研究所針對電子束曝光在大面積晶圓上的均勻性問題開展研究。由于電子束在掃描過程中可能出現(xiàn)能量衰減，6 英寸晶圓邊緣的圖形質(zhì)量有時會與中心區(qū)域存在差異，科研團隊通過分區(qū)校準曝光劑量的方式，改善了晶圓面內(nèi)的曝光均勻性。利用原子力顯微鏡對晶圓不同區(qū)域的圖形進行表征，結(jié)果顯示優(yōu)化后的工藝使邊緣與中心的線寬偏差控制在較小范圍內(nèi)。這項研究提升了電子束曝光技術(shù)在大面積器件制備中的適用性，為第三代半導體中試生產(chǎn)中的批量一致性提供了保障。電子束曝光實現(xiàn)特定頻段聲波調(diào)控的低頻降噪超材料設計制造。深圳T型柵電子束曝光廠商
電子束曝光設備的運行成本較高，團隊通過優(yōu)化曝光區(qū)域選擇，對器件有效區(qū)域進行曝光，減少無效曝光面積，降低了單位器件的制備成本。同時，通過設備維護與參數(shù)優(yōu)化，延長了關(guān)鍵部件的使用壽命，間接降低了設備運行成本。這些成本控制措施使電子束曝光技術(shù)在中試生產(chǎn)中的經(jīng)濟性得到一定提升，更有利于其在產(chǎn)業(yè)中的推廣應用。研究所將電子束曝光技術(shù)應用于半導體量子點的定位制備中，探索其在量子器件領(lǐng)域的應用。量子點的精確位置控制對量子器件的性能至關(guān)重要，科研團隊通過電子束曝光在襯底上制備納米尺度的定位標記，引導量子點的選擇性生長。湖北精密加工電子束曝光服務價格電子束曝光實現(xiàn)太赫茲波段的電磁隱身超材料智能設計制造。
將電子束曝光技術(shù)與深紫外發(fā)光二極管的光子晶體結(jié)構(gòu)制備相結(jié)合，是研究所的另一項應用探索。光子晶體可調(diào)控光的傳播方向，提升器件的光提取效率，科研團隊通過電子束曝光在器件表面制備亞波長周期結(jié)構(gòu)，研究周期參數(shù)對光提取效率的影響。利用光學測試平臺，對比不同光子晶體圖形下器件的發(fā)光強度，發(fā)現(xiàn)特定周期的結(jié)構(gòu)能使深紫外光的出光效率提升一定比例。這項工作展示了電子束曝光在光學功能結(jié)構(gòu)制備中的獨特優(yōu)勢，為提升光電子器件性能提供了新途徑。
對于可修復的微小缺陷，通過局部二次曝光的方式進行修正，提高了圖形的合格率。在 6 英寸晶圓的中試實驗中，這種缺陷修復技術(shù)使無效區(qū)域的比例降低了一定程度，提升了電子束曝光的材料利用率。研究所將電子束曝光技術(shù)與納米壓印模板制備相結(jié)合，探索低成本大規(guī)模制備微納結(jié)構(gòu)的途徑。納米壓印技術(shù)適合批量生產(chǎn)，但模板制備依賴高精度加工手段，團隊通過電子束曝光制備高質(zhì)量的原始模板，再通過電鑄工藝復制得到可用于批量壓印的工作模板。對比電子束直接曝光與納米壓印的圖形質(zhì)量，發(fā)現(xiàn)兩者在微米尺度下的精度差異較小，但壓印效率更高。這項研究為平衡高精度與高效率的微納制造需求提供了可行方案，有助于推動第三代半導體器件的產(chǎn)業(yè)化進程。電子束曝光助力該所在深紫外發(fā)光二極管領(lǐng)域突破微納制備瓶頸。
針對柔性襯底上的電子束曝光技術(shù)，研究所開展了適應性研究。柔性半導體器件的襯底通常具有一定的柔韌性，可能影響曝光過程中的晶圓平整度，科研團隊通過改進晶圓夾持裝置，減少柔性襯底在曝光時的變形。同時，調(diào)整電子束的掃描速度與聚焦方式，適應柔性襯底表面可能存在的微小起伏，在聚酰亞胺襯底上實現(xiàn)了微米級圖形的穩(wěn)定制備。這項研究拓展了電子束曝光技術(shù)的應用場景，為柔性電子器件的高精度制造提供了技術(shù)支持?？蒲袌F隊在電子束曝光的缺陷檢測與修復技術(shù)上取得進展。曝光過程中可能出現(xiàn)的圖形斷線、短路等缺陷，會影響器件性能，團隊利用自動光學檢測系統(tǒng)對曝光后的圖形進行快速掃描，識別缺陷位置與類型。電子束曝光的成功實踐離不開基底處理、熱管理和曝光策略的系統(tǒng)優(yōu)化。廣州光掩模電子束曝光廠商
電子束曝光是高溫超導材料磁通釘扎納米結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵構(gòu)造手段。深圳T型柵電子束曝光廠商
針對電子束曝光在異質(zhì)結(jié)器件制備中的應用，科研團隊研究了不同材料界面處的圖形轉(zhuǎn)移規(guī)律。異質(zhì)結(jié)器件的多層材料可能具有不同的刻蝕選擇性，團隊通過電子束曝光在頂層材料上制備圖形，再通過分步刻蝕工藝將圖形轉(zhuǎn)移到下層不同材料中，研究刻蝕時間與氣體比例對跨材料圖形一致性的影響。在氮化物 / 硅異質(zhì)結(jié)器件的制備中，優(yōu)化后的工藝使不同材料層的圖形線寬偏差控制在較小范圍內(nèi)，保證了器件的電學性能?？蒲袌F隊在電子束曝光設備的國產(chǎn)化適配方面進行了探索。為降低對進口設備的依賴，團隊與國內(nèi)設備廠商合作，測試國產(chǎn)電子束曝光系統(tǒng)的性能參數(shù)，針對第三代半導體材料的需求提出改進建議。通過調(diào)整設備的控制軟件與硬件參數(shù)，使國產(chǎn)設備在 6 英寸晶圓上的曝光精度達到實用要求，與進口設備的差距縮小了一定比例。深圳T型柵電子束曝光廠商
