杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-10-25
超聲掃描顯微鏡可在不開封的情況下定位缺陷位置,指導(dǎo)后續(xù)物理失效分析。例如,在封裝層裂紋檢測中,其不僅能展示裂紋形態(tài),還能通過反射強(qiáng)度差異區(qū)分分層、氣泡等缺陷類型。
本回答由 杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 提供
其余 2 條回答
杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司
聯(lián)系人: 吳先生
手 機(jī): 4008034068
網(wǎng) 址: https://www.xjy-tec.com