四川自動(dòng)化PAT服務(wù)商

在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時(shí)，YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解決方案。系統(tǒng)自動(dòng)對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺(tái)，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數(shù)據(jù)，并完成重復(fù)性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎(chǔ)可靠。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制強(qiáng)化了過程質(zhì)量防線，而靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日報(bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)打磨YMS系統(tǒng)，助力客戶構(gòu)建自主可控的良率管理能力。Mapping Over Ink處理助力國產(chǎn)軟件生態(tài)建設(shè)，推動(dòng)技術(shù)自主可控。四川自動(dòng)化PAT服務(wù)商

當(dāng)CP良率驟降而FT失敗模式復(fù)雜時(shí)，只靠單一測試階段數(shù)據(jù)難以歸因。YMS系統(tǒng)將WAT、CP與FT參數(shù)統(tǒng)一納入分析框架，建立跨階段關(guān)聯(lián)模型。例如，若某批次WAT中柵氧擊穿電壓偏移，同時(shí)CP漏電流異常升高，YMS可自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者趨勢，提示前道氧化工藝可能存在波動(dòng)。圖形化界面支持并排查看參數(shù)曲線與良率變化，快速鎖定關(guān)鍵影響因子，避免在封裝或測試環(huán)節(jié)盲目排查。這種端到端的根因分析能力，將問題診斷周期從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)，減少試產(chǎn)浪費(fèi)。上海偉諾信息科技有限公司通過深度整合多源測試數(shù)據(jù)，使YMS成為良率攻關(guān)的關(guān)鍵工具。福建晶圓Mapping Inkless軟件Mapping Over Ink處理系統(tǒng)輸出結(jié)構(gòu)化日志，完整記錄處理過程滿足質(zhì)量追溯需求。

每周一上午趕制良率周報(bào)曾是質(zhì)量團(tuán)隊(duì)的固定負(fù)擔(dān)：手動(dòng)匯總Excel、調(diào)整圖表、統(tǒng)一格式，耗時(shí)且易出錯(cuò)。YMS內(nèi)置報(bào)表模板可按日、周、月自動(dòng)生成結(jié)構(gòu)化報(bào)告，內(nèi)容涵蓋SYL/SBL卡控狀態(tài)、區(qū)域缺陷對比、時(shí)間趨勢等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF。管理層用PPT版直接用于經(jīng)營會(huì)議，客戶審計(jì)接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔，工程師則調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘。自動(dòng)化流程確保全公司使用同一數(shù)據(jù)口徑，避免信息互相影響。報(bào)表制作時(shí)間從數(shù)小時(shí)降至幾分鐘，釋放人力資源投入更高價(jià)值工作。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報(bào)表功能，推動(dòng)企業(yè)決策從“經(jīng)驗(yàn)驅(qū)動(dòng)”向“數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)”轉(zhuǎn)型。

為滿足日益嚴(yán)苛的車規(guī)與工規(guī)質(zhì)量要求，在晶圓測試階段引入三溫乃至多溫測試，已成為篩選高可靠性芯片的標(biāo)準(zhǔn)流程。這一測試旨在模擬芯片在極端環(huán)境下的工作狀態(tài)，通過高溫、常溫、低溫下的全面性能評估，有效剔除對環(huán)境敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品，從而大幅提升產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。因此，如何在海量的多溫測試數(shù)據(jù)中識別并剔除這些因溫度敏感性過高而存在潛在風(fēng)險(xiǎn)的芯片，已成為業(yè)內(nèi)高度關(guān)注并致力解決的關(guān)鍵課題。

為應(yīng)對車規(guī)、工規(guī)產(chǎn)品在多溫測試中面臨的參數(shù)漂移挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司憑借其深厚的技術(shù)積累，開發(fā)了一套專門用于多溫Drift分析的智能化處理方案。該方案的關(guān)鍵在于，超越傳統(tǒng)的、在各個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行孤立判定的測試模式，轉(zhuǎn)而通過對同一芯片在不同溫度下的參數(shù)表現(xiàn)進(jìn)行動(dòng)態(tài)追蹤與關(guān)聯(lián)性分析，從而精確識別并剔除那些對環(huán)境過度敏感、性能不穩(wěn)定的潛在缺陷品。 Mapping Over Ink處理提升車規(guī)級芯片的長期可靠性，滿足嚴(yán)苛環(huán)境要求。

芯片制造對良率控制的精度要求極高，YMS系統(tǒng)為此提供了從數(shù)據(jù)采集到根因分析的一站式解決方案。系統(tǒng)兼容多種測試平臺(tái)輸出的多格式文件，自動(dòng)完成數(shù)據(jù)清洗與整合，確保從晶圓到單顆芯片的全鏈路數(shù)據(jù)一致性。通過關(guān)聯(lián)WAT、CP、FT等階段的關(guān)鍵參數(shù)，系統(tǒng)可精確識別導(dǎo)致良率下降的工藝或設(shè)計(jì)問題，并以圖表形式展現(xiàn)芯片級缺陷分布與趨勢變化。靈活的報(bào)表引擎支持按周期自動(dòng)生成分析簡報(bào)，便于跨部門協(xié)同與持續(xù)改進(jìn)。這種精細(xì)化的數(shù)據(jù)治理能力，使企業(yè)在激烈競爭中保持質(zhì)量優(yōu)勢。上海偉諾信息科技有限公司致力于用專業(yè)軟件能力賦能中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，其YMS系統(tǒng)已成為多家客戶提升產(chǎn)品競爭力的重要工具。失效Die的空間分布特征是判斷工藝問題的關(guān)鍵依據(jù)，指導(dǎo)制程參數(shù)優(yōu)化。福建晶圓GDBC軟件

Mapping Over Ink處理算法組合可根據(jù)產(chǎn)品類型靈活配置，適配消費(fèi)級至前沿芯片需求。四川自動(dòng)化PAT服務(wù)商

在智能制造轉(zhuǎn)型背景下，YMS已不僅是數(shù)據(jù)分析工具，更是連接測試與工藝優(yōu)化的中樞系統(tǒng)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)匯聚來自ETS364、STS8107、93k等平臺(tái)的測試結(jié)果，自動(dòng)完成結(jié)構(gòu)化清洗與整合，消除信息孤島。標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫支持動(dòng)態(tài)監(jiān)控良率變化，例如識別某機(jī)臺(tái)連續(xù)三批邊緣區(qū)域良率偏低，觸發(fā)設(shè)備校準(zhǔn)預(yù)警。SYL/SBL卡控功能則在指標(biāo)超限時(shí)自動(dòng)攔截異常批次，防止不良品流入下一環(huán)節(jié)。報(bào)表引擎支持按產(chǎn)品線、客戶或班次生成定制化報(bào)告，適配不同管理層的信息需求。這種“采集—分析—干預(yù)—反饋”的閉環(huán)機(jī)制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應(yīng)速度。上海偉諾信息科技有限公司以打造中國半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，持續(xù)完善YMS的集成能力。四川自動(dòng)化PAT服務(wù)商

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場，我們一直在路上！