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半導體封裝中SAM如何檢測微米級空洞？

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杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-05-22

采用200MHz高頻探頭與C-Scan模式，通過分析填充膠（underfill）與芯片界面回波信號，可檢測直徑5μm以上的空洞。

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杭州芯紀源半導體設備有限公司

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簡介：杭州芯紀源半導體設備有限公司是一家專業(yè)從事半導體檢測設備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售為一體的科技型企業(yè)。

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水浸式超聲掃描儀2

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杭州芯紀源半導體設備有限公司 2025-05-22

結(jié)合相位分析技術，通過對比空洞區(qū)域與正常區(qū)域的回波相位差（＞π/2），實現(xiàn)微米級空洞的自動識別與定量統(tǒng)計。

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杭州芯紀源半導體設備有限公司 2025-05-27

利用AI算法對多層C-Scan圖像進行三維重建，通過空洞體積與位置分析，可判定封裝工藝合格率（如空洞率＜5%）。

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杭州芯紀源半導體設備有限公司

聯(lián)系人：吳先生

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浙江省杭州市市轄區(qū)良渚街道網(wǎng)周路99號4幢21層2103室

水浸式超聲掃描儀

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