河南半導(dǎo)體測封YMS

晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因，是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后，依據(jù)晶圓空間坐標(biāo)對缺陷進行分類，生成色彩漸變的熱力圖，直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷密度差異。用戶可對比不同批次在同一區(qū)域的表現(xiàn)，識別是否為光刻對焦偏差或刻蝕均勻性問題所致。疊加時間維度后，還能判斷該現(xiàn)象是偶發(fā)異常還是系統(tǒng)性漂移。這種空間+時間的雙維分析，使優(yōu)化措施從“整體調(diào)整”轉(zhuǎn)向“精確干預(yù)”，明顯提升工藝調(diào)試效率。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實際需求，將YMS打造為缺陷定位的可視化利器。從產(chǎn)線實時監(jiān)控到管理層決策看板，YMS分層輸出數(shù)據(jù)，滿足差異化需求。河南半導(dǎo)體測封YMS

當(dāng)測試工程師面對來自ETS88、J750、93k等多臺設(shè)備輸出的stdf、log、jdf等格式混雜的原始數(shù)據(jù)時，傳統(tǒng)人工清洗往往需耗費數(shù)小時核對字段、剔除重復(fù)記錄。YMS系統(tǒng)通過自動解析引擎識別各類數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，檢測重復(fù)性與缺失性，并過濾異常值，將清洗過程壓縮至分鐘級。清洗后的數(shù)據(jù)統(tǒng)一歸入標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，確保后續(xù)分析基于一致、干凈的數(shù)據(jù)源。工程師不再陷于繁瑣整理，而是聚焦于缺陷模式識別與工藝優(yōu)化建議。這種自動化處理不僅提升效率，更消除人為疏漏帶來的分析偏差。上海偉諾信息科技有限公司將數(shù)據(jù)清洗作為YMS的基礎(chǔ)能力，支撐客戶實現(xiàn)高效、可靠的良率管理。浙江半導(dǎo)體YMS解決方案YMS通過熱力圖直觀呈現(xiàn)晶圓邊緣與中心的良率差異，關(guān)鍵問題一眼看清。

面對海量測試數(shù)據(jù)，表格形式難以快速捕捉異常模式。YMS系統(tǒng)將良率與缺陷信息轉(zhuǎn)化為熱力圖、趨勢曲線、散點圖等多種可視化圖表：晶圓熱力圖一眼識別高缺陷區(qū)域，時間序列圖揭示良率波動周期，參數(shù)散點圖暴露非線性關(guān)聯(lián)關(guān)系。例如，通過CP漏電與FT功能失效的散點分布，可判斷是否存在特定電壓下的共性失效機制。圖形化表達降低數(shù)據(jù)分析門檻，使非數(shù)據(jù)專業(yè)人員也能參與質(zhì)量討論。這種“所見即所得”的洞察方式，加速了從數(shù)據(jù)到行動的轉(zhuǎn)化。上海偉諾信息科技有限公司以可視化為關(guān)鍵設(shè)計原則，提升YMS的信息傳達效率與決策支持價值。

每周一上午趕制良率周報曾是質(zhì)量團隊的固定負擔(dān)：手動匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式，耗時且易出錯。YMS內(nèi)置報表模板可按日、周、月自動生成結(jié)構(gòu)化報告，內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時間趨勢等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營會議，客戶審計接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔，工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報表制作時間從數(shù)小時降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表功能，推動企業(yè)決策從“經(jīng)驗驅(qū)動”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動”轉(zhuǎn)型。YMS構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)資產(chǎn)池，統(tǒng)一管理多項目測試數(shù)據(jù)，輕松支撐跨項目良率對比分析。

面對國產(chǎn)半導(dǎo)體制造對自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測試數(shù)據(jù)，通過內(nèi)置算法識別重復(fù)項、缺失值并過濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支撐下，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝波動點。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制，強化了過程質(zhì)量防線。靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，專注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng)，助力構(gòu)建中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)，YMS交叉分析快速定位良率驟降根源，排查效率翻倍。浙江半導(dǎo)體YMS解決方案

從測試數(shù)據(jù)采集到良率決策輸出，YMS搭建端到端閉環(huán)，管理更高效。河南半導(dǎo)體測封YMS

YMS（良率管理系統(tǒng)）的本質(zhì)是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為精確的質(zhì)量決策依據(jù)。系統(tǒng)兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester設(shè)備，自動解析stdf、csv、log、jdf等多種格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理。在此基礎(chǔ)上，通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫實現(xiàn)時間序列追蹤與晶圓區(qū)域?qū)Ρ龋绨l(fā)現(xiàn)某批次中心區(qū)域缺陷密度突增，可聯(lián)動WAT參數(shù)判斷是否為離子注入劑量漂移所致。SYL與SBL的自動計算功能為良率目標(biāo)達成提供量化基準(zhǔn)，而靈活報表工具支持一鍵導(dǎo)出PPT、Excel或PDF格式報告，減少手工整理負擔(dān)。這種從原始數(shù)據(jù)到管理行動的無縫銜接，極大提升了質(zhì)量團隊的工作效能。上海偉諾信息科技有限公司專注于半導(dǎo)體行業(yè)軟件研發(fā)，確保YMS功能緊貼實際生產(chǎn)需求。河南半導(dǎo)體測封YMS

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個不斷銳意進取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！