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      企業(yè)商機
      信號完整性測試基本參數(shù)
      • 品牌
      • 克勞德
      • 型號
      • 信號完整性測試
      信號完整性測試企業(yè)商機

      信號完整性分析系列-第1部分:端口TDR/TDT如前文-單端口TDR所述,TDR生成與互連交互的激勵源。我們能通過一個端口測量互連上一個連接的響應(yīng)。這限制了我們只關(guān)注反射回源頭的信號。通過這類測量,我們能獲得阻抗曲線和互連屬性信息,并能提取具有離散不連續(xù)的均勻傳輸線的參數(shù)值。在TDR上添加第二個端口后,我們就能極大地擴展測量類型以及能提取的互連信息。額外的端口可用來執(zhí)行三種重要的新測量:發(fā)射的信號、耦合噪聲和差分對的差分信號或共模信號響應(yīng)。采用這些技術(shù)實現(xiàn)的重要應(yīng)用及其實例,都在本章中進行了描述??藙诘聦嶒炇姨峁┩暾盘柾暾詼y試解決方案;智能化多端口矩陣測試信號完整性測試產(chǎn)品介紹

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          信號完整性是對于電子信號質(zhì)量的一系列度量標準。在數(shù)字電路中,一串二進制的信號流是通過電壓(或電流)的波形來表示。然而,自然界的信號實際上都是模擬的,而非數(shù)字的,所有的信號都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比特率的情況里,一個簡單的導(dǎo)體可以忠實地傳輸信號。而長距離、高比特率的信號如果通過幾種不同的導(dǎo)體,多種效應(yīng)可以降低信號的可信度,這樣系統(tǒng)或設(shè)備不能正常工作。信號完整性工程是分析和緩解上述負面效應(yīng)的一項任務(wù),在所有水平的電子封裝和組裝,例如集成電路的內(nèi)部連接、集成電路封裝、印制電路板等工藝過程中,都是一項十分重要的活動。信號完整性考慮的問題主要有振鈴(ringing)、串擾(crosstalk)、接地反彈、扭曲(skew)、信號損失和電源供應(yīng)中的噪音。 江蘇信號完整性測試故障克勞德實驗室信號完整性測試系統(tǒng)平臺;

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      轉(zhuǎn)換成頻域的TDR/TDT響應(yīng):回波損耗/插入損耗。藍線是參考直通的插入損耗。當然,如果有一個完美直通的話,每個頻率分量將無衰減傳播,接收的信號幅度與入射信號的幅度相同。插入損耗的幅度始終為1,用分貝表示的話,就是0分貝。這個損耗在整個20GHz的頻率范圍內(nèi)都是平坦的。黃線始于低頻率下的約-30分貝,是同一傳輸線的回波損耗,即頻域中的S11。綠線是此傳輸線的插入損耗,或S21。這個屏幕只顯示了S參數(shù)的幅度,相位信息是有的,但沒有顯示的必要。回波損耗始于相對較低的值,接近-30分貝,然后向上爬升到達-10分貝范圍,約超過12GHz。這個值是對此傳輸線的阻抗失配和兩端的50歐姆連接的衡量。插入損耗具有直接有用的信息。在高速串行鏈路中,發(fā)射機和接收機共同工作,以發(fā)射并接收高比特率信號。在簡單的CMOS驅(qū)動器中,一個顯示誤碼率之前可能可以接受-3分貝的插入損耗。對于簡單的SerDes芯片而言,可以接受-10分貝的插入損耗,而對于先進的高級SerDes芯片而言,則可以接受-20分貝。如果我們知道特定的SerDes技術(shù)可接受的插入損耗,那就可以直接從屏幕上測量互連能提供的比較大比特率。

      改變兩條有插入損耗波谷影響的傳輸線之間的間距。虛擬實驗之一是改變線間距。當跡線靠近或遠離時,一條線的插入損耗上的諧振吸收波谷會出現(xiàn)什么情況?圖35所示為簡單的兩條耦合線模型中一條線上模擬的插入損耗,間距分別為50、75、100、125和150密耳。紅色圓圈為單端跡線測得的插入損耗。每條線表示不同間距下插入損耗的模擬響應(yīng)。頻率諧振比較低的跡線間距為50密耳,之后是75密耳,排后是150密耳。隨著間距增加,諧振頻率也增加,這差不多與直覺相反。大多數(shù)諧振效應(yīng)的頻率會隨著尺寸增加而降低。然而,在這個效應(yīng)中,諧振頻率卻隨著尺寸和間距的增加而增加。要不是前文中我們已經(jīng)確認模擬數(shù)據(jù)和實測數(shù)據(jù)之間非常一致,我們可能會對模擬結(jié)果產(chǎn)生懷疑。波谷顯然不是諧振效應(yīng),其起源非常微妙,但與遠端串擾密切相關(guān)。在頻域中,當正弦波進入排前條線的前端時,它會與第二條線耦合。在傳播中,所有的能量會在一個頻率點從排前條線耦合到相鄰線,導(dǎo)致排前條線上沒有任何能量,因此出現(xiàn)一個波谷。信號完整性測試項目可以分為幾大類;

