shù)多于4個(gè)，只 有帶數(shù)字通道的MSO示波器才能滿足要求，比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列，對(duì)于用戶示波器的要求比較高。DDR4 電氣一致性測(cè)試應(yīng)用軟件。甘肅DDR一致性測(cè)試USB測(cè)試

每個(gè)DDR芯片獨(dú)享DOS，DM信號(hào);四片DDR芯片共享RAS#，CAS#，CS#，WE#控制信號(hào)。

DDR工作頻率為133MHz。

DDR 控制器選用Xilinx公司的 FPGA，型號(hào)為XC2VP30 6FF1152C

得到這個(gè)設(shè)計(jì)需求之后，我們首先要進(jìn)行器件選型，然后根據(jù)所選的器件，準(zhǔn)備相關(guān)的設(shè)計(jì)資料。一般來(lái)講，對(duì)于經(jīng)過(guò)選型的器件，為了使用這個(gè)器件進(jìn)行相關(guān)設(shè)計(jì)，需要有如下資料。

器件數(shù)據(jù)手冊(cè)Datasheet:這個(gè)是必須要有的。如果沒(méi)有器件手冊(cè)，是沒(méi)有辦法進(jìn)行設(shè)計(jì)的(一般經(jīng)過(guò)選型的器件，設(shè)計(jì)工程師一定會(huì)有數(shù)據(jù)手冊(cè))。 校準(zhǔn)DDR一致性測(cè)試聯(lián)系人DDR4 和 LPDDR4 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件提供了多種可以簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證的關(guān)鍵功能。

大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對(duì)于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)是一樣的。

在進(jìn)行接收容限測(cè)試時(shí)，需要用到多通道的誤碼儀產(chǎn)生帶壓力的DQ、DQS等信號(hào)。測(cè) 試 中 被 測(cè) 件 工 作 在 環(huán) 回 模 式 ， D Q 引 腳 接 收 的 數(shù) 據(jù) 經(jīng) 被 測(cè) 件 轉(zhuǎn) 發(fā) 并 通 過(guò) L B D 引 腳 輸 出 到 誤碼儀的誤碼檢測(cè)端口。在測(cè)試前需要用示波器對(duì)誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)，如DQS與 DQ的時(shí)延校準(zhǔn)、信號(hào)幅度校準(zhǔn)、DCD與RJ抖動(dòng)校準(zhǔn)、壓力眼校準(zhǔn)、均衡校準(zhǔn)等。圖5.21 展示了一整套DDR5接收端容限測(cè)試的環(huán)境。

DDR4/5的協(xié)議測(cè)試

除了信號(hào)質(zhì)量測(cè)試以外，有些用戶還會(huì)關(guān)心DDR總線上真實(shí)讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確， 以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等，這時(shí)就需要進(jìn)行相關(guān)的協(xié)議測(cè)試。DDR的總線寬度很  寬，即使數(shù)據(jù)線只有16位，加上地址、時(shí)鐘、控制信號(hào)等也有30多根線，更寬位數(shù)的總線甚  至?xí)玫缴习俑€。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進(jìn)行同時(shí)捕獲并進(jìn)行協(xié)議分析，適  合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測(cè)試的基本方法是通過(guò)相應(yīng)的探頭把被測(cè)信號(hào)引到  邏輯分析儀，在邏輯分析儀中運(yùn)行解碼軟件進(jìn)行協(xié)議驗(yàn)證和分析。 DDR3和 DDR4設(shè)計(jì)分成幾個(gè)方面：仿真、有源信號(hào)驗(yàn)證和功能測(cè)試。用于電氣物理層、協(xié)議層和功能測(cè)試解決方案。

為了進(jìn)行更簡(jiǎn)單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過(guò)區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開(kāi)。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間不同，Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過(guò)在屏幕上畫 出幾個(gè)信號(hào)必須通過(guò)的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù)，并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測(cè)試。

信號(hào)的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號(hào)的眼圖分離出來(lái)。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測(cè)量功能對(duì)眼圖進(jìn)行定量分析，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個(gè)模板對(duì)讀、寫信號(hào)進(jìn)行模板測(cè)試，如 果模板測(cè)試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR4 總線物理層仿真測(cè)試和協(xié)議層的測(cè)試方案；DDR測(cè)試DDR一致性測(cè)試故障

DDR4 和 LPDDR4 發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試應(yīng)用軟件的技術(shù)指標(biāo)。甘肅DDR一致性測(cè)試USB測(cè)試

(2)根據(jù)讀/寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離。如果PCB走線長(zhǎng)度比較 長(zhǎng)，在不同位置測(cè)試時(shí)可能讀/寫信號(hào)的幅度不太一樣，可以基于幅度進(jìn)行觸發(fā)分離。但是 這種方法對(duì)于走線長(zhǎng)度不長(zhǎng)或者讀/寫信號(hào)幅度差別不大的場(chǎng)合不太適用。

(3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE等控制信號(hào)進(jìn)行分離。這種方法使用控制信號(hào)的讀/寫  來(lái)判決當(dāng)前的讀寫指令，是可靠的方法。但是由于要同時(shí)連接多個(gè)控制信號(hào)以及Clk、 DQS、DQ等信號(hào)，要求示波器的通道數(shù)多于4個(gè)，只有帶數(shù)字通道的混合信號(hào)示波器才能  滿足要求，而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā)  并采集到的DDR信號(hào)波形。 甘肅DDR一致性測(cè)試USB測(cè)試

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