面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流,傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時,還易引入人為錯誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術,自動校驗字段一致性,對缺失或錯位字段進行邏輯補全或標記,確保每條記錄結(jié)構(gòu)完...
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在高頻測試場景下,重復提交或設備通信中斷常導致數(shù)據(jù)冗余或缺失,直接影響良率計算準確性。YMS系統(tǒng)通過時間戳、測試編號、晶圓ID等關鍵字段自動掃描數(shù)據(jù)集,識別完全重復或部分重疊的記錄,并予以合并或剔除;...
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當封測廠同時部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時,每臺設備輸出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差異常導致數(shù)據(jù)接入困難。YMS內(nèi)置多協(xié)...
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在智能制造轉(zhuǎn)型背景下,YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具,更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結(jié)果,自動完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合,消除信息孤島。標準化...
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國產(chǎn)良率管理系統(tǒng)的價值在于將碎片化測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為可執(zhí)行的工藝洞察。YMS系統(tǒng)自動對接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等主流設備,處理十余種...
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在半導體產(chǎn)品競爭日益激烈的現(xiàn)在,產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性已成為企業(yè)立足市場的根本。任何一次大規(guī)模的測試失誤或延遲的風險預警,都可能導致交付延期甚至客戶流失。上海偉諾TMS系統(tǒng)通過多重機制筑牢質(zhì)量防線:首先,自...
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隨著半導體工藝的演進與測試需求的不斷增加,測試數(shù)據(jù)量正以指數(shù)級速度增長,傳統(tǒng)系統(tǒng)架構(gòu)面臨存儲、計算與響應速度的多重瓶頸?,F(xiàn)代測試管理系統(tǒng)采用分布式、模塊化與云就緒的架構(gòu)設計,能夠靈活擴展以應對TB級甚...
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面對新產(chǎn)品導入周期不斷縮短的壓力,碎片化的管理模式已無法滿足快速迭代的需求。一個集成了APQP項目管理和測試異常反饋閉環(huán)的系統(tǒng),能夠大幅提升跨部門的協(xié)同效率。從測試程序的發(fā)布、執(zhí)行到數(shù)據(jù)采集與問題處理...
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良率異常若依賴人工逐項排查,常需跨多個系統(tǒng)比對數(shù)據(jù),耗時且易遺漏關鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果,構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫,并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀...
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當封測廠同時運行ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余種Tester設備時,不同平臺輸出的stdf、csv、log、jdf、spd、txt等格式數(shù)據(jù)往往難以統(tǒng)一處理。YMS系...
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在半導體工廠高頻率、多設備并行的測試環(huán)境中,人工處理異構(gòu)數(shù)據(jù)極易延誤問題響應。YMS系統(tǒng)通過自動化流程,實時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設備的多格式原始數(shù)據(jù),完...
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晶圓邊緣區(qū)域良率持續(xù)偏低卻難以定位原因,是工藝工程師常見的痛點。YMS系統(tǒng)在完成stdf、log等原始數(shù)據(jù)清洗后,依據(jù)晶圓空間坐標對缺陷進行分類,生成色彩漸變的熱力圖,直觀呈現(xiàn)中心、過渡區(qū)與邊緣的缺陷...
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