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      企業(yè)商機(jī)
      信號(hào)完整性測(cè)試基本參數(shù)
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      • 信號(hào)完整性測(cè)試
      信號(hào)完整性測(cè)試企業(yè)商機(jī)

      確定信號(hào)衰減的根本原因描述給定設(shè)備的頻率特性時(shí),工程師可以使用S參數(shù)作為標(biāo)準(zhǔn)?;ミB的S參數(shù)(無(wú)論是在時(shí)域還是在頻域中進(jìn)行測(cè)量)了互連的特征模型。該參數(shù)涵蓋了信號(hào)從進(jìn)入一個(gè)端口到離開(kāi)另一個(gè)端口時(shí)的所有特性信息。為了確定信號(hào)衰減的根本原因,重要的是先要確定您對(duì)S參數(shù)的期望值。將期望值與測(cè)量值進(jìn)行比較,有助于識(shí)別導(dǎo)致信號(hào)完整性衰減的通道區(qū)域。接下來(lái),您需要更深入地研究被測(cè)設(shè)備和設(shè)備之間的連接,以便確定根本原因。對(duì)于差分通道,可以使用混合模式S參數(shù)進(jìn)行分析。常見(jiàn)的S參數(shù)是與電磁干擾有關(guān)的差分回波損耗(SDD11)、差分插入損耗(SDD21)和差分至共模轉(zhuǎn)換(SCD21)。在分析傳輸質(zhì)量時(shí),還需要重點(diǎn)考慮反射因素。每當(dāng)出現(xiàn)瞬時(shí)阻抗變化時(shí),信號(hào)就會(huì)被反射。反射會(huì)使返回的原始信號(hào)出現(xiàn)延遲(如下圖2所示),并與原始信號(hào)結(jié)合而產(chǎn)生相消干擾??藙诘聦?shí)驗(yàn)室提供完整信號(hào)完整性測(cè)試解決方案;安徽信號(hào)完整性測(cè)試市場(chǎng)價(jià)價(jià)格走勢(shì)

      安徽信號(hào)完整性測(cè)試市場(chǎng)價(jià)價(jià)格走勢(shì),信號(hào)完整性測(cè)試

      克服信號(hào)完整性問(wèn)題隨著數(shù)據(jù)傳輸速度的提高,信號(hào)完整性對(duì)于通道設(shè)備和互連產(chǎn)品越來(lái)越重要。為了確保您的設(shè)備具有出色的信號(hào)完整性,首先您要確定好希望獲得的仿真結(jié)果,然后再將其與實(shí)際測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較。接下來(lái),結(jié)合信號(hào)分析技術(shù)(例如在示波器上顯示的眼圖)和仿真軟件,即可找到導(dǎo)致信號(hào)衰減的根本原因。下一步就是確定合適的解決方案,使用軟件和硬件來(lái)建立可靠的信號(hào)完整性工作流程。必須使用高質(zhì)量的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),設(shè)置校準(zhǔn)參考面以執(zhí)行S參數(shù)測(cè)量,設(shè)置去嵌入?yún)⒖济嬉哉_移除夾具。測(cè)量結(jié)果將會(huì)包括準(zhǔn)確的S參數(shù)和可靠的DUT特性。盡早解決信號(hào)完整性問(wèn)題,您就可以優(yōu)化電路設(shè)計(jì),保證優(yōu)異的設(shè)備性能和出色的價(jià)格優(yōu)勢(shì)。HDMI測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試價(jià)格優(yōu)惠硬件測(cè)試技術(shù)及信號(hào)完整性分析;

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      2.2TDR/TDT介紹當(dāng)?shù)诙€(gè)端口與同一傳輸線的遠(yuǎn)端相連并且是接收機(jī)時(shí),我們稱其為時(shí)域傳輸,或TDT。圖7所示為這種結(jié)構(gòu)的示意圖。組合測(cè)量互連的TDR響應(yīng)和TDT響應(yīng)能對(duì)互連的阻抗曲線、信號(hào)的速度、信號(hào)的衰減、介電常數(shù)、疊層材料的損耗因數(shù)和互連的帶寬進(jìn)行精確表征。TDR/TDT測(cè)量結(jié)構(gòu)圖。TDR可設(shè)置用于TDR/TDT操作,其步驟是選擇TDR設(shè)置,選擇單端激勵(lì)模式,選擇更改被測(cè)件類型,然后選擇一個(gè)2-端口被測(cè)件。您可以將任何可用的通道指定給端口2或點(diǎn)擊自動(dòng)連接,

