器件尺寸按摩爾定律的要求不斷縮小，柵極介質(zhì)的厚度不斷減薄，但柵極的漏電流也隨之增大。在5.0nm以下，SiO2作為柵極介質(zhì)所產(chǎn)生的漏電流已無法接受，這是由電子的直接隧穿效應造成的。HfO2族的高k介質(zhì)是目前比較好的替代SiO2/SiON的選擇。HfO2族的高k介質(zhì)主要通過原子層沉積（ALD）或金屬有機物化學氣相沉積（MOCVD）等方法沉積。介質(zhì)膜的主要作用有：1.改善半導體器件和集成電路參數(shù)；2.增強器件的穩(wěn)定性和可靠性，二次鈍化可強化器件的密封性，屏蔽外界雜質(zhì)、離子電荷、水汽等對器件的有害影響；3.提高器件的封裝成品率，鈍化層為劃片、裝架、鍵合等后道工藝處理提供表面的機械保護；4.其它作用，鈍化膜及介質(zhì)膜還可兼作表面及多層布線的絕緣層；先進的真空鍍膜技術(shù)提升產(chǎn)品美觀度。茂名新型真空鍍膜
LPCVD的制程主要包括以下幾個步驟：預處理：在LPCVD之前，需要對襯底進行清潔和預熱，以去除表面的雜質(zhì)和水分，防止薄膜沉積過程中產(chǎn)生缺陷或不均勻。預處理的方法有濕法清潔、干法清潔、氫退火等。裝載：將經(jīng)過預處理的襯底放入LPCVD反應器中，一般采用批量裝載的方式，可以同時處理多片襯底，提高生產(chǎn)效率。裝載時需要注意襯底之間的間距和排列方式，以保證沉積均勻性。抽真空：在LPCVD反應器中抽真空，將反應器內(nèi)的壓力降低到所需的工作壓力，一般在0.1-10托爾之間。抽真空的目的是減少氣體分子之間的碰撞，增加氣體分子與襯底表面的碰撞概率，從而提高沉積速率和均勻性。中山貴金屬真空鍍膜電子束蒸發(fā)：將蒸發(fā)材料置于水冷坩堝中，利用電子束直接加熱使蒸發(fā)材料汽化并在襯底上凝結(jié)形成薄膜。
對于典型的半導體應用，基板被放置在兩個平行電極之間的沉積室中一個接地電極，通常是一個射頻通電電極.前體氣體如硅烷(SiH4)和氨(NH3)通常與惰性氣體如氬氣(Ar)或氮氣(N2)混合以控制過程。這些氣體通過基板上方的噴頭固定裝置引入腔室，有助于將氣體更均勻地分布到基板上。等離子體由電極之間的放電(100–300eV)點燃，在基板周圍發(fā)生啟輝，有助于產(chǎn)生驅(qū)動化學反應的熱能。前體氣體分子與高能電子碰撞，然后通過氣流傳播到基板，在那里它們發(fā)生反應并被吸收在基板表面上以生長薄膜。然后將化學副產(chǎn)品抽走，完成沉積過程。
PECVD技術(shù)是在低氣壓下，利用低溫等離子體在工藝腔體的陰極上（即樣品放置的托盤）產(chǎn)生輝光放電，利用輝光放電（或另加發(fā)熱體）使樣品升溫到預定的溫度，然后通入適量的工藝氣體，這些氣體經(jīng)一系列化學反應和等離子體反應，在樣品表面形成固態(tài)薄膜。在反應過程中，反應氣體從進氣口進入爐腔，逐漸擴散至樣品表面，在射頻源激發(fā)的電場作用下，反應氣體分解成電子、離子和活性基團等。這些分解物發(fā)生化學反應，生成形成膜的初始成分和副反應物，這些生成物以化學鍵的形式吸附到樣品表面，生成固態(tài)膜的晶核，晶核逐漸生長成島狀物，島狀物繼續(xù)生長成連續(xù)的薄膜。在薄膜生長過程中，各種副產(chǎn)物從膜的表面逐漸脫離，在真空泵的作用下從出口排出。降低PVD制備薄膜的應力，可以提高襯底溫度，有利于薄膜和襯底間原子擴散，并加速反應過程。
在真空狀態(tài)下，加熱蒸發(fā)容器中的靶材，使其原子或分子逸出，沉積在目標物體表面，形成固態(tài)薄膜。依蒸鍍材料、基板的種類可分為：抵抗加熱、電子束、高周波誘導、雷射等加熱方式。蒸鍍材料有鋁、亞鉛、金、銀、白金、鎳等金屬材料與可產(chǎn)生光學特性薄膜的材料，主要有使用SiO2、TiO2、ZrO2、MgF2等氧化物與氟化物。電子在電場的作用下加速飛向基片的過程中與氬原子發(fā)生碰撞，電離出大量的氬離子和電子。氬離子在電場作用下加速轟擊靶材，濺射出大量的靶原子，靶原子沉積在基片表面形成膜。二次電子受到磁場影響，被束縛在靶面的等離子體區(qū)域，二次電子在磁場作用下繞靶面做圓周運動，在運動過程中不斷和氬原子發(fā)生撞擊，電離出大量氬離子轟擊靶材。PECVD，是一種利用等離子體在較低溫度下進行沉積的一種薄膜生長技術(shù)。七彩真空鍍膜真空鍍膜技術(shù)
影響PECVD工藝質(zhì)量的因素主要有以下幾個方面：1.起輝電壓；2.極板間距和腔體氣壓；3.射頻電源的工作頻率；茂名新型真空鍍膜
對于PECVD如果成膜質(zhì)量差，則主要由一下幾項因素造成：1.樣片表面清潔度差，檢查樣品表面是否清潔。2.工藝腔體清潔度差，清洗工藝腔體。3.樣品溫度異常，檢查溫控系統(tǒng)是否正常，校準測溫熱電偶。4.膜淀積過程中壓力異常，檢查腔體真空系統(tǒng)漏率。5.射頻功率設置不合理，檢查射頻電源，調(diào)整設置功率。影響PECVD工藝質(zhì)量的因素主要有以下幾個方面：1.起輝電壓：間距的選擇應使起輝電壓盡量低，以降低等離子電位，減少對襯底的損傷。2.極板間距和腔體氣壓：極板間距較大時，對襯底的損傷較小，但間距不宜過大，否則會加重電場的邊緣效應，影響淀積的均勻性。反應腔體的尺寸可以增加生產(chǎn)率，但是也會對厚度的均勻性產(chǎn)生影響。3.射頻電源的工作頻率，射頻PECVD通常采用50kHz~13.56MHz頻段射頻電源，頻率高，等離子體中離子的轟擊作用強，淀積的薄膜更加致密，但對襯底的損傷也比較大。茂名新型真空鍍膜