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      發(fā)射的信號具有比較快的邊緣,但從屏幕上難以得到關(guān)于接收的信號的過多信息。雖然我們可以直接從屏幕上測量10-90或20-80的上升時間,但不清楚此信息有何作用,因為互連將邊緣扭曲成了不是真正的高斯邊緣。這個例子表明,我們可以采用同樣的信息內(nèi)容,但改變其顯示方式,以便更快速、更輕松地進行解釋。所示為測得的響應(yīng),與時域中所示相同,但轉(zhuǎn)換到了頻域。單擊TDR響應(yīng)屏幕右上角的S參數(shù)選項卡可訪問此屏幕。在頻域中,我們將TDR信號稱為S11,將TDT信號稱為S21。這是兩個描述頻域中散射波形的S參數(shù)。S11也稱回波損耗,S21則為插入損耗。垂直刻度為S參數(shù)的幅度,單位為分貝??藙诘聦嶒炇姨峁┬盘柾暾詼y試解決方案;通信信號完整性測試代理品牌

      克勞德實驗室數(shù)字信號完整性測試進行抖動分析;智能化多端口矩陣測試信號完整性測試產(chǎn)品介紹

      SI設(shè)計的特點1)不同是工程有不同的設(shè)計重點,要根據(jù)具體的工程進行有針對性的SI設(shè)計。對于局部總線,關(guān)注的是信號本身的質(zhì)量,對反射、串擾、電源濾波等幾個方面簡單的設(shè)計就能讓電路正常工作;在高速同步總線(如DDR)中,只關(guān)注反射串擾電源等基本問題還不夠。等等。2)SI設(shè)計不能片面地追求某一方面的指標,而弱化其他潛在風險。3)SI設(shè)計不是簡單地解決孤立問題,眾多問題及其影響相互糾纏在一起,需要系統(tǒng)化的設(shè)計,反復(fù)權(quán)衡,平衡各種要求,找到可行的解決方案。-->信號完整性中,需要掌握的現(xiàn)象描述:振鈴、上沖、下沖、過沖、串擾、共阻抗、共模、電感、回路電感、單位長度電感、回路面積、容性負載、寄生電容、衰減、損耗、諧振、反射、地彈、阻抗突變、殘樁、模態(tài)轉(zhuǎn)換、抖動、誤碼率等。智能化多端口矩陣測試信號完整性測試產(chǎn)品介紹

      深圳市力恩科技有限公司在實驗室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀一直在同行業(yè)中處于較強地位,無論是產(chǎn)品還是服務(wù),其高水平的能力始終貫穿于其中。公司成立于2014-04-03,旗下克勞德,已經(jīng)具有一定的業(yè)內(nèi)水平。力恩科技致力于構(gòu)建儀器儀表自主創(chuàng)新的競爭力,產(chǎn)品已銷往多個國家和地區(qū),被國內(nèi)外眾多企業(yè)和客戶所認可。

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      上海信號完整性測試方案商 2026-01-05

      2.3 測量插入損耗和回波損耗在簡單的應(yīng)用中,TDR 的端口與單端傳輸線的末端相連。端口 1 是我們所熟悉的 TDR 響應(yīng),而通道 2 是發(fā)射的信號。如圖 29 所示,在一條均勻的 8 英寸微帶傳輸線的 TDR 響應(yīng)中,線末端的阻抗為 50 歐姆。這個阻抗來自與被測件末端相連的電纜,終連接到 TDR 第二通道內(nèi)的源端。 8英寸長微帶傳輸線在20毫伏/格和500皮秒/格刻度下的TDR/TDT響應(yīng)。此應(yīng)用的時基為500皮秒/格,垂直刻度為20毫伏/格。游標用于提取47.4歐姆的線阻抗。注意綠線,即通過互連發(fā)送的信號,在100毫伏/格的刻度上,它顯示出信號進入線的前端、正好在中途出來、反射...

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