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良率波動若不能及時(shí)干預(yù)，可能造成數(shù)百萬級的產(chǎn)能損失。YMS系統(tǒng)通過自動化流程，即時(shí)采集并清洗來自多種測試平臺的異構(gòu)數(shù)據(jù)，構(gòu)建高可信度分析基礎(chǔ)。系統(tǒng)支持從宏觀趨勢到微觀缺陷的穿透式分析，例如將某產(chǎn)品月度良率下降與特定封裝線關(guān)聯(lián)，并結(jié)合FT參數(shù)驗(yàn)證是否為打線偏移導(dǎo)致。SYL/SBL卡控機(jī)制設(shè)置動態(tài)閾值，在指標(biāo)異常時(shí)自動預(yù)警，實(shí)現(xiàn)前置質(zhì)量管控。多周期報(bào)表自動生成并支持多格式導(dǎo)出，使管理層能基于一致數(shù)據(jù)源快速決策。這種“實(shí)時(shí)感知—智能歸因—主動干預(yù)”的能力，將良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動升級為數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的可靠性與實(shí)用性。Mapping Over Ink處理明顯降低早期失效率，減少封裝環(huán)節(jié)的潛在失效風(fēng)險(xiǎn)。內(nèi)蒙古MappingOverInk處理服務(wù)

晶圓級良率監(jiān)控要求系統(tǒng)能處理高密度、高維度的測試數(shù)據(jù)流。YMS方案自動對接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等設(shè)備，實(shí)時(shí)匯聚原始測試結(jié)果并完成結(jié)構(gòu)化清洗，消除人工干預(yù)帶來的延遲與誤差。系統(tǒng)以圖表形式直觀呈現(xiàn)晶圓熱力圖，清晰展示邊緣、中心或象限區(qū)域的良率差異，輔助工程師判斷光刻、刻蝕或沉積環(huán)節(jié)的均勻性問題。當(dāng)某批次CP良率異常時(shí)，可聯(lián)動WAT參數(shù)變化追溯前道工藝漂移，實(shí)現(xiàn)從前端到后端的全鏈路追溯。多周期報(bào)表自動生成并支持多格式導(dǎo)出，滿足從產(chǎn)線到高管的信息消費(fèi)習(xí)慣。這種深度可視化與智能關(guān)聯(lián)分析能力，使良率管理從經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導(dǎo)體制造流程的理解，將YMS打造為晶圓廠提質(zhì)增效的有效工具。山西半導(dǎo)體PAT工具失效Die的空間分布特征是判斷工藝問題的關(guān)鍵依據(jù)，指導(dǎo)制程參數(shù)優(yōu)化。

面對stdf、log、jdf等格式混雜的測試數(shù)據(jù)流，傳統(tǒng)手工轉(zhuǎn)換不僅耗時(shí)，還易引入人為錯(cuò)誤。YMS系統(tǒng)采用智能解析與清洗技術(shù)，自動校驗(yàn)字段一致性，對缺失或錯(cuò)位字段進(jìn)行邏輯補(bǔ)全或標(biāo)記，確保每條記錄結(jié)構(gòu)完整。系統(tǒng)支持批量歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)入與實(shí)時(shí)測試流同步處理，無論數(shù)據(jù)來自ASL1000還是TR6850，均能統(tǒng)一轉(zhuǎn)化為可用于分析的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集。在此基礎(chǔ)上，異常值被自動過濾，重復(fù)記錄被精確剔除，明顯提升數(shù)據(jù)可信度。這種端到端的自動化處理機(jī)制，使工程師無需再耗費(fèi)數(shù)小時(shí)整理原始文件，而是直接聚焦于根因分析。上海偉諾信息科技有限公司基于半導(dǎo)體制造的實(shí)際數(shù)據(jù)特征，構(gòu)建了這一高效可靠的數(shù)據(jù)預(yù)處理體系。

良率波動若只憑單點(diǎn)數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時(shí)間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當(dāng)某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時(shí)，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設(shè)備維護(hù)記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時(shí)級波動以優(yōu)化機(jī)臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預(yù)從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預(yù)警。結(jié)合靈活報(bào)表工具，時(shí)間維度分析結(jié)果可一鍵導(dǎo)出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報(bào)。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時(shí)間序列分析功能，助力客戶實(shí)現(xiàn)精細(xì)化過程管控。GDBC聚類結(jié)果支持根因快速定位，加速工藝問題解決效率。

半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項(xiàng)目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實(shí)現(xiàn)時(shí)間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治?，還能通過WAT參數(shù)漂移預(yù)警潛在設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計(jì)算功能，為良率目標(biāo)達(dá)成提供量化依據(jù)；靈活報(bào)表引擎則支持按項(xiàng)目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報(bào)場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應(yīng)轉(zhuǎn)向主動預(yù)防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準(zhǔn)則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。PAT模塊通過統(tǒng)計(jì)方法識別電性參數(shù)異常但功能Pass的單元，剔除隱性風(fēng)險(xiǎn)芯片。浙江Mapping Inkless解決方案

Mapping Over Ink處理兼容主流Probe設(shè)備數(shù)據(jù)格式，支持跨平臺數(shù)據(jù)無縫對接。內(nèi)蒙古MappingOverInk處理服務(wù)

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時(shí)，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。內(nèi)蒙古MappingOverInk處理服務(wù)

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù)，信奉著“爭取每一個(gè)客戶不容易，失去每一個(gè)用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，**協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點(diǎn)燃新的希望，放飛新的夢想！