LPCVD設(shè)備中較少用的是旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備和行星式LPCVD設(shè)備，因?yàn)槠渚哂薪Y(jié)構(gòu)復(fù)雜、操作困難、沉積速率低、產(chǎn)能小等缺點(diǎn)。旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備和行星式LPCVD設(shè)備的主要優(yōu)點(diǎn)是可以通過(guò)旋轉(zhuǎn)襯底來(lái)改善薄膜的均勻性和厚度分布。旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備和行星式LPCVD設(shè)備可以根據(jù)不同的旋轉(zhuǎn)方式進(jìn)行分類(lèi)。常見(jiàn)的分類(lèi)有以下幾種：（1）單軸旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備，是指襯底只圍繞一個(gè)軸旋轉(zhuǎn)；（2）雙軸旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備，是指襯底圍繞兩個(gè)軸旋轉(zhuǎn)；（3）多軸旋轉(zhuǎn)式LPCVD設(shè)備，是指襯底圍繞多個(gè)軸旋轉(zhuǎn)。真空鍍膜技術(shù)是現(xiàn)代制造業(yè)的重要支柱。真空鍍膜價(jià)錢(qián)
LPCVD技術(shù)在光電子領(lǐng)域也有著廣泛的應(yīng)用，主要用于沉積硅基光波導(dǎo)、光諧振器、光調(diào)制器等器件所需的高折射率和低損耗的材料。由于光電子器件對(duì)薄膜質(zhì)量和性能的要求非常高，LPCVD技術(shù)具有很大的優(yōu)勢(shì)，例如可以實(shí)現(xiàn)高純度、低缺陷密度、低氫含量和低應(yīng)力等特點(diǎn)。未來(lái)，LPCVD技術(shù)將繼續(xù)在光電子領(lǐng)域發(fā)揮重要作用，為實(shí)現(xiàn)硅基光電集成提供可靠的技術(shù)支持。LPCVD技術(shù)在MEMS領(lǐng)域也有著重要的應(yīng)用，主要用于沉積多晶硅、氮化硅等材料，作為MEMS器件的結(jié)構(gòu)層。由于MEMS器件具有微納米尺度的特點(diǎn)，對(duì)薄膜厚度和均勻性的控制非常嚴(yán)格，而LPCVD技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高精度和高均勻性的沉積。此外，LPCVD技術(shù)還可以通過(guò)摻雜或應(yīng)力調(diào)節(jié)來(lái)改變薄膜的導(dǎo)電性或機(jī)械性能。因此，LPCVD技術(shù)在MEMS領(lǐng)域有著廣闊的發(fā)展空間，為實(shí)現(xiàn)各種功能和應(yīng)用的MEMS器件提供多樣化的選擇。真空鍍膜價(jià)錢(qián)真空鍍膜為產(chǎn)品提供完美的表面修飾。
PECVD技術(shù)是在低氣壓下，利用低溫等離子體在工藝腔體的陰極上（即樣品放置的托盤(pán)）產(chǎn)生輝光放電，利用輝光放電（或另加發(fā)熱體）使樣品升溫到預(yù)定的溫度，然后通入適量的工藝氣體，這些氣體經(jīng)一系列化學(xué)反應(yīng)和等離子體反應(yīng)，在樣品表面形成固態(tài)薄膜。在反應(yīng)過(guò)程中，反應(yīng)氣體從進(jìn)氣口進(jìn)入爐腔，逐漸擴(kuò)散至樣品表面，在射頻源激發(fā)的電場(chǎng)作用下，反應(yīng)氣體分解成電子、離子和活性基團(tuán)等。這些分解物發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成形成膜的初始成分和副反應(yīng)物，這些生成物以化學(xué)鍵的形式吸附到樣品表面，生成固態(tài)膜的晶核，晶核逐漸生長(zhǎng)成島狀物，島狀物繼續(xù)生長(zhǎng)成連續(xù)的薄膜。在薄膜生長(zhǎng)過(guò)程中，各種副產(chǎn)物從膜的表面逐漸脫離，在真空泵的作用下從出口排出。
