LPCVD技術(shù)是一種在低壓下進(jìn)行化學(xué)氣相沉積的技術(shù)，它有以下幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)高質(zhì)量：LPCVD技術(shù)可以在低壓下進(jìn)行高溫沉積，使得氣相前驅(qū)體與襯底表面發(fā)生充分且均勻的化學(xué)反應(yīng)，形成高純度、低缺陷密度、低氫含量、低應(yīng)力等特點(diǎn)的薄膜材料。高均勻性：LPCVD技術(shù)可以在低壓下進(jìn)行大面積沉積，使得氣相前驅(qū)體在襯底表面上有較長的停留時(shí)間和較大的擴(kuò)散距離，形成高均勻性和高一致性的薄膜材料。高精度：LPCVD技術(shù)可以通過調(diào)節(jié)壓力、溫度、氣體流量和時(shí)間等參數(shù)來控制沉積速率和厚度，形成高精度和可重復(fù)性的薄膜材料。高效率：LPCVD技術(shù)可以采用批量裝載和連續(xù)送氣的方式來進(jìn)行沉積。真空鍍膜能賦予材料特殊的光學(xué)性能。溫州光學(xué)真空鍍膜
熱氧化是在一定的溫度和氣體條件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和濕法氧化，干法氧化是在硅片表面通入氧氣，硅片與氧化反應(yīng)生成氧化硅，氧化速率比較慢，氧化膜厚容易控制。濕法氧化在爐管當(dāng)中通入氧氣和氫氣，兩者反應(yīng)生長水蒸氣，水蒸氣與硅片表面反應(yīng)生長氧化硅，濕法氧化，速率比較快，可以生長比較厚的薄膜。直流（DC）磁控濺射與氣壓的關(guān)系-在一定范圍內(nèi)提高離化率（盡量小的壓強(qiáng)下維持高的離化率）、提高均勻性要增加壓強(qiáng)和保證薄膜純度、提高薄膜附著力要減小壓強(qiáng)的矛盾，產(chǎn)生一個(gè)平衡。提供一個(gè)額外的電子源，而不是從靶陰極獲得電子。實(shí)現(xiàn)低壓濺射（壓強(qiáng)小于0.1帕）。射頻（RF）磁控濺射特點(diǎn)-射頻方法可以被用來產(chǎn)生濺射效應(yīng)的原因是它可以在靶材上產(chǎn)生自偏壓效應(yīng)。在射頻濺射裝置中，擊穿電壓和放電電壓明顯降低。不必再要求靶材一定要是導(dǎo)電體。天津鈦金真空鍍膜衡量沉積質(zhì)量的主要指標(biāo)有均勻度、臺(tái)階覆蓋率、溝槽填充程度。
目前認(rèn)為濺射現(xiàn)象是彈性碰撞的直接結(jié)果，濺射完全是動(dòng)能的交換過程。當(dāng)正離子轟擊陰極靶，入射離子撞擊靶表面上的原子時(shí)，產(chǎn)生彈性碰撞，它直接將其動(dòng)能傳遞給靶表面上的某個(gè)原子或分子，該表面原子獲得動(dòng)能再向靶內(nèi)部原子傳遞，經(jīng)過一系列的級(jí)聯(lián)碰撞過程，當(dāng)其中某一個(gè)原子或分子獲得指向靶表面外的動(dòng)量，并且具有了克服表面勢(shì)壘(結(jié)合能)的能量，它就可以脫離附近其它原子或分子的束縛，逸出靶面而成為濺射原子。ITO薄膜的磁控濺射靶主要分為InSn合金靶、In2O3-SnO2陶瓷靶兩類。在用合金靶制備ITO薄膜時(shí),由于濺射過程中作為反應(yīng)氣體的氧會(huì)和靶發(fā)生很強(qiáng)的電化學(xué)反應(yīng),靶面覆蓋一層化合物,使濺射蝕損區(qū)域縮得很小(俗稱“靶中毒”),以至很難用直流濺射的方法穩(wěn)定地制備出高質(zhì)的ITO膜。陶瓷靶因能抑制濺射過程中氧的選擇性濺射,能穩(wěn)定地將金屬銦和錫與氧的反應(yīng)物按所需的化學(xué)配比穩(wěn)定地成膜,故無中毒現(xiàn)象,工藝窗口寬,穩(wěn)定性好。
