中國澳門可視化PAT

在智能制造轉型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實時匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺的測試結果，自動完成結構化清洗與整合，消除信息孤島。標準化數(shù)據(jù)庫支持動態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識別某機臺連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設備校準預警。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報表引擎支持按產品線、客戶或班次生成定制化報告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預—反饋”的閉環(huán)機制，明顯提升了生產過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。Mapping Over Ink處理提升產品市場競爭力，降低客戶投訴率。中國澳門可視化PAT

芯片制造過程中，良率波動若不能及時識別，可能導致整批產品報廢。YMS系統(tǒng)通過自動采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平臺輸出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式測試數(shù)據(jù)，完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。標準化數(shù)據(jù)庫支持從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域對比缺陷分布，快速定位工藝異常點。結合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，可區(qū)分是設計問題還是制程偏差，大幅縮短根因排查周期。SYL與SBL的自動計算與卡控機制嵌入關鍵控制節(jié)點，實現(xiàn)預防性質量干預。靈活報表工具按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF，提升跨部門決策效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)優(yōu)化YMS系統(tǒng)，助力芯片制造企業(yè)構建自主可控的質量管理能力。四川自動化PAT系統(tǒng)定制Mapping Inkless實現(xiàn)無物理噴墨的邏輯剔除，避免傳統(tǒng)標記對先進封裝的干擾。

在半導體工廠高頻率、多設備并行的測試環(huán)境中，人工處理異構數(shù)據(jù)極易延誤問題響應。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，實時匯聚來自STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等設備的多格式原始數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與清洗，消除因格式差異導致的信息斷層。結構化的數(shù)據(jù)庫使良率數(shù)據(jù)可追溯、可比對，支持從批次到晶圓級別的精細監(jiān)控。當某一批次良率驟降時，系統(tǒng)可迅速調取對應區(qū)域的缺陷熱力圖，并關聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，輔助工程師在數(shù)小時內鎖定根本原因。SYL/SBL卡控功能則在指標超限時自動預警，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。周期性報表一鍵生成并支持多格式導出，滿足從產線到高管的差異化信息需求。上海偉諾信息科技有限公司憑借對封測與制造場景的深入理解，持續(xù)優(yōu)化YMS的數(shù)據(jù)驅動能力。

面對市場上良率管理系統(tǒng)供應商良莠不齊的局面，技術自主性與行業(yè)適配能力成為選型主要標準。真正有效的系統(tǒng)需同時支持多品牌Tester設備、處理異構數(shù)據(jù)格式，并具備深度分析與可視化能力。YMS系統(tǒng)已集成ETS364、SineTest、ASL1000、MS7000、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等設備的數(shù)據(jù)接口，覆蓋stdf、csv、log等十余種格式，實現(xiàn)一次接入、全域兼容。其分析引擎不僅支持時間趨勢與晶圓區(qū)域對比，還能關聯(lián)WAT、CP、FT參數(shù)變化，精確定位根因。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實施與服務體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個環(huán)節(jié)穩(wěn)定可控。這種軟硬協(xié)同的能力，使YMS在國產替代進程中脫穎而出。上海偉諾信息科技有限公司依托多年項目經驗，持續(xù)驗證其作為可靠供應商的技術實力與服務承諾。Mapping Over Ink處理系統(tǒng)在質量事件發(fā)生時自動觸發(fā)設備維護工單，實現(xiàn)預防性維護。

在半導體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動，都可能引起良率與可靠性的風險。其中，一個尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當Reticle本身存在污染、劃傷或設計瑕疵時，或當光刻機在步進重復曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準、曝光能量不均）時。這些因Reticle問題而產生的特定區(qū)域內的芯片，實質上構成了一個高風險的“潛伏失效群體”。若不能在測試階段被精確識別并剔除，將直接流向客戶端，對產品的長期可靠性與品牌聲譽構成嚴重威脅。識別并處理這類與Reticle強相關的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質量管理中一項極具挑戰(zhàn)性的關鍵任務。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個Shot Mapping Ink方案，可以將整個Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設定的算法將整個Shot進行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠將質量管控的關口從“篩查單個失效芯片”前移至“攔截整個失效風險區(qū)域”。這尤其適用于對可靠性要求極嚴苛的車規(guī)、工規(guī)等產品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導致的批次性可靠性風險，為客戶構建起一道應對系統(tǒng)性缺陷的堅固防線。 Mapping Over Ink處理明顯降低早期失效率，減少封裝環(huán)節(jié)的潛在失效風險。四川自動化PAT系統(tǒng)定制

Mapping Over Ink處理算法模型覆蓋連續(xù)性、孤立型等多種失效模式，提升識別全面性。中國澳門可視化PAT

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設備，實時匯聚原始測試結果并完成結構化清洗，消除人工干預帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當某批次CP良率異常時，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報表自動生成并支持多格式導出，滿足從產線到高管的信息消費習慣。這種深度可視化與智能關聯(lián)分析能力，使良率管理從經驗驅動轉向數(shù)據(jù)驅動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質增效的有效工具。中國澳門可視化PAT

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及**，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結果，這些評價對我們而言是比較好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產品，我們將以更好的狀態(tài)，更認真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！