柵極氧化介電層除了純二氧化硅薄膜，也會(huì)用到氮氧化硅作為介質(zhì)層，之所以用氮氧化硅來(lái)作為柵極氧化介電層，一方面是因?yàn)楦趸璞龋趸杈哂休^高的介電常數(shù)，在相同的等效二氧化硅厚度下，其柵極漏電流會(huì)降低；另一方面，氮氧化硅中的氮對(duì)PMOS多晶硅中硼元素有較好的阻擋作用，它可以防止離子注入和隨后的熱處理過(guò)程中，硼元素穿過(guò)柵極氧化層到溝道，引起溝道摻雜濃度的變化，從而影響閾值電壓的控制。作為柵極氧化介電層的氮氧化硅必須要有比較好的薄膜特性及工藝可控性，所以一般的工藝是先形成一層致密的、很薄的、高質(zhì)量的二氧化硅層，然后通過(guò)對(duì)二氧化硅的氮化來(lái)實(shí)現(xiàn)的。衡量沉積質(zhì)量的主要指標(biāo)有均勻度、臺(tái)階覆蓋率、溝槽填充程度。
熱氧化是在一定的溫度和氣體條件下，使硅片表面氧化一定厚度的氧化硅的。主要有干法氧化和濕法氧化，干法氧化是在硅片表面通入氧氣，硅片與氧化反應(yīng)生成氧化硅，氧化速率比較慢，氧化膜厚容易控制。濕法氧化在爐管當(dāng)中通入氧氣和氫氣，兩者反應(yīng)生長(zhǎng)水蒸氣，水蒸氣與硅片表面反應(yīng)生長(zhǎng)氧化硅，濕法氧化，速率比較快，可以生長(zhǎng)比較厚的薄膜。直流（DC）磁控濺射與氣壓的關(guān)系-在一定范圍內(nèi)提高離化率（盡量小的壓強(qiáng)下維持高的離化率）、提高均勻性要增加壓強(qiáng)和保證薄膜純度、提高薄膜附著力要減小壓強(qiáng)的矛盾，產(chǎn)生一個(gè)平衡。提供一個(gè)額外的電子源，而不是從靶陰極獲得電子。實(shí)現(xiàn)低壓濺射（壓強(qiáng)小于0.1帕）。射頻（RF）磁控濺射特點(diǎn)-射頻方法可以被用來(lái)產(chǎn)生濺射效應(yīng)的原因是它可以在靶材上產(chǎn)生自偏壓效應(yīng)。在射頻濺射裝置中，擊穿電壓和放電電壓明顯降低。不必再要求靶材一定要是導(dǎo)電體。PECVD的優(yōu)勢(shì)在于襯底能保持低溫、良好的覆蓋率、高度均勻的薄膜。真空鍍膜價(jià)錢(qián)
真空鍍膜過(guò)程中需使用品質(zhì)高的鍍膜材料。真空鍍膜價(jià)錢(qián)
電子束真空鍍膜的物理過(guò)程：物理的氣相沉積技術(shù)的基本原理可分為三個(gè)工藝步驟：（1）電子束激發(fā)鍍膜材料金屬顆粒的氣化：即鍍膜材料的蒸發(fā)、升華從而形成氣化源，（2）鍍膜材料粒子（（原子、分子或離子）的遷移：由氣化源供出原子、分子或離子（原子團(tuán)、分子團(tuán)或離子團(tuán)）經(jīng)過(guò)碰撞，產(chǎn)生多種反應(yīng)。（3）鍍膜材料粒子在基片表面的沉積。LPCVD反應(yīng)的能量源是熱能，通常其溫度在500℃-1000℃之間，壓力在0.1Torr-2Torr以?xún)?nèi)，影響其沉積反應(yīng)的主要參數(shù)是溫度、壓力和氣體流量，它的主要特征是因?yàn)樵诘蛪涵h(huán)境下，反應(yīng)氣體的平均自由程及擴(kuò)散系數(shù)變大，膜厚均勻性好、臺(tái)階覆蓋性好。目前采用LPCVD工藝制作的主要材料有：多晶硅、單晶硅、非晶硅、氮化硅等。真空鍍膜價(jià)錢(qián)