LPCVD的制程主要包括以下幾個(gè)步驟：預(yù)處理：在LPCVD之前，需要對(duì)襯底進(jìn)行清潔和預(yù)熱，以去除表面的雜質(zhì)和水分，防止薄膜沉積過程中產(chǎn)生缺陷或不均勻。預(yù)處理的方法有濕法清潔、干法清潔、氫退火等。裝載：將經(jīng)過預(yù)處理的襯底放入LPCVD反應(yīng)器中，一般采用批量裝載的方式，可以同時(shí)處理多片襯底，提高生產(chǎn)效率。裝載時(shí)需要注意襯底之間的間距和排列方式，以保證沉積均勻性。抽真空：在LPCVD反應(yīng)器中抽真空，將反應(yīng)器內(nèi)的壓力降低到所需的工作壓力，一般在0.1-10托爾之間。抽真空的目的是減少氣體分子之間的碰撞，增加氣體分子與襯底表面的碰撞概率，從而提高沉積速率和均勻性。LPCVD主要特征是因?yàn)樵诘蛪涵h(huán)境下，反應(yīng)氣體的平均自由程及擴(kuò)散系數(shù)變大，膜厚均勻性好、臺(tái)階覆蓋性好。
LPCVD設(shè)備的基本原理是利用化學(xué)氣相沉積（CVD）的方法，在低壓（通常為0.1-10Torr）和高溫（通常為500-1200℃）的條件下，將含有所需元素的氣體前驅(qū)體引入反應(yīng)室，在襯底表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，形成所需的薄膜材料。LPCVD設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)主要有以下幾點(diǎn)：（1）由于低壓條件下氣體分子的平均自由程較長，使得氣體在反應(yīng)室內(nèi)的分布更加均勻，從而提高了薄膜的均勻性和重復(fù)性；（2）低壓條件下氣體分子與襯底表面的碰撞頻率較低，使得反應(yīng)速率主要受表面反應(yīng)速率控制，從而提高了薄膜的純度和結(jié)晶性；（3）低壓條件下氣體分子與反應(yīng)室壁面的碰撞頻率較低，使得反應(yīng)室壁面上沉積的材料較少，從而降低了顆粒污染和清洗頻率；真空鍍膜技術(shù)為產(chǎn)品提供可靠保護(hù)。惠州鈦金真空鍍膜
鍍膜層能明顯提升產(chǎn)品的抗輻射能力。溫州光學(xué)真空鍍膜
LPCVD設(shè)備中的薄膜材料的質(zhì)量和性能可以通過多種方法進(jìn)行表征和評(píng)價(jià)。常見的表征和評(píng)價(jià)方法有以下幾種：（1）厚度測(cè)量法，是指通過光學(xué)或電子手段來測(cè)量薄膜的厚度，如橢圓偏振儀、納米壓痕儀、電子顯微鏡等；（2）成分分析法，是指通過光譜或質(zhì)譜手段來分析薄膜的化學(xué)成分，如X射線光電子能譜（XPS）、二次離子質(zhì)譜（SIMS）、原子發(fā)射光譜（AES）等；（3）結(jié)構(gòu)表征法，是指通過衍射或散射手段來表征薄膜的晶體結(jié)構(gòu)，如X射線衍射（XRD）、拉曼光譜（Raman）、透射電子顯微鏡（TEM）等；（4）性能測(cè)試法，是指通過電學(xué)或力學(xué)手段來測(cè)試薄膜的物理性能，如電阻率、介電常數(shù)、硬度、應(yīng)力等。溫州光學(xué)真空鍍膜