      發(fā)射的信號(hào)具有比較快的邊緣,但從屏幕上難以得到關(guān)于接收的信號(hào)的過(guò)多信息。雖然我們可以直接從屏幕上測(cè)量10-90或20-80的上升時(shí)間,但不清楚此信息有何作用,因?yàn)榛ミB將邊緣扭曲成了不是真正的高斯邊緣。這個(gè)例子表明,我們可以采用同樣的信息內(nèi)容,但改變其顯示方式,以便更快速、更輕松地進(jìn)行解釋。所示為測(cè)得的響應(yīng),與時(shí)域中所示相同,但轉(zhuǎn)換到了頻域。單擊TDR響應(yīng)屏幕右上角的S參數(shù)選項(xiàng)卡可訪問(wèn)此屏幕。在頻域中,我們將TDR信號(hào)稱為S11,將TDT信號(hào)稱為S21。這是兩個(gè)描述頻域中散射波形的S參數(shù)。S11也稱回波損耗,S21則為插入損耗。垂直刻度為S參數(shù)的幅度,單位為分貝。單根傳輸線的信號(hào)完整性問(wèn)題?

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      根據(jù)經(jīng)驗(yàn),如果比特率為BR,信號(hào)帶寬為BW,那么比較高正弦波頻率分量大約為BW=0.5xBR,或BR=2xBW。BW由能通過(guò)互連傳送的比較高頻率信號(hào)決定,并且其衰減仍低于SerDes可以補(bǔ)償?shù)闹?。使用低端的SerDes時(shí),可接受的插入損耗可能為-10分貝,我們能從圖30的屏幕上讀取的8英寸長(zhǎng)微帶線的帶寬約為12GHz。這樣操作就能在遠(yuǎn)高于20Gbps的比特率進(jìn)行。但是,這只能用于8英寸長(zhǎng)的寬幅導(dǎo)體。在較長(zhǎng)的背板或母板上,有連接器、子卡和過(guò)孔,傳輸特性不會(huì)如此清晰。

      帶兩個(gè)子卡的母板上24英寸互連的插入損耗和回波損耗。所示為一個(gè)典型的母板上24英寸長(zhǎng)帶狀線互連的TDR/TDT響應(yīng)。此例中,SMA加載將TDR電纜與小卡連接,穿過(guò)連接器、過(guò)孔場(chǎng),返回穿過(guò)連接器,然后進(jìn)入TDR的第二通道。綠線是作為S21顯示的插入損耗。對(duì)于這種互連而言,-10分貝的插入損耗帶寬為2.7GHz,比較大傳輸比特率約為5Gbps,使用低端SerDes驅(qū)動(dòng)器和接收機(jī)。 克勞德實(shí)驗(yàn)室提供信號(hào)完整性測(cè)試解決方案;遼寧信號(hào)完整性測(cè)試產(chǎn)品介紹

      克勞德實(shí)驗(yàn)室提供信號(hào)完整性測(cè)試軟件報(bào)告;安徽信號(hào)完整性測(cè)試市場(chǎng)價(jià)價(jià)格走勢(shì)

      2.4互連建模以提取互連特性將測(cè)得的數(shù)據(jù)作為時(shí)域響應(yīng)或頻域響應(yīng)顯示,意味著相比局限于一個(gè)域而言,我們可以很容易地提取更多信息。此外,將頻域插入損耗和回波損耗的值以Touchstone格式文件導(dǎo)出,我們就能夠使用先進(jìn)的建模工具,如KeysightADS來(lái)提取更多的信息。在此例中,我們將看到均勻的8英寸長(zhǎng)微帶,以及我們?nèi)绾问褂媒:头抡婀ぞ邅?lái)提取材料特性。描述物理互連簡(jiǎn)單的模型是一條理想傳輸線。我們可以使用ADS內(nèi)置的多層互連庫(kù)(MIL)來(lái)構(gòu)建這條微帶的物理模型,將材料特性參數(shù)化,然后提取它們的值。安徽信號(hào)完整性測(cè)試市場(chǎng)價(jià)價(jià)格走勢(shì)

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      2.3 測(cè)量插入損耗和回波損耗在簡(jiǎn)單的應(yīng)用中,TDR 的端口與單端傳輸線的末端相連。端口 1 是我們所熟悉的 TDR 響應(yīng),而通道 2 是發(fā)射的信號(hào)。如圖 29 所示,在一條均勻的 8 英寸微帶傳輸線的 TDR 響應(yīng)中,線末端的阻抗為 50 歐姆。這個(gè)阻抗來(lái)自與被測(cè)件末端相連的電纜,終連接到 TDR 第二通道內(nèi)的源端。 8英寸長(zhǎng)微帶傳輸線在20毫伏/格和500皮秒/格刻度下的TDR/TDT響應(yīng)。此應(yīng)用的時(shí)基為500皮秒/格,垂直刻度為20毫伏/格。游標(biāo)用于提取47.4歐姆的線阻抗。注意綠線,即通過(guò)互連發(fā)送的信號(hào),在100毫伏/格的刻度上,它顯示出信號(hào)進(jìn)入線的前端、正好在中途出來(lái)、反射...

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